隨著數(shù)字電路的規(guī)模和復(fù)雜性不斷增加，自動矢量生成技術(shù)己日益成為數(shù)字電路測試與診斷的瓶頸環(huán)節(jié)。本文主要討論了電路的測試及故障檢測的一些基本問題，并對數(shù)字電路測試生成的主要算法進(jìn)行了分析和比較。最后預(yù)測了測試矢量自動生成技術(shù)的發(fā)展趨勢。
數(shù)字電路測試與故障診斷包括四個步驟：建立故障字典、加載激勵、回收響應(yīng)和分離故障，即選擇激勵通道和響應(yīng)通道并建立激勵矢量和故障模式之間的映射關(guān)系，然后向被測對象施加激勵矢量，并采集其響應(yīng)矢量，最后通過故障字典來分離故障。故障字典先于實(shí)際測試而建立，并直接用于測試結(jié)束后的故障分析，包含了被測對象故障征兆的全部信息，是貫穿四個測試診斷步驟的關(guān)鍵數(shù)據(jù)。而故障字典對于故障圖樣分辨能力和覆蓋程度的優(yōu)劣，完全取決于測試激勵矢量的生成質(zhì)量，這就是數(shù)字電路測試矢量自動生成技術(shù)所要研究的中心問題。
自從1966年Armstrong提出一維通路敏化法以來，數(shù)字電路測試矢量自動生成理論的研究課題經(jīng)歷了一個從雛型到成熟、從理論到應(yīng)用、從實(shí)用到完備的發(fā)展歷程?？梢詮牟煌慕嵌葘Σ煌纳伤惴ㄟM(jìn)行劃分，如按時間跨度可分為傳統(tǒng)算法和現(xiàn)代算法；按其是否引入隨機(jī)策略可分為確定性方法和隨機(jī)性方法；按其使用的分析工具可分為代數(shù)方法和結(jié)構(gòu)性方法；而按其生成調(diào)度策略可分為串行算法和并行算法等。
本文主要介紹了布爾差分法、D算法系列、臨界路徑法以及G-F算法等，著重闡述其算法思想及其相互之間的性能比較，然后對現(xiàn)代ATPG理論中引入的新方法、新思路和前景等進(jìn)行了簡要的介紹。