碳化硅（SiC）MOSFET并聯(lián)應(yīng)用均流控制技術(shù)的綜述，傾佳電子楊茜綜合了當(dāng)前研究進展與關(guān)鍵技術(shù)方向：

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一、SiC MOSFET并聯(lián)均流的挑戰(zhàn)與影響因素

參數(shù)離散性
SiC MOSFET的導(dǎo)通電阻（Rds(on)?）、閾值電壓（Vth?）、柵極電容（Ciss?、Coss?）等參數(shù)因制造工藝差異存在離散性，導(dǎo)致并聯(lián)器件間的穩(wěn)態(tài)電流分配不均。例如，Rds(on)?的±10%偏差可引發(fā)20%的電流差異。

動態(tài)特性差異
開關(guān)過程中的柵極驅(qū)動延遲、跨導(dǎo)（gfs?）差異及寄生參數(shù)（如雜散電感Ls?）會導(dǎo)致動態(tài)電流不平衡。例如，驅(qū)動回路雜散電感差異每增加1nH，動態(tài)電流偏差可能超過15%。

熱耦合效應(yīng)
局部溫度差異通過Rds(on)?的正溫度系數(shù)（PTC）影響均流。高溫區(qū)域的器件導(dǎo)通電阻增大，理論上可自平衡，但實際中熱分布不均可能加劇電流失衡。

二、被動均流控制技術(shù)

對稱布局與低寄生設(shè)計

PCB優(yōu)化：采用對稱式功率回路布局，減少功率路徑長度差異，將雜散電感控制在5nH以內(nèi)。

層壓銅母線：通過低電感層壓結(jié)構(gòu)降低母線寄生電感，抑制開關(guān)瞬態(tài)電壓尖峰，從而減少動態(tài)電流偏差5。

器件篩選與參數(shù)匹配

對并聯(lián)器件的閾值電壓、導(dǎo)通電阻進行分檔匹配，要求Vth?偏差≤±0.5V，Rds(on)?偏差≤±5%。

緩沖電路設(shè)計

集成RC緩沖電路（如Si-RC snubber）可吸收開關(guān)過沖能量，降低瞬態(tài)電流差異。實驗表明，該方法可將動態(tài)電流不平衡降低50%以上。

三、主動均流控制技術(shù)

動態(tài)柵極驅(qū)動調(diào)節(jié)

主動?xùn)艠O驅(qū)動器（AGD）：通過實時反饋電流差異，動態(tài)調(diào)整各器件的柵極驅(qū)動電阻（Rg?）或驅(qū)動時序。例如，AGD技術(shù)可將開關(guān)過程中的能量不平衡減少30%-40%。

米勒鉗位技術(shù)：抑制米勒電容引發(fā)的寄生導(dǎo)通，避免因柵極電壓波動導(dǎo)致的電流分配惡化。

自適應(yīng)溫度補償

結(jié)合溫度傳感器與驅(qū)動算法，根據(jù)實時結(jié)溫調(diào)整柵極電壓或開關(guān)頻率，補償溫度梯度對均流的影響。

數(shù)字控制與智能算法

采用基于模型預(yù)測控制（MPC）或人工智能（AI）的算法，優(yōu)化多目標(biāo)參數(shù)（如損耗、溫升、電流分配），實現(xiàn)全工況范圍內(nèi)的均流優(yōu)化。

四、關(guān)鍵研究方向與未來趨勢

高頻化與高壓場景適配

針對SiC MOSFET在MHz級高頻應(yīng)用中的均流需求，需開發(fā)超低寄生電感封裝（如直接鍵合銅DBC優(yōu)化）和新型驅(qū)動架構(gòu)（如容離驅(qū)動器）。

多物理場耦合建模

結(jié)合電-熱-機械多場仿真，分析復(fù)雜工況下器件老化、機械應(yīng)力對均流的影響，提升長期可靠性預(yù)測精度。

標(biāo)準(zhǔn)化測試與驗證體系

建立涵蓋穩(wěn)態(tài)與動態(tài)電流分配的測試標(biāo)準(zhǔn)（如JEDEC JEP182），推動均流技術(shù)的規(guī)?；瘧?yīng)用。

總結(jié)

碳化硅MOSFET并聯(lián)均流控制技術(shù)需綜合被動設(shè)計與主動調(diào)控策略，從參數(shù)匹配、布局優(yōu)化到智能驅(qū)動算法多維度協(xié)同。未來，隨著高頻高壓應(yīng)用場景的擴展，結(jié)合數(shù)字孿生與AI的智能均流系統(tǒng)將成為突破方向，進一步釋放SiC器件在高功率密度電力電子系統(tǒng)中的潛力。