系統(tǒng)電源循環(huán)通斷的測試儀研究

上電循環(huán)測試非常重要，因?yàn)樗鼫y試的是用戶環(huán)境。設(shè)計(jì)不良的系統(tǒng)板或芯片會(huì)造成上電循環(huán)測試失敗。此外，對(duì)系統(tǒng)板工作臺(tái)測試時(shí)，上電循環(huán)測試的設(shè)置可能需要采用沉...

2012-06-05 標(biāo)簽：測試儀系統(tǒng)電源上電循環(huán)測試 1182 0

建立在ARM基礎(chǔ)上的ADSL2+測試儀的設(shè)計(jì)

有測試儀表多為國外品牌且價(jià)格昂貴，國內(nèi)產(chǎn)品普遍存在測試頻段有限，測試結(jié)果片面的問題；而且由于核心芯片處理能力有限，嵌入式操作系統(tǒng)不先進(jìn)，軟件包功能不夠完...

2012-05-10 標(biāo)簽：測試儀ARMADSL 1017 0

判別端子的晶體管測試儀

　　圖1中的簡單晶體管測試儀可以判斷出晶體管的類型，并且能幫助檢測出晶體管的發(fā)射極、集電極和基極。其方法是檢查被測晶體管三個(gè)端子T1、T2和T3之間流過...

2012-03-28 標(biāo)簽：測試儀晶體管晶體管測試儀 2028 0

基于脈沖計(jì)數(shù)法的多量程電阻電容測試儀的設(shè)計(jì)

引言常用的測量電阻和電容的方法主要有純模擬電路法、PLC法。采用純模擬電路法設(shè)計(jì)電阻電容測試儀，可以避免編程的麻煩，但是電路復(fù)雜、靈活性差、測量精度低；...

2012-03-28 標(biāo)簽：測試儀脈沖計(jì)數(shù) 2236 0

紅外遙控器測試儀原理圖

本電路用于檢查一個(gè)紅外遙控器的基本操作的理想選擇。該電路是基于壓電蜂鳴器直接連接到一個(gè)紅外線接收器IC精辟簡單的想法。紅外遙控器 測試儀 原理圖:

2012-03-26 標(biāo)簽：測試儀紅外遙控器 7953 0

220V交流遙控測試儀電路

220V交流遙控 測試儀 電路材料BOM表： R1 = 100R-1/2W R2 = 47K R3 = 47K R4 = 100R-1/2W C1 = ...

2012-03-26 標(biāo)簽：測試儀220V 2827 0

三極管RBSOA測試儀的設(shè)計(jì)

本文基于三極管的反向偏壓安全工作區(qū)原理，設(shè)計(jì)研發(fā)了一款由電感誘導(dǎo)的三極管RBSOA測試儀。通過反向偏壓安全工作區(qū)判斷三極管的好壞，是一種全新的檢測方法。

2012-03-09 標(biāo)簽：三極管測試儀RBSOA 7109 0

MAX1582構(gòu)成的多功能導(dǎo)電能力測試儀電路

多功能導(dǎo)電能力測試儀電路由探測電極、電阻分壓器、緩沖電路和雙色二極管組成。

2012-02-21 標(biāo)簽：測試儀MAX1582 1466 0

巧用晶體管測試儀增加高壓包在路測量功能

如果要增加高壓包在路測量功能，將下圖中K為反壓測試按鈕VBR、Rl、Q1、Ll、L2組成自激振蕩電路，Dl、D2、D3與Cl、C2、C3、C4、C5、C...

2012-02-09 標(biāo)簽：測試儀晶體管高壓包 2420 0

光柱LED測試儀電路

該電路是由一個(gè)4.5伏電池供電并且與一個(gè)在測試的具有內(nèi)部參考的電池相比較，它由R1，R2和P1來設(shè)置。為了達(dá)到最佳效果，電池（DUT）應(yīng)裝入一個(gè)合適的電阻。

2011-12-26 標(biāo)簽：LED測試儀 3671 0

充電電池容量測試儀實(shí)現(xiàn)方案

電池容量是衡量電池質(zhì)量的重要指標(biāo)。充電電池的容量測試有很多的方法?？梢砸罁?jù)電池的放電曲線，進(jìn)行短時(shí)間放電，從而粗略得出電池容量。

2011-11-09 標(biāo)簽：測試儀 3959 0

發(fā)聲式連續(xù)性測試儀原理電路圖

當(dāng)兩個(gè)探針間存在連續(xù)性時(shí)，555振蕩器發(fā)出聲音，振蕩器的頻率由R1和C1的值確定。如圖所示為發(fā)聲式連續(xù)性 測試儀 電路:

2011-09-05 標(biāo)簽：測試儀 1387 0

基于89C55和FPGA的最小系統(tǒng)頻率特性測試儀

頻率特性是一個(gè)系統(tǒng)(或元件)對(duì)不同頻率輸入信號(hào)的響應(yīng)特性，是一個(gè)網(wǎng)絡(luò)最重要的特性之一。幅頻特性和相頻特性綜合稱為頻率特性。測量頻率的方法有點(diǎn)頻法和掃頻法...

2011-08-18 標(biāo)簽：FPGA測試儀頻率特性 2576 0

基于33CX201的可控硅快速測試儀電路圖

該測試儀由脈沖信號(hào)發(fā)生器、閉合導(dǎo)通環(huán)路、發(fā)光二極管、可控硅SCR等組成。插上可控硅SCR，當(dāng)按下按鈕AN后，在555輸出高電平時(shí)，發(fā)光二極管LED1、電...

2011-08-10 標(biāo)簽：測試儀可控硅33CX201 2853 1