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標(biāo)簽 > 測(cè)試系統(tǒng)
《測(cè)試系統(tǒng)》對(duì)機(jī)電液測(cè)試及應(yīng)用技術(shù)進(jìn)行了介紹。首先介紹了機(jī)電測(cè)試系統(tǒng)中常用傳感器應(yīng)用接口電路設(shè)計(jì)。介紹了測(cè)試數(shù)據(jù)在與微機(jī)系統(tǒng)傳輸過(guò)程中的模擬量輸入輸出通道結(jié)構(gòu)與常用芯片接口,并舉例說(shuō)明了多路巡回檢測(cè)數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)。
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S500自動(dòng)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)的功能特點(diǎn)及適用范圍
S500自動(dòng)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)基于吉時(shí)利公司的高性能源表及電測(cè)技術(shù),可完成各種直流、交流信號(hào)測(cè)試,可廣泛用于半導(dǎo)體工藝制程的過(guò)程監(jiān)控、重復(fù)性監(jiān)控及器件檢測(cè)領(lǐng)域...
2020-11-29 標(biāo)簽:半導(dǎo)體監(jiān)控測(cè)試系統(tǒng) 1208 0
2700系列數(shù)據(jù)采集/多路綜合測(cè)試系統(tǒng)的主要特點(diǎn)及應(yīng)用優(yōu)勢(shì)
2700系列數(shù)據(jù)采集/多路綜合測(cè)試系統(tǒng)(2700,2701和2750)將精密測(cè)量、程控開(kāi)關(guān)和控制功能集成在一個(gè)緊湊的機(jī)箱內(nèi),可用于機(jī)架裝配或測(cè)試臺(tái)類(lèi)的應(yīng)...
2020-11-29 標(biāo)簽:數(shù)據(jù)采集測(cè)試系統(tǒng)自動(dòng)化 781 0
基于LabVIEW6i中的DataSocket控件實(shí)現(xiàn)網(wǎng)絡(luò)化自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)
計(jì)算機(jī)硬件和軟件的滲入給傳統(tǒng)測(cè)試技術(shù)帶來(lái)了新的革命,在計(jì)算機(jī)、微電子、傳感器、通信和網(wǎng)絡(luò)等技術(shù)不斷進(jìn)步的有力支撐和多領(lǐng)域科研需求的激勵(lì)下,明顯地表現(xiàn)出與...
2020-11-10 標(biāo)簽:計(jì)算機(jī)虛擬儀器測(cè)試系統(tǒng) 2975 0
多總線(xiàn)融合測(cè)試系統(tǒng)的架構(gòu)和實(shí)現(xiàn)方案研究
以L(fǎng)XI為基礎(chǔ)組建的測(cè)試系統(tǒng)能夠較好地滿(mǎn)足多總線(xiàn)融合的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)構(gòu)建需求,系統(tǒng)結(jié)構(gòu)框圖如圖1所示。LXI(LANeXtension for Instr...
2020-10-30 標(biāo)簽:測(cè)試系統(tǒng)局域網(wǎng)總線(xiàn) 1640 0
確好芯片KGD的工藝流程、應(yīng)用范圍和發(fā)展分析
為適應(yīng)摩爾定律的突飛猛進(jìn),微電子封裝技術(shù)日新月異,高密度先進(jìn)封裝技術(shù)中的多芯片封裝MCP、系統(tǒng)級(jí)封裝SIP或SOP、多芯片組件MCM、板上芯片COB、芯...
2020-10-29 標(biāo)簽:芯片sip測(cè)試系統(tǒng) 2.4萬(wàn) 0
吉時(shí)利2450型觸摸屏數(shù)字源表的性能特點(diǎn)及應(yīng)用優(yōu)勢(shì)
電容-電壓(C-V)測(cè)量廣泛用于測(cè)量半導(dǎo)體參數(shù),尤其是MOS CAP和MOSFET結(jié)構(gòu),C-V 測(cè)試可以方便的確定二氧化硅層厚度dox、襯底摻雜濃度N、...
2020-10-29 標(biāo)簽:半導(dǎo)體觸摸屏測(cè)試系統(tǒng) 2480 0
NSAT-2000電子元器件自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的特點(diǎn)與應(yīng)用分析
電子元器件是電子元件和小型的機(jī)器、儀器的組成部分,其本身常由若干零件構(gòu)成,可以在同類(lèi)產(chǎn)品中通用;常指電器、無(wú)線(xiàn)電、儀表等工業(yè)的某些零件,是電容、晶體管、...
2020-10-22 標(biāo)簽:電子元器件電位器測(cè)試系統(tǒng) 839 0
LCR自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)解決方案的使用方法和應(yīng)用分析
LCR表中:L指的是電感,C指的是電容,R指的是電阻,顧名思義是用于測(cè)量電器元器件本證參數(shù)的專(zhuān)用測(cè)量工具。LCR表不能測(cè)量其他的,而且需在電路斷電情況下...
2020-10-20 標(biāo)簽:元器件測(cè)試系統(tǒng)測(cè)量 1818 0
高精度庫(kù)倫效率測(cè)試系統(tǒng)的特點(diǎn)功能和結(jié)構(gòu)分析
電池?zé)o法完全消除老化,但更長(zhǎng)的電池壽命意味著更緩慢的電池衰減,電動(dòng)車(chē)用戶(hù)可以降低更換電池的頻率,使電動(dòng)車(chē)的使用成本大幅度降低。但傳統(tǒng)方法評(píng)估電池壽命,需...
2020-10-13 標(biāo)簽:電阻測(cè)試系統(tǒng)電池 8642 0
采用NSAT-9000-17電池充放電自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)對(duì)電池性能進(jìn)行評(píng)估
隨著鋰電池在移動(dòng)通訊和電子電器等領(lǐng)域的廣泛運(yùn)用,電池安全、廢舊電池的環(huán)境污染、電池再循環(huán)利用的穩(wěn)定性事故也頻頻爆光。對(duì)于很多電子生產(chǎn)企業(yè)、電池利舊使用和...
2020-10-11 標(biāo)簽:測(cè)試系統(tǒng)電池 945 0
基于MCC溫度采集卡USB-TEMP的溫度測(cè)試系統(tǒng)的研究
常用的溫度傳感器分為熱電偶(Thermocouple),熱敏電阻(Thermistor),熱電阻(RTD),半導(dǎo)體式溫度傳感器(Semiconducto...
2020-09-15 標(biāo)簽:熱電偶溫度傳感器測(cè)試系統(tǒng) 1533 0
利用STM32F103ZET6和AD9852DDS實(shí)現(xiàn)信號(hào)源的設(shè)計(jì)
針對(duì)π網(wǎng)絡(luò)石英晶體參數(shù)測(cè)試系統(tǒng),采用以STM32F103ZET6型ARM為MCU控制DDS產(chǎn)生激勵(lì)信號(hào)。該測(cè)試系統(tǒng)相對(duì)于傳統(tǒng)的PC機(jī)測(cè)試系統(tǒng)具有設(shè)備簡(jiǎn)單...
2020-09-10 標(biāo)簽:信號(hào)源電感測(cè)試系統(tǒng) 3571 0
利用定制用戶(hù)界面或測(cè)試自動(dòng)化功能簡(jiǎn)化示波器的操作過(guò)程
現(xiàn)在的數(shù)字示波器都能提供令人印象深刻的采集、測(cè)量和分析工具套件給工程師和技術(shù)人員開(kāi)展測(cè)試。即使這樣,也存在你想要批量設(shè)置和自動(dòng)操作的情況,特別是對(duì)那些只...
2020-09-07 標(biāo)簽:控制器示波器測(cè)試系統(tǒng) 1028 0
如何高效利用五大工具輕松地實(shí)現(xiàn)數(shù)字萬(wàn)用表的編程測(cè)量
盡管數(shù)字萬(wàn)用表(DMM)已成為當(dāng)前眾多自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)中常見(jiàn)的儀器,但并不是所有DMM都是為了程序化處理和自動(dòng)化測(cè)試測(cè)量而設(shè)計(jì)的。NI DMM專(zhuān)為自動(dòng)化測(cè)...
2020-09-04 標(biāo)簽:數(shù)字萬(wàn)用表測(cè)試系統(tǒng)測(cè)量 1651 0
如何為自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)選擇電源?有哪些常見(jiàn)規(guī)范?
在購(gòu)買(mǎi)直流電源時(shí)首先要做出的決定是選擇線(xiàn)性電源還是開(kāi)關(guān)電源。線(xiàn)性電源具有較低的紋波和噪聲,并且具有快速的瞬態(tài)行為。但它們效率低,會(huì)產(chǎn)生大量熱量,而且很重...
2020-09-02 標(biāo)簽:電源測(cè)試系統(tǒng)自動(dòng)化 1924 0
基于Labview開(kāi)發(fā)平臺(tái)實(shí)現(xiàn)電磁閥動(dòng)態(tài)特性測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)
高速電磁閥可用于水、空氣和中性氣體以及其他與電磁閥材質(zhì)相適宜的氣體、液體的開(kāi)關(guān)控制,已廣泛應(yīng)用于航空、航天、汽車(chē)等領(lǐng)域,作為電-氣結(jié)合的紐帶,其動(dòng)態(tài)性能...
2020-08-31 標(biāo)簽:labview虛擬儀器測(cè)試系統(tǒng) 2329 0
基于LabVIEW開(kāi)發(fā)平臺(tái)實(shí)現(xiàn)多通道數(shù)據(jù)測(cè)試系統(tǒng)的應(yīng)用方案
在以往的測(cè)試系統(tǒng)中,一般采用引線(xiàn)式測(cè)試法實(shí)現(xiàn)信號(hào)的同步采集、顯示與分析,但在武器系統(tǒng)參數(shù)測(cè)試裝置所工作的高溫、高沖擊、高壓的惡劣環(huán)境中,引線(xiàn)式測(cè)試法布線(xiàn)...
2020-08-28 標(biāo)簽:labview虛擬儀器測(cè)試系統(tǒng) 1739 0
基于采用LabWindows/CVI虛擬儀器技術(shù)實(shí)現(xiàn)高度表測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)
高度表測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試對(duì)象是一部由鋸齒波信號(hào)調(diào)制的調(diào)頻連續(xù)波、恒定差拍自動(dòng)跟蹤式c波段的某型無(wú)線(xiàn)電高度表。該高度表由發(fā)射組合、接收組合、伺服輸出組合和收發(fā)鑒...
2020-08-28 標(biāo)簽:labview虛擬儀器測(cè)試系統(tǒng) 1097 0
基于測(cè)試管理環(huán)境TestStand的測(cè)試系統(tǒng)的應(yīng)用設(shè)計(jì)
隨著計(jì)算機(jī)技術(shù)、大規(guī)模集成電路技術(shù)和通訊技術(shù)的飛速發(fā)展,測(cè)試儀器技術(shù)領(lǐng)域發(fā)生了巨大的變化,虛擬測(cè)試儀器平臺(tái)也進(jìn)入了新的發(fā)展階段。美國(guó)國(guó)家儀器公司(Nat...
2020-08-27 標(biāo)簽:微軟labview測(cè)試系統(tǒng) 3103 0
基于LPC2138CPU芯片實(shí)現(xiàn)開(kāi)關(guān)壽命自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)
各種各樣的開(kāi)關(guān)電器被應(yīng)用在航空、航天、交通及一般工業(yè)或民用領(lǐng)域,比如微動(dòng)開(kāi)關(guān)、按鈕開(kāi)關(guān)、轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān)、電源開(kāi)關(guān)等。無(wú)論何種開(kāi)關(guān),都是常開(kāi)觸頭和常閉觸頭的組合...
2020-08-27 標(biāo)簽:芯片開(kāi)關(guān)測(cè)試系統(tǒng) 1547 1
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