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OTA近場測量是什么?資深工程師這樣說

AIoT行業(yè)洞察 ? 來源:AIoT行業(yè)洞察 ? 作者:AIoT行業(yè)洞察 ? 2024-05-21 08:58 ? 次閱讀
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近年來,隨著物聯(lián)網(wǎng)產(chǎn)品的無線化、智能化的發(fā)展,產(chǎn)品無線性能的重要性也日趨凸顯,而天線作為產(chǎn)品實(shí)現(xiàn)無線傳輸?shù)闹匾浇?,其測量技術(shù)也不斷地向著更全、更快、更準(zhǔn)的方向演進(jìn),天線性能的好壞也越來越受工程師們的重視,天線相關(guān)的測量也逐步成為一門不可小視的測試技術(shù),今天給大家介紹下OTA近場測量的相關(guān)內(nèi)容。

閑言少敘,今日份重點(diǎn):

1.近場測量技術(shù)及場地的發(fā)展

2.近場測量的分類

3.現(xiàn)今主流近場多探頭OTA系統(tǒng)簡介

1.近場測量技術(shù)及場地的發(fā)展

近場測量的理論基礎(chǔ)于20世紀(jì)50年代末產(chǎn)生的,它的發(fā)展主要分為四個(gè)階段:

第一個(gè)階段為無探頭修正探索階段

(1950~1961年)

第二階段為探頭修正理論研究階段

(1961~1975年)

第三階段為實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證探頭修正理論階段

(1965~1975年)

第四階段為探頭修正理論實(shí)踐階段

(1975~至今)

天線測量領(lǐng)域最早出現(xiàn)的測量場地是室外遠(yuǎn)場,由于室外場地沒有屏蔽效果,容易受到外界電磁信號的干擾,而且還有外界不可控因素的影響,不僅使得測試的精度較低,還會出現(xiàn)測試數(shù)據(jù)不可復(fù)現(xiàn)的結(jié)果。

20世紀(jì)50年代初,微波暗室技術(shù)出現(xiàn),早期的暗室無屏蔽殼體,暗室反射性能不高,隨著新興技術(shù)的不斷提升,目前的暗室屏蔽效能和靜區(qū)反射性能都能達(dá)到較高水準(zhǔn)。

對于微波暗室技術(shù)的發(fā)展,天線測量從室外轉(zhuǎn)移到室內(nèi)進(jìn)行,解決了室外遠(yuǎn)場背景電平高、保密性差、不支持全天候測試等問題。

天線場區(qū)可分為感應(yīng)場區(qū)、輻射近場區(qū)和輻射遠(yuǎn)場區(qū),天線測量場地可分為遠(yuǎn)場、近場、緊縮場、混響法等。

2.近場測量的分類

根據(jù)采樣面的不同,近場測量場地可分為平面近場、柱面近場、球面近場三種類型;

平面采樣主要適用于高增益、筆形波束天線的測量。常見的是垂直面采樣,測量時(shí)天線放置在固定位置,探頭在離被測天線3-5個(gè)波長的平面進(jìn)行采樣。如圖1

wKgZomZL8c-AJYXyAACTRYYCClY58.jpeg

圖1

柱面采樣主要適用于中等增益、扇形波束天線的測量。測量時(shí)天線在轉(zhuǎn)臺的帶動下做360°轉(zhuǎn)動,探頭進(jìn)行上下移動進(jìn)行采樣。如圖2

wKgZomZL8c-AAtYAAAEWUn0smXY33.jpeg

圖2

球面采樣主要適用于低增益、寬波束天線的測量。球面采樣的方式有多種,以我們16探頭暗室為例,被測天線放置在轉(zhuǎn)臺上做180°轉(zhuǎn)動,每轉(zhuǎn)一個(gè)角度,15個(gè)探頭依次進(jìn)行采樣,以達(dá)到球面的采樣效果。

wKgaomZL8dCAcX9mAAB5ITaA8co21.jpeg

圖3

根據(jù)采用探頭數(shù)量的不同,近場可分為單探頭近場多探頭近場兩種類型。

傳統(tǒng)的單探頭球面測試系統(tǒng),被測天線必須在一個(gè)單探頭前二維旋轉(zhuǎn),其旋轉(zhuǎn)范圍為方位角從0到360°和俯仰角從0°到180°,以便確定在包圍該天線的一個(gè)球面的上的場,由于單探頭的采樣點(diǎn)很多,測量時(shí)間長,信號的漂移,儀器的穩(wěn)定性,溫度的變化都將會對測量精度產(chǎn)生影響。

多探頭球面近場測試系統(tǒng)實(shí)在俯仰方向上布置多個(gè)寬帶低反射的探頭進(jìn)行電子掃描,這樣被測天線只需要在方位方向旋轉(zhuǎn)180°就夠了,由于電子掃描時(shí)瞬時(shí)完成的,這使天線測量速度提高了數(shù)十倍到上百倍。

3. 現(xiàn)今主流近場多探頭OTA系統(tǒng)簡介

wKgZomZL8dCAAjlMAAE0G05e71837.jpeg

圖4

1.近場天線測試系統(tǒng)主要由以下幾部分組成:

a. 多軸掃描架子系統(tǒng)(包括控制驅(qū)動器及電纜組件)。

b. 被測天線定位子系統(tǒng), 通常由一個(gè)單軸或多軸轉(zhuǎn)臺,控制驅(qū)動器及電纜組件組成。

c. 射頻子系統(tǒng),包括發(fā)射源,接收機(jī)及射頻電纜組件。

d. 系統(tǒng)主控器及一個(gè)負(fù)責(zé)給掃描架及轉(zhuǎn)臺子系統(tǒng)發(fā)定位指令,采集測試數(shù)據(jù),近遠(yuǎn)場變

換計(jì)算和分析測試結(jié)果的系統(tǒng)軟件。

2.工作原理

以16探頭暗室為例:

該暗室是在一個(gè)環(huán)上均勻放置16根天線(有的還有24、32、64、128個(gè)等)作為接收天線,環(huán)上的天線是交叉極化的。

該環(huán)稱為星門(Stargate)。它采用多個(gè)探頭垂直面全方位實(shí)時(shí)采集待測物在垂直面的數(shù)據(jù)。當(dāng)一個(gè)探頭工作時(shí),其它探頭50歐匹配,從而不對其工作造成影響。因各要求不同,待測物也放置在一個(gè)轉(zhuǎn)臺上,轉(zhuǎn)臺每轉(zhuǎn)過一個(gè)角度,15個(gè)探頭會快速掃描一次成一個(gè)圓面,這樣很快就能獲得數(shù)據(jù),此時(shí)測試出的數(shù)據(jù)是近場的數(shù)據(jù),系統(tǒng)軟件會根據(jù)近場-遠(yuǎn)場轉(zhuǎn)換算法對數(shù)據(jù)進(jìn)行變換進(jìn)而得到遠(yuǎn)場(直接法)的數(shù)據(jù)。

這種測試速度很快,雖然相對精度稍有降低,卻極大的滿足了研發(fā)階段對測試效率的追求。

審核編輯 黃宇

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