廣電計(jì)量文章

• 干貨|集成電路EOS/ESD，如何把控？2022-05-25 09:59

  

  廣電計(jì)量集成電路失效分析實(shí)驗(yàn)室，配備完善的EOS/ESD/RA等測(cè)試設(shè)備及完整的失效分析手法，擁有經(jīng)驗(yàn)豐富的材料及電性能可靠性專家，可以針對(duì)IC進(jìn)行全方位的失效分析及可靠性驗(yàn)證方案的設(shè)計(jì)與執(zhí)行。

  ESD DRAM EOS 4553瀏覽量

• 干貨 | 更嚴(yán)苛的溫度沖擊——液冷式溫度沖擊2022-05-25 09:57

  

  廣電計(jì)量溫度沖擊試驗(yàn)主要考察產(chǎn)品在使用過(guò)程中因蠕變或疲勞損傷而引起的失效，以及驗(yàn)證產(chǎn)品在定型或鑒定批產(chǎn)階段對(duì)溫度沖擊環(huán)境的適應(yīng)性；此外，在產(chǎn)品研制階段還可幫助發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品設(shè)計(jì)和制造工藝上的缺陷，在批產(chǎn)階段的環(huán)境應(yīng)力篩選過(guò)程中（ESS），剔除產(chǎn)品的早期失效故障。

  元器件 1323瀏覽量