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• 上海伯東美國(guó) inTEST 熱流儀搭配 Keysight 進(jìn)行功率器件高低溫沖擊測(cè)試2022-06-13 12:45

  

  上海伯東美國(guó) inTEST 熱測(cè)產(chǎn)品搭配 Keysight 機(jī)臺(tái), 提供 IGBT, RF Device, MOSFET, Hi Power LED 等功率器件 -50℃ - 250℃ 自動(dòng)化熱測(cè)試解決方案. Keysight 機(jī)臺(tái)完美兼容 inTEST 軟件, 操作簡(jiǎn)單.

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• 上海伯東美國(guó) inTEST 熱流儀車(chē)規(guī)級(jí)芯片,汽車(chē)芯片高低溫沖擊測(cè)試2022-06-13 11:34

  

  不同于傳統(tǒng)消費(fèi)電子產(chǎn)品, 車(chē)規(guī)芯片前期的開(kāi)發(fā)及驗(yàn)證期可能長(zhǎng)達(dá)3年, 相關(guān)研發(fā)費(fèi)用和時(shí)間成本高昂, 從而需要更快地響應(yīng)不斷變化的車(chē)輛架構(gòu)和嚴(yán)苛的產(chǎn)品上市時(shí)間. 上海伯東美國(guó) inTEST ThermoStream 熱流儀滿足汽車(chē)半導(dǎo)體行業(yè)更嚴(yán)格及更高效的測(cè)試要求, 可以對(duì)微控制單元 MCU, 傳感器和存儲(chǔ)器 DRAM 等車(chē)載芯片進(jìn)行快速高低溫沖擊測(cè)試, 極大節(jié)

  汽車(chē)芯片 高低溫測(cè)試機(jī) 1181瀏覽量

• 上海伯東美國(guó) inTEST 熱流儀 MCU 芯片高低溫沖擊測(cè)試2022-06-13 11:29

  

  上海伯東美國(guó) inTEST 高低溫測(cè)試機(jī)可以快速提供需要的模擬環(huán)境溫度, 解決了因?yàn)榄h(huán)境受限的 MCU 芯片高低溫測(cè)試難題.微控制器 MCU 芯片廣泛應(yīng)用于消費(fèi)電子 (手機(jī), 打印機(jī)), 計(jì)算機(jī)網(wǎng)絡(luò), 工業(yè)控制, 醫(yī)療設(shè)備, 汽車(chē)電子以及智慧家庭等領(lǐng)域. 其中, 汽車(chē)是 MCU 芯片最大的應(yīng)用市場(chǎng), 傳統(tǒng)汽車(chē)單車(chē)會(huì)平均用到 70個(gè)左右, 而新能源汽車(chē)則需要用

  高低溫測(cè)試機(jī) MCU芯片 1402瀏覽量

• 上海伯東美國(guó)inTEST 熱流儀光通信模塊, 光纖收發(fā)器高低溫測(cè)試應(yīng)用2022-06-13 11:18

  

  光通信器件在出廠前需要做元件級(jí)測(cè)試, 主要包括對(duì)光纖收發(fā)器內(nèi)部關(guān)鍵器件在電工作的電性能測(cè)試, 失效分析, 可靠性評(píng)估等, 例如溫度循環(huán)測(cè)試 Thermal cycle 與溫度沖擊測(cè)試 Thermal shock. inTEST ThermoStream 高低溫測(cè)試機(jī)與傳統(tǒng)溫度試驗(yàn)箱對(duì)比, 升降溫速率更快; 可針對(duì)眾多元器件中的某一單個(gè)收發(fā)器, 將其隔離出來(lái)單

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