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電子發(fā)燒友網(wǎng)>今日頭條>高壓MOSFET的原理與性能的詳細分析

高壓MOSFET的原理與性能的詳細分析

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中的計數(shù)器模板遵循循序漸進的分析工作流。分析從高級工作負載分類開始,測量CPU、GPU和內(nèi)存帶寬使用情況。然后,對應(yīng)用程序渲染工作負載的詳細分析會審查應(yīng)用程序?qū)捎糜布Y源的使用效率。 對于模板中
2023-08-09 06:20:05

Mali-G51性能計數(shù)器參考指南

。分析從高級工作負載分類開始,測量CPU、GPU和內(nèi)存帶寬使用情況。然后,對應(yīng)用程序渲染工作負載的詳細分析會審查應(yīng)用程序?qū)捎糜布Y源的使用效率。 對于模板中的每個計數(shù)器,本指南將記錄計數(shù)器的含義,并提
2023-08-09 06:18:00

Mali-G77性能計數(shù)器參考指南

從高級工作負載分類開始,測量CPU、GPU和內(nèi)存帶寬使用情況。然后,對應(yīng)用程序渲染工作負載的詳細分析會審查應(yīng)用程序?qū)捎糜布Y源的使用效率。 對于模板中的每個計數(shù)器,本指南將記錄計數(shù)器的含義,并提
2023-08-09 06:17:49

Mali-G78性能計數(shù)器參考指南

。分析從高級工作負載分類開始,測量CPU、GPU和內(nèi)存帶寬使用情況。然后,對應(yīng)用程序渲染工作負載的詳細分析會審查應(yīng)用程序?qū)捎糜布Y源的使用效率。 對于模板中的每個計數(shù)器,本指南將記錄計數(shù)器的含義,并提
2023-08-09 06:16:16

Mali-G610性能計數(shù)器參考指南

。分析從高級工作負載分類開始,測量CPU、GPU和內(nèi)存帶寬使用情況。然后,對應(yīng)用程序渲染工作負載的詳細分析會審查應(yīng)用程序?qū)捎糜布Y源的使用效率。 對于模板中的每個計數(shù)器,本指南將記錄計數(shù)器的含義
2023-08-09 06:00:30

基于DWC2的USB驅(qū)動開發(fā)-UVC的相機終端詳解

本篇來詳細分析下UVC的相機終端相關(guān)的內(nèi)容,同樣的我們理論結(jié)合實踐來進行。
2023-07-13 09:46:291057

基于DWC2的USB驅(qū)動開發(fā)-UVC的處理單元詳解

本篇來詳細分析下UVC的處理單元相關(guān)的內(nèi)容,同樣的我們理論結(jié)合實踐來進行。
2023-07-13 09:42:301023

高壓放大器簡化MOSFET漏電測試

MOSFET是開關(guān)和汽車應(yīng)用中非常常見的元件,支持低壓或高壓擺幅,并具有寬范圍的電流驅(qū)動。高功率應(yīng)用的數(shù)量正在增加,從而產(chǎn)生了對功率MOSFET的額外需求。為了生產(chǎn)數(shù)量不斷增加的功率MOSFET
2023-06-30 11:26:16886

DC電源模塊低溫試驗檢測詳細分析

。因此,對DC電源模塊的低溫試驗檢測應(yīng)用較為廣泛。本文將從試驗環(huán)境、測試設(shè)備、試驗步驟、試驗評估等方面對DC電源模塊低溫試驗檢測進行詳細分析。
2023-06-29 10:56:49340

緩啟動電路實例分析與應(yīng)用

本文根據(jù)某產(chǎn)品單板電路測試過程的浪涌電流沖擊問題,詳細分析了MOS管緩啟動電路的RC參數(shù),通過分析和實際對電路參數(shù)的更改,使電路的浪涌電流沖擊滿足板上電源要求。
2023-06-26 10:24:101042

10N65L-ML高壓功率MOSFET規(guī)格書

UTC 10N65-ML是一款高壓功率MOSFET,它結(jié)合了先進的溝槽MOSFET,設(shè)計具有更好的特性,如快速開關(guān)時間、低柵極電荷、低導(dǎo)通狀態(tài)電阻和高崎嶇雪崩特性。這種功率MOSFET通常用于開關(guān)電源和適配器的高速開關(guān)應(yīng)用。?
2023-06-14 16:45:450

CMZ120R080APA1: 新一代高壓低電阻硅碳化物功率MOSFET

性能和多領(lǐng)域的應(yīng)用潛力引起了廣泛關(guān)注。本文將詳細介紹CMZ120R080APA1的特點、應(yīng)用以及關(guān)鍵性能參數(shù),展示其在高壓功率電子領(lǐng)域的新一代技術(shù)。 特點: CMZ120R080APA1具備以下幾個創(chuàng)新特點: 高速開關(guān)和低電容: CMZ120R080APA1采用先進的硅碳化物材料,具有快速開關(guān)特性和低電容設(shè)
2023-06-12 17:42:13317

高壓隔離探頭和高壓差分探頭有什么區(qū)別?

高壓探頭是指測量電氣設(shè)備中高電壓的電器設(shè)備,如變壓器、母線、發(fā)電機和高壓開關(guān)等。它主要用于測量電氣設(shè)備中的電場分布或電場梯度,以便分析電氣性能并識別故障。而在高壓探頭中,高壓隔離探頭和高壓差分探頭是兩種常見的類型。
2023-06-08 11:21:021106

SiC MOSFET模塊串擾問題及應(yīng)用對策

針對SiC MOSFET模塊應(yīng)用過程中出現(xiàn)的串擾問題,文章首先對3種測量差分探頭的參數(shù)和測 量波形進行對比,有效減小測量誤差;然后詳細分析串擾引起模塊柵源極出現(xiàn)電壓正向抬升和負向峰值過大 的原因
2023-06-05 10:14:211841

優(yōu)化SiC MOSFET的柵極驅(qū)動的方法

高壓開關(guān)電源應(yīng)用中,相較傳統(tǒng)的硅 MOSFET 和 IGBT,碳化硅(以下簡稱“SiC”)MOSFET 有明 顯的優(yōu)勢。
2023-05-26 09:52:33462

SVPWM控制技術(shù)的基本原理及Matlab/Simulink仿真分析

本章節(jié)首先介紹SVPWM控制技術(shù)的原理,然后詳細分析SVPWM控制算法的具體實現(xiàn)方式包括7段式SVPWM與5段式SVPWM算法,并通過Matlab/Simulink對SVPWM控制算法進行仿真分析,最后通過永磁同步電機矢量控制的實例進行算法應(yīng)用。
2023-05-24 11:10:303721

端子引腳焊接異常分析

PCBA端子引腳焊接發(fā)生異常,通過對PCBA基板和端子進行一系列分析,定位到問題發(fā)生的原因在于共面性不良,且端子焊接引腳與錫膏接觸程度不足導(dǎo)致。詳細分析方案,請瀏覽文章獲知。
2023-05-17 13:58:46723

說說MOSFET中的米勒效應(yīng)

本文主要介紹了米勒效應(yīng)的由來,并詳細分析MOSFET開關(guān)過程米勒效應(yīng)的影響,幫助定性理解米勒平臺的形成機制。最后給出了場效應(yīng)管柵極電荷的作用。
2023-05-16 09:47:341316

ARM Cortex-M學(xué)習(xí)筆記:初識Systick定時器

Cortex-M的內(nèi)核中包含Systick定時器了,只要是Cortex-M系列的MCU就會有Systick,因此這是通用的,下面詳細分析。
2023-05-15 15:01:381851

超全面音頻TDD Noise案例分享

大家好,今天通過幾個實際案例,給大家詳細分析一下音頻TDD Noise的產(chǎn)生原因、解決方案和思路。
2023-05-12 09:23:571590

GD32開發(fā)實戰(zhàn)指南(基礎(chǔ)篇) 第5章 跳動的心臟-Systick

Cortex-M的內(nèi)核中包含Systick定時器了,只要是Cortex-M系列的MCU就會有Systick,因此這是通用的,下面詳細分析。
2023-05-10 09:00:534805

詳細分析C語言中結(jié)構(gòu)體(struct)的使用

結(jié)構(gòu)體(struct)是由一系列具有相同類型或不同類型的數(shù)據(jù)構(gòu)成的數(shù)據(jù)集合,也叫結(jié)構(gòu)。
2023-05-04 10:21:39767

詳細分析功率MOS管

功率 MOSFET 正向?qū)〞r可用一電阻等效,該電阻與溫度有關(guān),溫度升高,該電阻變大;它還與門極驅(qū)動電壓的大小有關(guān),驅(qū)動電壓升高,該電阻變小。詳細的關(guān)系曲線可從制造商的手冊中獲得。
2023-05-04 10:09:47538

淺談高壓SiC MOSFET發(fā)展歷程與研究現(xiàn)狀

高壓SiC MOSFET的結(jié)構(gòu)和技術(shù)存在著幾個重要瓶頸:1)器件漂移區(qū)的導(dǎo)通電阻隨電壓等級相應(yīng)增加,其他結(jié)構(gòu)(溝道、JFET區(qū)等)的存在進一步提高了總導(dǎo)通電阻。
2023-05-04 09:43:181394

MOSFET的動態(tài)性能相關(guān)參數(shù)

本篇是讀懂MOSFET datasheet系列最終篇,主要介紹MOSFET動態(tài)性能相關(guān)的參數(shù)。 主要包括Qg、MOSFET的電容、開關(guān)時間等。 參數(shù)列表如下所示。
2023-04-26 17:52:144759

MOSFET的電性能相關(guān)參數(shù)

本篇是讀懂MOSFET datasheet系列第二篇,主要介紹電性能相關(guān)的參數(shù)。 這部分的參數(shù)是我們經(jīng)常提到并且用到的,相關(guān)的參數(shù)如下表所示。
2023-04-26 17:50:102213

差分放大電路設(shè)計(三)

上一節(jié)我們詳細分析了一個簡單的差分放大電路,并怎么去估算差分放大器的靜態(tài)工作點。
2023-04-25 15:42:511210

oltus-XFi定制電源完整性解決方案加速EM-IR分析

電遷移和紅外壓降 (EM-IR) 分析不是工具。 實際上,這是一個復(fù)雜的流程,包括寄生提取、布局后仿真和結(jié)果的詳細分析。 這就是為什么必須在流程的所有階段做出謹慎的決定。 例如,在提取過程中,必須正確選擇工藝和溫度。 此外,在提取過程中,必須將其配置為生成包含所有必需物理信息的高質(zhì)量 DSPF。
2023-04-20 10:29:251005

淺談降低MOSFET損耗和及EMI性能提高

MOSFET作為主要的開關(guān)功率器件之一,被大量應(yīng)用于模塊電源。了解MOSFET的損耗組成并對其分析,有利于優(yōu)化MOSFET損耗,提高模塊電源的功率;但是一味的減少MOSFET的損耗及其他方面的損耗
2023-04-18 09:22:021251

MOSFET的應(yīng)用技術(shù)詳解

MOSFET作為功率開關(guān)管,已經(jīng)是開關(guān)電源領(lǐng)域的絕對主力器件。雖然MOSFET作為電壓型驅(qū)動器件,其驅(qū)動表面上看來是非常簡單,但是詳細分析起來并不簡單。下面我會花一點時間,一點點來解析MOSFET的驅(qū)動技術(shù),以及在不同的應(yīng)用,應(yīng)該采用什么樣的驅(qū)動電路。
2023-04-18 09:19:31603

new和malloc函數(shù)詳細分析底層邏輯

new操作符從自由存儲區(qū)(free store)上為對象動態(tài)分配內(nèi)存空間,而malloc函數(shù)從堆上動態(tài)分配內(nèi)存。自由存儲區(qū)是C++基于new操作符的一個抽象概念,凡是通過new操作符進行內(nèi)存申請,該內(nèi)存即為自由存儲區(qū)。而堆是操作系統(tǒng)中的術(shù)語,是操作系統(tǒng)所維護的一塊特殊內(nèi)存,用于程序的內(nèi)存動態(tài)分配,C語言使用malloc從堆上分配內(nèi)存,使用free釋放已分配的對應(yīng)內(nèi)存。
2023-04-03 09:29:01452

德索fakra線束耐高壓性能要采取的4個措施

德索fakra線束,為了滿足電動高壓連接器的設(shè)計要求,高壓連接器的各個部件必須通過結(jié)構(gòu)設(shè)計和材料選擇具有足夠的介電強度,以確保高壓阻力。高壓連接器的高壓性能設(shè)計主要包括爬電距離、界面氣隙和絕緣材料。
2023-03-28 11:26:53359

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