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嵌入式存儲(chǔ)器內(nèi)建自測(cè)試的一種新型應(yīng)用
孫華義 鄭學(xué)仁 閭曉晨王頌輝吳焯焰 華南理工大學(xué)微電子研究所廣州 510640
摘要:當(dāng)今,嵌入式存儲(chǔ)器在SoC 芯片面積中所占的比例越來(lái)越大,成為SoC 芯片發(fā)展的一個(gè)顯著特點(diǎn)。由于本身單元密度很高,嵌入式存儲(chǔ)器比芯片上面的其它元件更容易造成硅片缺陷,成為影響芯片成品率的一個(gè)重要因素。本文對(duì)采用MARCH-C 算法的嵌入式存儲(chǔ)器內(nèi)建自測(cè)試進(jìn)行了改進(jìn),實(shí)現(xiàn)了對(duì)嵌入式存儲(chǔ)器故障的檢測(cè)和定位,能夠準(zhǔn)確判斷故障地址和故障類(lèi)型,使嵌入式存儲(chǔ)器故障修復(fù)更加快捷、準(zhǔn)確,同時(shí)達(dá)到故障覆蓋率高、測(cè)試時(shí)間短的目的。
關(guān)鍵字: SoC 嵌入式存儲(chǔ)器 MARCH 算法故障檢測(cè)
孫華義 鄭學(xué)仁 閭曉晨王頌輝吳焯焰 華南理工大學(xué)微電子研究所廣州 510640
摘要:當(dāng)今,嵌入式存儲(chǔ)器在SoC 芯片面積中所占的比例越來(lái)越大,成為SoC 芯片發(fā)展的一個(gè)顯著特點(diǎn)。由于本身單元密度很高,嵌入式存儲(chǔ)器比芯片上面的其它元件更容易造成硅片缺陷,成為影響芯片成品率的一個(gè)重要因素。本文對(duì)采用MARCH-C 算法的嵌入式存儲(chǔ)器內(nèi)建自測(cè)試進(jìn)行了改進(jìn),實(shí)現(xiàn)了對(duì)嵌入式存儲(chǔ)器故障的檢測(cè)和定位,能夠準(zhǔn)確判斷故障地址和故障類(lèi)型,使嵌入式存儲(chǔ)器故障修復(fù)更加快捷、準(zhǔn)確,同時(shí)達(dá)到故障覆蓋率高、測(cè)試時(shí)間短的目的。
關(guān)鍵字: SoC 嵌入式存儲(chǔ)器 MARCH 算法故障檢測(cè)
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