芯片封裝環(huán)氧膠低溫烘烤固化后再高溫烘烤對膠層影響有哪些？

芯片封裝環(huán)氧膠低溫烘烤固化后再進行高溫烘烤，對膠層的影響可能涉及多個方面，以下是對此問題的詳細分析：

一、環(huán)氧膠的固化特性

環(huán)氧膠的固化是一個復雜的物理化學過程，包括潤濕、粘接、固化等步驟，最終產(chǎn)生具有三維交聯(lián)結(jié)構(gòu)的固化產(chǎn)物。低溫固化環(huán)氧膠是一種能在較低溫度下快速固化，且不損傷耐熱精密電子元器件的膠粘劑。其固化原理通常是聚氨酯預聚體與空氣中的水分反應，固化交聯(lián)而形成穩(wěn)定的化學結(jié)構(gòu)。

二、低溫烘烤固化的影響

低溫烘烤固化環(huán)氧膠時，固化溫度低且固化速度快，不會損害溫度敏感型器件，并能在極短的時間內(nèi)在各種材料之間形成最佳粘接力。這種固化方式適用于記憶卡、CCD/CMOS、攝像頭模組、LED背光模組、鏡頭模組等溫度敏感、不能進行高溫固化的應用點。

三、高溫烘烤對膠層的影響

硬度變化：

環(huán)氧樹脂膠在高溫烘烤下，其硬度可能會降低，表現(xiàn)出一定的軟化現(xiàn)象。這是因為高溫加速了分子鏈的熱運動，使得材料內(nèi)部的應力得到釋放，從而導致硬度下降。但具體程度取決于烘烤溫度及環(huán)氧樹脂膠的配方和種類。

性能穩(wěn)定性：

高溫烘烤可能導致環(huán)氧膠層的性能發(fā)生變化，如耐濕熱、冷熱循環(huán)性能等可能降低。這是因為高溫可能破壞環(huán)氧膠內(nèi)部的交聯(lián)結(jié)構(gòu)，從而影響其整體性能。

粘接強度：

高溫烘烤可能導致環(huán)氧膠與基材之間的粘接強度降低。這是因為高溫可能使環(huán)氧膠與基材之間的界面發(fā)生破壞，從而降低粘接強度。

產(chǎn)生氣泡或變色：

如果高溫烘烤的溫度過高或時間過長，還可能導致環(huán)氧膠層產(chǎn)生氣泡或變色，進一步影響其外觀和性能。

四、建議與注意事項

選擇合適的烘烤溫度和時間：

在進行高溫烘烤之前，應充分了解環(huán)氧膠的烘烤溫度和時間要求，避免溫度過高或時間過長導致膠層性能下降。

考慮環(huán)氧膠的配方和種類：

不同配方和種類的環(huán)氧膠對高溫的耐受能力不同，因此在進行高溫烘烤之前，應了解所使用環(huán)氧膠的具體性能特點。

注意烘烤環(huán)境：

烘烤過程中應注意通風換氣，以降低烘烤環(huán)境對環(huán)氧膠固化效果的影響。同時，應避免在相對濕度過高的環(huán)境下進行烘烤。

進行性能測試：

在高溫烘烤后，應對環(huán)氧膠層進行性能測試，以確保其滿足使用要求。

綜上所述，環(huán)氧膠低溫烘烤固化后再進行高溫烘烤可能對膠層產(chǎn)生多方面的影響。因此，在進行烘烤操作時，應充分考慮環(huán)氧膠的固化特性、烘烤溫度和時間要求以及烘烤環(huán)境等因素，以確保烘烤后的環(huán)氧膠層具有良好的性能。

文章來源：漢思新材料