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功耗調(diào)試技術(shù)降低功耗對于電路與系統(tǒng)應(yīng)用的影響

電子設(shè)計 ? 來源:網(wǎng)絡(luò)整理 ? 作者:佚名 ? 2020-01-15 08:05 ? 次閱讀
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功耗調(diào)試技術(shù)使軟件工程師得以了解嵌入式系統(tǒng)的軟件對系統(tǒng)功耗的影響。通過建立源代碼和功耗之間的聯(lián)系,使得測試和調(diào)整系統(tǒng)功耗成為可能,即所謂功耗調(diào)試。傳統(tǒng)上,降低功耗僅是硬件工程師的設(shè)計目標(biāo);然而在實際運行的系統(tǒng)中,功耗不僅取決于硬件的設(shè)計,而且還與硬件如何被使用有關(guān),而后者則是由系統(tǒng)軟件來控制的。

圖1:IAR Systems的C-SPY調(diào)試器能夠在不同的視圖中顯示靜態(tài)和動態(tài)的功耗數(shù)據(jù)。

功耗調(diào)試技術(shù)基于對功耗進(jìn)行采樣,并建立每個采樣數(shù)據(jù)與程序的指令序列(以及源代碼)之間的關(guān)聯(lián)。其中的難點之一在于實現(xiàn)高精度的采樣。理想情況下,對功耗的采樣頻率應(yīng)該與系統(tǒng)時鐘相同,但系統(tǒng)中的電容性元件會降低此類測量的可靠性。從軟件工程師的角度來看,更感興趣的是功耗與源代碼以及程序運行期間的各種事件之間的聯(lián)系,而非個別的指令,因此所需的采樣分辨率將大大低于對每個指令進(jìn)行采樣的頻率。

對功耗的測量由調(diào)試工具完成。例如,IAR Embedded Workbench所支持的調(diào)試工具是IAR J-Link Ultra。它能夠測量芯片的供電電源經(jīng)過一個串聯(lián)小電阻之后的壓降,見圖2。該壓降是使用差分放大器進(jìn)行測量,并通過模數(shù)轉(zhuǎn)換器進(jìn)行采樣的。

圖2:IAR J-Link Ultra能夠測量芯片的供電電源經(jīng)過一個串聯(lián)小電阻之后的壓降。

要提高功耗調(diào)試的精確性,關(guān)鍵在于建立指令跟蹤與功耗采樣之間的良好關(guān)聯(lián)。最佳的關(guān)聯(lián)僅當(dāng)能夠進(jìn)行完全的指令跟蹤時才能實現(xiàn),但其缺點在于并非所有芯片都能支持這一功能;即便支持,也通常需要特殊的調(diào)試工具。

要在較低的精確性下達(dá)到較好的關(guān)聯(lián)度,可以使用一些現(xiàn)代片上調(diào)試架構(gòu)所支持的PC采樣功能。該功能周期性地對PC進(jìn)行采樣,并給出每個采樣的時間戳。與此同時,調(diào)試工具使用模數(shù)轉(zhuǎn)換器對芯片的功耗進(jìn)行采樣。通過比對功耗采樣值和PC采樣值的時間戳,調(diào)試器就能夠在同一根時間軸上顯示功耗數(shù)據(jù)以及中斷紀(jì)錄、變量監(jiān)控等圖形,并且將功耗數(shù)據(jù)與源代碼關(guān)聯(lián)起來,見圖3。

圖3:PC和功耗采樣校正。

一般來說,功耗優(yōu)化與速度優(yōu)化是非常相似的。一個任務(wù)運行得越快,低功耗模式持續(xù)的時間就能越長。因此,將處理器的空閑時間最大化可以降低系統(tǒng)的功耗。

想要找出系統(tǒng)中不必要的能耗以及在何處能夠降低這些能耗是有難度的。通常它們并非源代碼中顯而易見地暴露出來的缺陷,而更多地存在于對硬件使用方式的調(diào)整之中。

等待設(shè)備的狀態(tài)

一個導(dǎo)致不必要能耗的常見錯誤是使用輪詢來等待某個外設(shè)狀態(tài)的改變。下面的例子中,代碼一直不中斷地運行,直到狀態(tài)變量變?yōu)轭A(yù)期的值。

while (USBD_GetState() 《 USBD_STATE_CONFIGURED);

while ((BASE_PMC-》

MC_SR & MC_MCKRDY) != PMC_MCKRDY);

另一種類似的代碼是在for或while循環(huán)中實現(xiàn)軟件延時,例如:

i = 10000; // SW Delay

do i--;

while (i != 0);

這段代碼使得CPU一直忙于執(zhí)行除了計時之外沒有任何作用的指令。

在上述這些情況中,可以通過改寫代碼來降低功耗。延時最好是通過硬件定時器來實現(xiàn)。CPU在設(shè)置好定時器中斷之后就可以進(jìn)入低功耗模式直到被中斷喚醒。同樣,對外設(shè)狀態(tài)的輪詢?nèi)粲锌赡芤矐?yīng)該通過中斷來解決,或者使用定時器中斷從而使得CPU在兩次輪詢之間可以進(jìn)入休眠。

DMA vs polled I/O

傳統(tǒng)上,DMA被用于提高傳輸速度。在某些架構(gòu)中,CPU即使在DMA傳輸過程中也可以進(jìn)入休眠模式。功耗調(diào)試使得開發(fā)者能夠試驗并通過調(diào)試器看到與傳統(tǒng)由CPU驅(qū)動的傳輸方式相比,DMA技術(shù)所帶來的效果。

低功耗模式

很多嵌入式應(yīng)用都把大多數(shù)時間花費在等待某些事件發(fā)生。如果處理器在空閑時仍然全速運行,電池的壽命將在幾乎未作任何事情的情況下被消耗。所以在很多應(yīng)用中,處理器僅在總計很少的時間里才被激活。通過將處理器在空閑時間里置于低功耗模式,電池的壽命將得到數(shù)量級的延長。

一個好的方式是使用RTOS和面向任務(wù)的設(shè)計。可以定義一個最低優(yōu)先級,僅當(dāng)沒有任何其他任務(wù)需要運行時才會被運行的任務(wù)。這個空閑任務(wù)將是實現(xiàn)功耗管理的理想場所。在實踐中,當(dāng)空閑任務(wù)每次被激活時,都將處理器(或其部份)置于(可能的)多種低功耗模式之一。

CPU頻率 理論上,CMOS MCU的功耗可由以下公式得出: P = f x U^2 x k 上式中的f是時鐘頻率,U是供電電壓,k是數(shù)。 功耗調(diào)試使得開發(fā)者能夠驗證功耗與時鐘頻率之間的關(guān)系。運行在50MHz且?guī)缀醪恍菝叩南到y(tǒng),當(dāng)運行在100MHz時將在休眠模式下消耗約50%的時間。調(diào)試器中的功耗數(shù)據(jù)使得開發(fā)者能夠檢驗所期望的行為,以及當(dāng)如果存在與時鐘頻率的非線性關(guān)系時,選擇功耗最低的工作頻率。

中斷處理

圖4顯示了一個事件驅(qū)動系統(tǒng)的功耗示意圖,其在t0時處于非激活模式,消耗的電流為I0。在t1時系統(tǒng)被激活且電流上升為I1,對應(yīng)于系統(tǒng)在激活模式下且有一個外設(shè)被使用時的功耗。在t2時,程序的運行被一個更高優(yōu)先級的中斷所掛起。已經(jīng)被激活的外設(shè)沒有被關(guān)閉,雖然高優(yōu)先級的線程中并未用到它們。更多的外設(shè)被新的線程所激活,導(dǎo)致電流在t2和t3之間升高為I2。在t3時,控制權(quán)重又回到低優(yōu)先級的線程。

圖4:顯示了一個事件驅(qū)動系統(tǒng)的功耗示意圖。

該系統(tǒng)的功能可以非常出色,并且能夠在運行速度和代碼尺寸兩方面進(jìn)行優(yōu)化。然而在功耗方面,還有更多的優(yōu)化可以實現(xiàn)。圖中黃 色的區(qū)域表示如果在t2和t3之間關(guān)閉不需要的外設(shè),或者對調(diào)這兩個線程的優(yōu)先級,所能夠節(jié)省的能量。

使用功耗調(diào)試,能夠更容易地發(fā)現(xiàn)當(dāng)中斷發(fā)生時功耗的額外上升,并將其標(biāo)識為異常。

查找有沖突的硬件初始化

為了避免輸入端浮動,在通常的設(shè)計中會將未使用的MCU I/O管腳接地。如果軟件錯誤地將某個接地管腳配置為輸出邏輯“1”,高達(dá)25mA的電流會流向該管腳。這種非期望的高電流在功耗采樣圖形上很容易觀測到;同時還可以通過觀察系統(tǒng)啟動過程中的圖形來查找相關(guān)的初始化錯誤代碼。

模擬干擾也可能對功耗調(diào)試產(chǎn)生影響。模數(shù)混合電路板有其自身的特性。板級的布局和走線對于抑制模擬噪聲、保證對低電平模擬信號的精確采樣十分重要。良好的混合信號電路需要對硬件進(jìn)行仔細(xì)的考量和認(rèn)真的設(shè)計。

總結(jié)

功耗調(diào)試使得嵌入式系統(tǒng)的開發(fā)者能夠深入了解他們的應(yīng)用,并發(fā)現(xiàn)程序的代碼對功耗有何影響?;谶@些信息,可以通過調(diào)整和優(yōu)化源代碼以最大限度地降低功耗。使用這種方法,工程師們能夠確保他們的設(shè)計已經(jīng)盡可能地節(jié)省能量,而又不會對系統(tǒng)性能產(chǎn)生不利的影響。

責(zé)任編輯:gt


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