一、概述 無(wú)線問(wèn)題導(dǎo)致丟包是影響VoLTE用戶感知的關(guān)鍵因素之一，大量丟包導(dǎo)致通話過(guò)程中出現(xiàn)吞字現(xiàn)象，直接影響客戶感知。隨著VoLTE業(yè)務(wù)的快速普及、VoLTE用戶數(shù)和業(yè)務(wù)量進(jìn)入了快速上漲期，為更加準(zhǔn)確找到全網(wǎng)VoLTE語(yǔ)音感知差點(diǎn)，現(xiàn)基于SEQ平臺(tái)與路測(cè)數(shù)據(jù)研究吞字與丟包率的關(guān)系。 語(yǔ)音通話主要分為2種狀態(tài)：通話期和靜默期。在通話期間隔20ms產(chǎn)生一個(gè)語(yǔ)音包，在靜默期，間隔160ms產(chǎn)生一個(gè)靜默包。語(yǔ)音包都是由終端產(chǎn)生。 二、研究方法 2.1、吞字?jǐn)?shù)據(jù)分析 數(shù)據(jù)來(lái)源：路測(cè) 測(cè)試線路：高鐵杭長(zhǎng)線 測(cè)試方式：MOS盒打分錄音，人工辨別吞字 2.1.1 吞字點(diǎn)和MOS對(duì)應(yīng)關(guān)系： 提取本次杭長(zhǎng)測(cè)試中所有吞字采樣點(diǎn)撒散點(diǎn)圖如下，可以看出取數(shù)的74個(gè)吞字點(diǎn)MOS分都在4分以下，MOS在4分以上沒(méi)有吞字。 2.1.2 吞字點(diǎn)丟包率及時(shí)延的關(guān)系： 探尋丟包和吞字感知的之間的聯(lián)系，通過(guò)吞字測(cè)試記錄吞字/卡頓時(shí)間點(diǎn)，結(jié)合測(cè)試用戶丟包分析，得出吞字點(diǎn)的MOS和丟包率和丟包時(shí)延之間的關(guān)系。 1、吞字點(diǎn)的MOS和丟包率的關(guān)系： 隨著丟包率的提升，MOS分下降明顯。丟包率在10%以內(nèi)，MOS分在3-4之間；當(dāng)吞字點(diǎn)的丟包率超過(guò)10%以上，MOS均小于3.5。 取采樣點(diǎn)吞字點(diǎn){丟包率在10%以內(nèi)，MOS＞3分}細(xì)化作圖，作出趨勢(shì)圖可以看出，當(dāng)丟包率超過(guò)3%時(shí)，MOS分低于3.5分。 2、吞字點(diǎn)MOS和丟包時(shí)延之間的關(guān)系： 可以看出MOS＞3.5分的時(shí)候，POLQA Avg Delay時(shí)延基本在200ms以內(nèi)，MOS＜3.5分的時(shí)候，POLQA Avg Delay時(shí)延在200ms以上。 2.1.3 大數(shù)據(jù)繪制丟包和MOS之間的關(guān)系： 根據(jù)鼎力MOS大量測(cè)試結(jié)果，得出每8秒鐘的MOS值和丟包率之間的關(guān)系，再通過(guò)MOS區(qū)間各取100個(gè)采樣點(diǎn)得出如下關(guān)系圖：