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化學(xué)機(jī)械拋光液的基本組成

中科院半導(dǎo)體所 ? 來(lái)源:老虎說(shuō)芯 ? 2025-05-14 17:05 ? 次閱讀
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文章來(lái)源:老虎說(shuō)芯

原文作者:老虎說(shuō)芯

本文主要講述化學(xué)機(jī)械拋光液的原理、組成與應(yīng)用邏輯。

什么是化學(xué)機(jī)械拋光液

化學(xué)機(jī)械拋光液是化學(xué)機(jī)械拋光(CMP)工藝中關(guān)鍵的功能性耗材,其本質(zhì)是一個(gè)多組分的液體復(fù)合體系,在拋光過(guò)程中同時(shí)起到化學(xué)反應(yīng)與機(jī)械研磨的雙重作用,目的是實(shí)現(xiàn)晶圓表面多材料的平整化處理。

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就像洗衣粉不僅僅洗衣服靠摩擦,它里面的酶和表面活性劑要分解污漬,CMP液不僅靠“磨”,還靠“化”,共同作用才精準(zhǔn)高效。

化學(xué)機(jī)械拋光液的基本組成

CMP液的配方設(shè)計(jì)高度專(zhuān)業(yè)化,通常包括以下幾個(gè)核心組分:

研磨顆粒(Abrasive Particles):

常見(jiàn)類(lèi)型:膠體二氧化硅(SiO?)、氣相二氧化硅、氧化鋁(Al?O?)

作用:提供機(jī)械“打磨”能力,相當(dāng)于“微米級(jí)砂紙”,決定去除速率與表面粗糙度。

化學(xué)試劑(Chemical Additives):

包括氧化劑、絡(luò)合劑、pH調(diào)節(jié)劑等。

作用:與待拋材料發(fā)生選擇性化學(xué)反應(yīng)(如氧化銅形成易去除物質(zhì)),提高材料的“可拋性”。

腐蝕抑制劑:

防止材料在非目標(biāo)區(qū)域發(fā)生腐蝕,控制側(cè)蝕和表面缺陷生成。

溶劑(通常為高純水):

用于將其他組分均勻分散并形成穩(wěn)定的工作體系。

為何CMP液對(duì)不同材料需要"量體裁衣"

由于芯片結(jié)構(gòu)包含多種材料(銅、鎢、氧化硅、氮化物等),不同材料的物理/化學(xué)特性差異巨大,因此需要有選擇性地去除,而不是一刀切。

例如:

銅拋光液:需拋掉銅互連而保留絕緣層,因此對(duì)銅要“既能溶解又能保護(hù)邊界”。

鎢拋光液:因?yàn)殒u硬度高、化學(xué)惰性強(qiáng),要求化學(xué)組分能活化表面,機(jī)械顆粒要更強(qiáng)。

硅粗拋液:主要在晶圓初加工階段,目的在于快速整平,允許表面略粗糙。

CMP液對(duì)核心挑戰(zhàn)與技術(shù)壁壘

材料去除速率與選擇比的平衡:太快會(huì)“過(guò)拋”,太慢則影響產(chǎn)能;關(guān)鍵是“只拋想拋的”。

顆粒分布與穩(wěn)定性控制:防止結(jié)塊、沉降,確保液體均勻、持續(xù)可用。

微觀缺陷控制:如刮痕、凹坑、腐蝕斑等,這是決定芯片良率的關(guān)鍵因素之一。

CMP液對(duì)發(fā)展趨勢(shì)

高選擇性:對(duì)不同材料的識(shí)別與反應(yīng)更精準(zhǔn);

低缺陷:以最小顆粒造成最小劃傷;

材料適配性:隨著10nm以下節(jié)點(diǎn)鈷互連等新材料引入,需新型CMP液配合;

國(guó)產(chǎn)替代化:由于高端顆粒等原料仍依賴(lài)進(jìn)口,國(guó)內(nèi)廠商在加速研發(fā)替代技術(shù)。

總結(jié)類(lèi)比

你可以把CMP液理解為一個(gè)“智能打磨劑”:不僅像細(xì)砂紙一樣研磨,還像化學(xué)試劑一樣溶解目標(biāo)層,而且還得“識(shí)人識(shí)物”——只對(duì)目標(biāo)材料下手,對(duì)其他材料“禮貌以待”。這一點(diǎn),在工藝窗口極窄的先進(jìn)制程中,尤為關(guān)鍵。

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原文標(biāo)題:化學(xué)機(jī)械拋光液(CMP Slurry)的原理、組成與應(yīng)用邏輯

文章出處:【微信號(hào):bdtdsj,微信公眾號(hào):中科院半導(dǎo)體所】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明出處。

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