提出了一種基于自適應(yīng)陣列算法的天線方向圖校正技術(shù)。該方法對(duì)被測(cè)天線（AUT）在安靜區(qū)內(nèi)不同位置的天線方向圖進(jìn)行多次測(cè)量。校正后的天線方向圖是通過(guò)測(cè)量方向圖的加權(quán)平均得到的。采用陣列綜合算法求出AUT各轉(zhuǎn)角處的平均權(quán)值。重量專(zhuān)門(mén)針對(duì)特定AUT進(jìn)行調(diào)整。在310千兆赫基于全息圖的緊湊型天線測(cè)試范圍（CATR）中，采用合成天線和物理測(cè)試天線，演示了自適應(yīng)陣列校正技術(shù)。為了進(jìn)行驗(yàn)證，將自適應(yīng)陣列校正技術(shù)提供的精度與均勻加權(quán)技術(shù)提供的精度進(jìn)行了比較。

　　緊湊型天線測(cè)試范圍（CATR）的測(cè)量精度受到雜散信號(hào)水平的限制。雜散信號(hào)電平應(yīng)遠(yuǎn)低于被測(cè)天線的旁瓣電平（AUT），但采用天線方向圖校正技術(shù)可以降低這一要求。一種潛在的校正方法是天線模式比較（APC），APC最初是為估計(jì)天線測(cè)試范圍的反射率水平而開(kāi)發(fā)的，但也可用于模式校正。在APC方法中，天線方向圖在安靜區(qū)的不同位置被多次測(cè)量。通過(guò)結(jié)合測(cè)量的圖形，得到校正后的圖形。

　　已開(kāi)發(fā)出從APC數(shù)據(jù)中獲得校正模式的幾種方法。在虛擬陣列方法中，AUT的天線方向圖在安靜區(qū)的不同位置上測(cè)量?jī)纱?。天線在第一次測(cè)量期間保持在原位，而在第二次測(cè)量期間作為旋轉(zhuǎn)角度的函數(shù)移動(dòng)。對(duì)位移進(jìn)行調(diào)整，使得在每個(gè)旋轉(zhuǎn)角度處，測(cè)量點(diǎn)形成一個(gè)虛擬陣列，其陣列系數(shù)在所需平面波方向上有一個(gè)峰值，在主光束方向上有一個(gè)零。

　　范諾爾和沃庫(kù)卡介紹了一種他們稱(chēng)之為先進(jìn)或新型天線模式比較（napc）的方法。