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      電子發(fā)燒友網(wǎng)>電子資料下載>測(cè)試測(cè)量>Instrumented Indentation Testi

      Instrumented Indentation Testi

      2010-08-16 | rar | 214 | 次下載 | 2積分

      資料介紹

      Introduction
      The scale of materials and machined
      components continues to decrease
      with advances in technology making
      traditional test systems increasingly
      more dif? cult to use for determining
      mechanical properties. For this reason
      instrumented indentation testing (IIT) or
      depth sensing indentation (DSI) testing
      is becoming the technique of choice for
      determining mechanical properties of
      materials on the micro and nano scales.
      Based off of research by Sneddon,
      W.C. Oliver and G.M. Pharr published
      a landmark paper on IIT in 1992, which
      laid the foundation for much of the
      ongoing research and development
      in the ? elds of materials science and
      engineering. The instrument used for
      this seminal paper was the ? rst design
      of what has now become Agilent’s
      Nano Indenter G200.
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