資料介紹
應(yīng)用于FPGA的邊界掃描設(shè)計(jì)
蔣曉
(中國(guó)電子科技集團(tuán) 38 研究所,合肥230031)
摘要:針對(duì)在FPGA芯片中的應(yīng)用特點(diǎn),設(shè)計(jì)了一種邊界掃描電路,應(yīng)用于自行設(shè)計(jì)的FPGA新結(jié)構(gòu)之中。該電路側(cè)重于電路板級(jí)測(cè)試功能的實(shí)現(xiàn),兼顧芯片功能的測(cè)試;同時(shí),加入了器件編程功能。
關(guān)鍵詞:邊界掃描;現(xiàn)場(chǎng)可編程門(mén)陣列;可測(cè)試性設(shè)計(jì);器件編程
蔣曉
(中國(guó)電子科技集團(tuán) 38 研究所,合肥230031)
摘要:針對(duì)在FPGA芯片中的應(yīng)用特點(diǎn),設(shè)計(jì)了一種邊界掃描電路,應(yīng)用于自行設(shè)計(jì)的FPGA新結(jié)構(gòu)之中。該電路側(cè)重于電路板級(jí)測(cè)試功能的實(shí)現(xiàn),兼顧芯片功能的測(cè)試;同時(shí),加入了器件編程功能。
關(guān)鍵詞:邊界掃描;現(xiàn)場(chǎng)可編程門(mén)陣列;可測(cè)試性設(shè)計(jì);器件編程
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