文章來(lái)源:老虎說(shuō)芯
原文作者:老虎說(shuō)芯
本文主要講述化學(xué)機(jī)械拋光液的原理、組成與應(yīng)用邏輯。
什么是化學(xué)機(jī)械拋光液
化學(xué)機(jī)械拋光液是化學(xué)機(jī)械拋光(CMP)工藝中關(guān)鍵的功能性耗材,其本質(zhì)是一個(gè)多組分的液體復(fù)合體系,在拋光過(guò)程中同時(shí)起到化學(xué)反應(yīng)與機(jī)械研磨的雙重作用,目的是實(shí)現(xiàn)晶圓表面多材料的平整化處理。
就像洗衣粉不僅僅洗衣服靠摩擦,它里面的酶和表面活性劑要分解污漬,CMP液不僅靠“磨”,還靠“化”,共同作用才精準(zhǔn)高效。
化學(xué)機(jī)械拋光液的基本組成
CMP液的配方設(shè)計(jì)高度專(zhuān)業(yè)化,通常包括以下幾個(gè)核心組分:
研磨顆粒(Abrasive Particles):
常見(jiàn)類(lèi)型:膠體二氧化硅(SiO?)、氣相二氧化硅、氧化鋁(Al?O?)
作用:提供機(jī)械“打磨”能力,相當(dāng)于“微米級(jí)砂紙”,決定去除速率與表面粗糙度。
化學(xué)試劑(Chemical Additives):
包括氧化劑、絡(luò)合劑、pH調(diào)節(jié)劑等。
作用:與待拋材料發(fā)生選擇性化學(xué)反應(yīng)(如氧化銅形成易去除物質(zhì)),提高材料的“可拋性”。
腐蝕抑制劑:
防止材料在非目標(biāo)區(qū)域發(fā)生腐蝕,控制側(cè)蝕和表面缺陷生成。
溶劑(通常為高純水):
用于將其他組分均勻分散并形成穩(wěn)定的工作體系。
為何CMP液對(duì)不同材料需要"量體裁衣"
由于芯片結(jié)構(gòu)包含多種材料(銅、鎢、氧化硅、氮化物等),不同材料的物理/化學(xué)特性差異巨大,因此需要有選擇性地去除,而不是一刀切。
例如:
銅拋光液:需拋掉銅互連而保留絕緣層,因此對(duì)銅要“既能溶解又能保護(hù)邊界”。
鎢拋光液:因?yàn)殒u硬度高、化學(xué)惰性強(qiáng),要求化學(xué)組分能活化表面,機(jī)械顆粒要更強(qiáng)。
硅粗拋液:主要在晶圓初加工階段,目的在于快速整平,允許表面略粗糙。
CMP液對(duì)核心挑戰(zhàn)與技術(shù)壁壘
材料去除速率與選擇比的平衡:太快會(huì)“過(guò)拋”,太慢則影響產(chǎn)能;關(guān)鍵是“只拋想拋的”。
顆粒分布與穩(wěn)定性控制:防止結(jié)塊、沉降,確保液體均勻、持續(xù)可用。
微觀缺陷控制:如刮痕、凹坑、腐蝕斑等,這是決定芯片良率的關(guān)鍵因素之一。
CMP液對(duì)發(fā)展趨勢(shì)
高選擇性:對(duì)不同材料的識(shí)別與反應(yīng)更精準(zhǔn);
低缺陷:以最小顆粒造成最小劃傷;
材料適配性:隨著10nm以下節(jié)點(diǎn)鈷互連等新材料引入,需新型CMP液配合;
國(guó)產(chǎn)替代化:由于高端顆粒等原料仍依賴(lài)進(jìn)口,國(guó)內(nèi)廠商在加速研發(fā)替代技術(shù)。
總結(jié)類(lèi)比
你可以把CMP液理解為一個(gè)“智能打磨劑”:不僅像細(xì)砂紙一樣研磨,還像化學(xué)試劑一樣溶解目標(biāo)層,而且還得“識(shí)人識(shí)物”——只對(duì)目標(biāo)材料下手,對(duì)其他材料“禮貌以待”。這一點(diǎn),在工藝窗口極窄的先進(jìn)制程中,尤為關(guān)鍵。
-
機(jī)械
+關(guān)注
關(guān)注
8文章
1685瀏覽量
41899 -
拋光
+關(guān)注
關(guān)注
0文章
58瀏覽量
11980
原文標(biāo)題:化學(xué)機(jī)械拋光液(CMP Slurry)的原理、組成與應(yīng)用邏輯
文章出處:【微信號(hào):bdtdsj,微信公眾號(hào):中科院半導(dǎo)體所】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明出處。
發(fā)布評(píng)論請(qǐng)先 登錄
深度解析芯片化學(xué)機(jī)械拋光技術(shù)

關(guān)于薄膜金剛石的化學(xué)機(jī)械拋光的研究報(bào)告

半導(dǎo)體行業(yè)中的化學(xué)機(jī)械拋光技術(shù)

碳化硅晶片的化學(xué)機(jī)械拋光技術(shù)研究

新型銅互連方法—電化學(xué)機(jī)械拋光技術(shù)研究進(jìn)展
化學(xué)機(jī)械拋光CMP技術(shù)的發(fā)展應(yīng)用及存在問(wèn)題
化學(xué)機(jī)械拋光(CMP)技術(shù)的發(fā)展、應(yīng)用及存在問(wèn)題
多晶硅薄膜后化學(xué)機(jī)械拋光的新型清洗解決方案

CMP后化學(xué)機(jī)械拋光清洗中的納米顆粒去除報(bào)告

化學(xué)機(jī)械拋光(CMP)的現(xiàn)狀和未來(lái)

9.6.7 化學(xué)機(jī)械拋光液∈《集成電路產(chǎn)業(yè)全書(shū)》

半導(dǎo)體行業(yè)中的化學(xué)機(jī)械拋光(CMP)技術(shù)詳解

評(píng)論