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場發(fā)射顯示器技術現況與發(fā)展

2008-11-01 | rar | 433 | 次下載 | 5積分

資料介紹

場發(fā)射顯示器技術現況與發(fā)展
場發(fā)射顯示器﹙FED, Field Emission Display﹚是藉由背面基板的
陰極放電,放出電子到前板的螢光層上激發(fā)螢光體發(fā)光。顯示器的特性
有自發(fā)光式薄型顯示器,消費電力較低,高亮度,廣視角,反應速度快
﹙μsec 等級﹚,動作溫度范圍大﹙-40~+80°C﹚以及耐環(huán)境性等。由於
發(fā)光原理最近於CRT﹙Cathode Ray Tube﹚,顯示性能也有接近CRT 所
呈現的等級,不過,FED 的開發(fā)歷史雖起於1950 年代,至今仍未實用
化,目前待解決的問題包括壽命﹙數千小時﹚提昇、可靠度、成本等方
面,如今雖有多項新技術的產生,但都面臨實用化的問題。但隨著新技
術的引進與突破,因此在平面顯示器領域中頗受期待。
場發(fā)射顯示器概述
FED 的發(fā)光方式與CRT 相異之處,在於CRT 是加熱陰極產生熱電
子,并利用電磁場控制電子偏向,在螢光幕上掃描定址,而FED 的電
子發(fā)出方式是平面狀,電子直接向前射出到對應的畫素(圖1)。FED 的
顯示技術可以將傳統(tǒng)bulk 形式的CRT 薄型化,因此有著thin CRT 的別
稱,在顯示器技術領域當中,因能保有CRT 的色彩表現,同時兼顧到
平面、薄型的新世代顯示器發(fā)展需求而受到矚目。
FED 的陰極與陽極間距在0.2~1mm,如此狹小的空間,考驗著電
子源到螢光面的穩(wěn)定性,device 的真空度也有嚴格的要求,因此真空技
術、微細加工技術,以及真空容器制造技術都是FED 的制程技術發(fā)展
課題。由於FED 是藉由電子放電激發(fā)螢光體發(fā)光,因此發(fā)射效率以及
均勻性便成了需要嚴格掌控的因子,此外,因為發(fā)光要藉由真空狀態(tài)中,
固體表面強電場放出電子,而發(fā)射體在FED 的重要性也就顯然可見,
其發(fā)展重點如下:
1.電子射出特性佳﹙低陰極電壓,高電流密度﹚
2.畫素間電流密度的均一性3.容易調節(jié)全彩階調信號所對應的電子束
4.使用過程的劣化程度低,電子供應安定
5.制造成本低,可以做大尺寸的畫面
場發(fā)射技術簡介
FED 依發(fā)射方式不同,可以如表1 中分類,目前的技術主流為Spindt
方式,Spindt 型的發(fā)射體(emitter)是圓錐狀的立體構造,新的技術是朝
向較簡單的平面構造,以因應低成本制程、大型化的需求,近年來較受
到注目的新技術則有表面?zhèn)鲗桐v SCE, Surface Conduction Electron
Emitter Display﹚、碳奈米管型﹙CNT,Carbon Nanotube﹚、彈道電子
面放出型﹙BSD,Ballistic electron Surface emitting Display﹚等。
Spindt 型
Spindt 型發(fā)射體是由美國SRI ﹙ Stanford Research Institute ﹚
International 的C.A. Spindt 等人開發(fā),這是FED 最早的構造設計方式﹙其
發(fā)射體陣列如圖2 所示﹚ , 後來法國研究機構LETI ﹙ Laboratoire
d’Electronique, de Technologie et d’Instrumentation﹚ 應用此發(fā)射體發(fā)表
了彩色FED,吸引了多方注目,90 年代初期全球有許多研究機構及顯
示器廠商投入研究開發(fā)的行列。LETI 最初發(fā)表的彩色FED 尺寸為六寸,
256*256 畫素,加400V 電壓可以達到300cd/m2 的亮度表現,壽命則
為5000 小時。雙葉電子有推出對角線18.2cm,陽極低電壓驅動方式﹙驅
動電壓200V﹚的單色FED,解析度為VGA,另外還有開發(fā)800V,表
現300 cd/m2 亮度的18cm、WIDE 全彩FED。高電壓驅動的全彩FED
則以Sony/Candescent 頗受矚目,利用數千伏驅動電壓,可以得到高亮
度表現,2001 年的SID 中,Candescent Tech 與SONY 發(fā)表了13.2 寸SVGA
的彩色FED,陽極電壓7000V,亮度達到800 cd/m2。
Spindt 型的圓錐狀發(fā)射體材料通常是用鉬﹙Mo﹚,直徑約在1μm,
發(fā)射體多排成一列一列,應用形式為FEA﹙Field Emitter Array﹚。Spindt
型的發(fā)射體是現今主流,由於歷經了30 多年的研究歷史,為完成度較
高的技術,投入廠商及研究機構紛紛進入實用階段,已經推出數寸~15
寸的FED 樣品。然而,Spindt-FED 的制造困難度較高,如高電壓型FED
在耐電壓方面,由於陰極與陽極之間的gap 在1mm 以上,需要有高aspect
比的支柱構造以穩(wěn)定最終顯示表現,維持放射電流的均一性才能集束電
子束,擁有高可靠度才可確保高耐電壓特性,如何面對低成本、大型化
的需求,都是產業(yè)發(fā)展的困難點。
具體來說,電子源FEA 的制作、成膜技術、蝕刻技術、復雜的微
細加工技術、高成本的制程,與array 制作過程的均一性、高真空度要
求,以及最終面板的assembly 都是FED 實用化待解決的課題。
SCE 型
SCE﹙又稱為SED,Surface Conduction Electron Emitter Display﹚
是由Canon 開發(fā)的技術,其結構如下圖所示,是由粒徑在5~10nm 的超
微細PdO﹙氧化鈀﹚粒子所形成的薄膜,在發(fā)射體電極間有極微細的gap
﹙nm 等級﹚,當外加電壓產生tunnel 效應時,電子放出并經由陽極的
引向而射向螢光板。
在Canon 的3.1 寸試作樣品中,陰極與陽極間距為2~5mm,pixel size
720*230μm,畫素數為80*80*3,加以6000V 的加速電壓可以達到640 cd
/m2 的高亮度。SCE 與Spindt 最大的不同處在於其平面構造,因此有
應用印刷技術的可能性,較可能達到低成本化,只是目前效率只有0.1
~0.2%,若朝大尺寸化發(fā)展,消耗電力會是很大的問題。
圖4 SCE 結構圖
BSD 型
BSD﹙Ballistic electron Surface emitting Display﹚是由松下電工
東京農工大學共同開發(fā),在陰極形成一多孔性的多晶矽層PPS﹙Porous
poly-Si﹚,當中有細的微結晶粒﹙直徑約5nm﹚,表面并有一薄的氧化
層。當在陰極與陽極間加電位差時,陰極電子注入PPS 層并進入多晶矽
的微結晶之間, 電子加速運動得到高能量而放出, 電子放出效率約為
1%。由於外加電壓集中在微結晶的氧化層表面, 在這薄層表面形成強
電場,電子得以加速射出,此現象即為「彈道電子傳導」。由於高能量
的電子是從陰極的垂直方向飛出,不需要作偏向調整,因此可以達到高
發(fā)光效率、高亮度、低消費電力﹙40 寸100W﹚的特點,且在制程方面
有著制作簡單、容易大型化、低成本的特色。
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