一、輻射發(fā)射（RE）

輻射發(fā)射（RE）

輻射發(fā)射（Radiated Emission，簡(jiǎn)稱RE）測(cè)試是一種用于評(píng)估電子設(shè)備通過空間輻射方式向外界發(fā)射電磁干擾的測(cè)試方法。該測(cè)試旨在確保設(shè)備在正常運(yùn)行時(shí)不會(huì)對(duì)其他電子設(shè)備或無線通信系統(tǒng)造成有害干擾，符合電磁兼容性（EMC）法規(guī)要求。

測(cè)試頻率：30MHz~6GHz（部分高頻設(shè)備擴(kuò)展至更高頻率）

目前優(yōu)恩半導(dǎo)體實(shí)驗(yàn)室可檢測(cè)如下測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：

CISPR 11、CISPR 22、CISPR 15、CISPR 14-1、CISPR 25

GB 4824、GB 9254、GB/T 17743、GB/T 4343.1、GêB/T 18655

二、傳導(dǎo)發(fā)射（CE）

傳導(dǎo)發(fā)射（CE）

傳導(dǎo)發(fā)射（Conducted Emission，簡(jiǎn)稱CE）測(cè)試是一種用于評(píng)估電子設(shè)備通過電源線或信號(hào)線向電網(wǎng)或其他設(shè)備傳導(dǎo)高頻干擾的測(cè)試方法。這種測(cè)試旨在確保設(shè)備在正常工作時(shí)不會(huì)對(duì)公共電網(wǎng)或其他連接設(shè)備造成電磁干擾，符合電磁兼容性（EMC）法規(guī)要求。

測(cè)試頻率：150kHz~30MHz

目前優(yōu)恩半導(dǎo)體實(shí)驗(yàn)室可檢測(cè)如下測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：

CISPR 11、CISPR 22、CISPR 15、CISPR 14-1、CISPR 25

GB 4824、GB 9254、GB/T 17743、GB/T 4343.1、GB/T 18655

三、靜電放電抗擾度（ESD）

靜電放電抗擾度（ESD）

ESD（Electrostatic Discharge）靜電抗擾度測(cè)試是用于評(píng)估設(shè)備在靜電放電干擾下的抗干擾能力的測(cè)試方法。這種測(cè)試通常用于評(píng)估電子設(shè)備在靜電放電環(huán)境下的可靠性和穩(wěn)定性，以確保其在面對(duì)靜電放電時(shí)能夠正常工作。

測(cè)試能力：接觸放電、空氣放電±30kV

目前我們優(yōu)恩可滿足如下測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T 17626.2

IEC61000-4-2

ISO 10605

四、電快速瞬變脈沖群抗擾度（EFT/B）

電快速瞬變脈沖群抗擾度（EFT/B）

電快速瞬變脈沖群抗擾度（Immunity to Electrical Fast Transient/Bursts，簡(jiǎn)稱EFT/B）測(cè)試是一種用于評(píng)估設(shè)備在電快速瞬變脈沖群干擾下的抗干擾能力的測(cè)試方法。這種測(cè)試主要模擬設(shè)備在運(yùn)行過程中可能遇到的開關(guān)動(dòng)作、繼電器觸點(diǎn)彈跳等引起的瞬態(tài)干擾，以確保設(shè)備在復(fù)雜電磁環(huán)境中能夠穩(wěn)定工作。

測(cè)試能力：±4KV

目前優(yōu)恩半導(dǎo)體實(shí)驗(yàn)室可檢測(cè)如下測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T 17626.4

IEC 61000-4-4

五、汽車電子EMC測(cè)試

汽車電子EMC測(cè)試

在汽車電子領(lǐng)域，電磁兼容性（EMC）測(cè)試是非常重要的，因?yàn)槠噧?nèi)部裝有許多電子設(shè)備，而且汽車在使用過程中會(huì)受到各種電磁干擾。汽車電子電磁兼容性（EMC）測(cè)試主要包含由傳導(dǎo)和耦合引起的電騷擾和電氣電子設(shè)備電氣負(fù)荷。

由傳導(dǎo)和耦合引起的電騷擾測(cè)試能力：脈沖干擾1、2a、2b、3a、3b、5a、5b

電氣電子設(shè)備電氣負(fù)荷測(cè)試能力：過電壓、疊加交流電壓、反向電壓、啟動(dòng)特性、供電電壓瞬態(tài)變化

以下是我們優(yōu)恩可滿足的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：

ISO 16750-2

GB/T 28064.2

ISO 7637-2

GB/T 21437.2

六、絕緣耐壓測(cè)試

絕緣耐壓測(cè)試

絕緣耐壓測(cè)試是用于評(píng)估電氣設(shè)備或組件在高電壓條件下絕緣性能的測(cè)試方法。這種測(cè)試通過施加高于設(shè)備額定電壓的測(cè)試電壓，驗(yàn)證其絕緣材料能否承受短期過壓而不發(fā)生擊穿或漏電，以確保設(shè)備在正常工作或異常情況下的安全性和可靠性。

測(cè)試能力：

交流 ：0.05kV~5.0kV、直流 ：0.05kV~6.0kV、絕緣電阻 ：0.1MΩ~50GΩ

目前優(yōu)恩半導(dǎo)體實(shí)驗(yàn)室可檢測(cè)如下測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T 4943

IEC 60950

七、浪涌（沖擊）抗擾度（Surge）

浪涌（沖擊）抗擾度（Surge）

雷擊浪涌測(cè)試是一種用于評(píng)估設(shè)備在雷擊或電涌等電氣干擾情況下的抗干擾能力的測(cè)試方法。這種測(cè)試通常用于評(píng)估電子設(shè)備的可靠性和穩(wěn)定性，以確保其在面對(duì)突發(fā)的雷擊或電涌時(shí)能夠正常工作。

測(cè)試能力：

電流波：8/20μs ：150kA、10/350μs：30kA、10/1000μs：300A

電壓波：1.2/50μs：10kV、10/700μs：10kV

目前優(yōu)恩半導(dǎo)體實(shí)驗(yàn)室可檢測(cè)如下測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T 17626.5

IEC61000-4-5

八、器件檢測(cè)

器件檢測(cè)

絕緣耐壓測(cè)試是用于評(píng)估電氣設(shè)備或組件在高電壓條件下絕緣性能的測(cè)試方法。這種測(cè)試通過施加高于設(shè)備額定電壓的測(cè)試電壓，驗(yàn)證其絕緣材料能否承受短期過壓而不發(fā)生擊穿或漏電，以確保設(shè)備在正常工作或異常情況下的安全性和可靠性。

1.TVS電性參數(shù)檢測(cè)

2.放電管電性參數(shù)檢測(cè)

3.壓敏電阻電性參數(shù)檢測(cè)

4.MOS靜態(tài)參數(shù)檢測(cè)

5.二極管電性參數(shù)檢測(cè)試

審核編輯 黃宇