99精品伊人亚洲|最近国产中文炮友|九草在线视频支援|AV网站大全最新|美女黄片免费观看|国产精品资源视频|精彩无码视频一区|91大神在线后入|伊人终合在线播放|久草综合久久中文

0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

常見的BGA混裝工藝誤區(qū)分享

jf_17722107 ? 來源:jf_17722107 ? 作者:jf_17722107 ? 2024-04-28 09:50 ? 次閱讀
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群


BGA混裝工藝中,存在關(guān)于鉛相擴(kuò)散不完整的誤區(qū)。隨著全球無鉛工藝的普及,大多數(shù)BGA器件已采用無鉛工藝,但由于特殊需求部分企業(yè)仍使用有鉛制程進(jìn)行焊接。對于不涉及BGA器件的產(chǎn)品,其工藝可以完全按照有鉛工藝進(jìn)行操作。只有含有無鉛BGA的有鉛制程才屬于真正的混裝工藝。對此,業(yè)界存在不同的觀點(diǎn)。

觀點(diǎn)1:更換錫球派(SJ派)
此觀點(diǎn)認(rèn)為在無鉛BGA用于有鉛工藝時(shí)必須更換錫球,即清除原有的無鉛錫球,替換為有鉛錫球,并進(jìn)行適當(dāng)?shù)那鍧嵑笤偈褂谩?/p>

這種觀點(diǎn)的好處是可以徹底執(zhí)行
有鉛工藝,但也存在不利因素:
1)清除無鉛錫球并植入有鉛錫球會造成兩次熱沖擊,影響器件的壽命;
2)除球過程中可能導(dǎo)致BGA焊盤的脫落或損壞;
3)現(xiàn)在BGA器件的錫球數(shù)量極多,更換錫球會增加植球的不良率;如果是手工植球,則會耗時(shí)耗力。更糟的是,如果某個(gè)球的植球存在缺陷,而沒有有效的BGA器件測試工具,則會增加焊的接困擾。

觀點(diǎn)2:不更換錫球派(XJ派)
XJ派觀點(diǎn)認(rèn)為無需更換錫球,直接使用有鉛錫膏進(jìn)行焊接,稱為混裝工藝。XJ派混裝工藝被認(rèn)為是主流,但在內(nèi)部也存在兩種具體的細(xì)分觀點(diǎn)。

一種觀點(diǎn)認(rèn)為,在無鉛BGA中使用有鉛錫膏焊接時(shí),不需要擔(dān)心無鉛錫球是否熔化,可以完全按照有鉛工藝進(jìn)行操作。這是因?yàn)楦咩UBGA錫球不熔化,只有錫膏會熔化并潤濕錫球,從而完成焊接。這種焊接方式的可靠性同樣滿足Class 3產(chǎn)品的要求。

另一種觀點(diǎn)認(rèn)為無鉛BGA錫球應(yīng)完全熔化,但為了降低器件本體熱沖擊影響,焊接溫度曲線應(yīng)在無鉛工藝的下限和有鉛工藝的上限之間。IPC-7350中建議混合工藝下BGA焊點(diǎn)的溫度為228°C到232°C,實(shí)際上,同一顆BGA內(nèi)部焊點(diǎn)和外部焊點(diǎn)的溫度差異都會超過4°C。這種混合工藝的建議焊接溫度曲線即熔融時(shí)間在60~90秒內(nèi),無鉛BGA錫球的熔化時(shí)間及所受熱能有限,會出現(xiàn)所謂的混合工藝鉛相擴(kuò)散不均勻的現(xiàn)象。

wKgaomYtqwSAW6WtAAI8I8g6aJI168.png

圖1. ENIG混裝工藝鉛相向錫球內(nèi)擴(kuò)散

鉛相擴(kuò)散均勻與焊點(diǎn)可靠性
鉛相擴(kuò)散不均勻的現(xiàn)象是指已經(jīng)熔化的有鉛錫膏中的鉛元素在BGA無鉛錫球熔化后開始擴(kuò)散進(jìn)入錫球,鉛在底部焊錫膏內(nèi),如圖1所示。而鉛相擴(kuò)散均勻是指在完全熔化焊接完成的基礎(chǔ)上,給予更多的熱量和焊接時(shí)間,使金屬原子混合更均勻,鉛相擴(kuò)散均勻。鉛相擴(kuò)散均勻的同時(shí)會產(chǎn)生較厚的IMC層,部分IMC過度生長可能會因基體無力承載導(dǎo)致焊點(diǎn)失效。

wKgZomYtqwqAWPogAAFaRrwBmBg792.png


圖2. 鉛相均勻的混裝工藝

那么,鉛相擴(kuò)散均勻是否代表焊點(diǎn)的強(qiáng)度和可靠性更高?還是鉛相集中在PCB一側(cè)使焊點(diǎn)可靠性更好一些?從邏輯上來說,有鉛焊點(diǎn)的強(qiáng)度大于無鉛焊點(diǎn),而鉛相擴(kuò)散的不均勻并不會降低焊點(diǎn)的強(qiáng)度和可靠性。

需要指出的是,無論是鉛相擴(kuò)散均勻還是不均勻,焊點(diǎn)的可靠性都受到多個(gè)因素的影響,包括焊接溫度曲線、焊接時(shí)間、焊接材料的特性等。同時(shí),焊接工藝的控制、質(zhì)量檢測和可靠性測試也是確保焊點(diǎn)可靠性的重要環(huán)節(jié)。

在實(shí)際生產(chǎn)中,如果焊點(diǎn)的可靠性符合要求,沒有發(fā)現(xiàn)焊接缺陷或故障,那么無需過分擔(dān)心鉛相擴(kuò)散的均勻性或不均勻性。然而,如果產(chǎn)品出現(xiàn)焊點(diǎn)故障或不良問題,鉛相擴(kuò)散不均勻性可能成為問題的一個(gè)指示因素。

審核編輯 黃宇

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
  • 工藝
    +關(guān)注

    關(guān)注

    4

    文章

    681

    瀏覽量

    29431
  • 混裝
    +關(guān)注

    關(guān)注

    0

    文章

    4

    瀏覽量

    6506
  • BGA
    BGA
    +關(guān)注

    關(guān)注

    5

    文章

    571

    瀏覽量

    48581
收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

    評論

    相關(guān)推薦
    熱點(diǎn)推薦

    晶振常見裝工藝及其特點(diǎn)

    常見晶振封裝工藝及其特點(diǎn) 金屬殼封裝 金屬殼封裝堪稱晶振封裝界的“堅(jiān)固衛(wèi)士”。它采用具有良好導(dǎo)電性和導(dǎo)熱性的金屬材料,如不銹鋼、銅合金等,將晶振芯片嚴(yán)嚴(yán)實(shí)實(shí)地包裹起來。這種封裝工藝的優(yōu)勢十分顯著
    的頭像 發(fā)表于 06-13 14:59 ?179次閱讀
    晶振<b class='flag-5'>常見</b>封<b class='flag-5'>裝工藝</b>及其特點(diǎn)

    芯片封裝工藝詳解

    裝工藝正從傳統(tǒng)保護(hù)功能向系統(tǒng)級集成演進(jìn),其核心在于平衡電氣性能、散熱效率與制造成本?。 一、封裝工藝的基本概念 芯片封裝是將半導(dǎo)體芯片通過特定工藝封裝于保護(hù)性外殼中的技術(shù),主要功能包括: 物理保護(hù)
    的頭像 發(fā)表于 04-16 14:33 ?756次閱讀

    電機(jī)故障診斷常見誤區(qū)的剖析

    純分享帖,需要者可點(diǎn)擊附件獲取完整資料~~~*附件:電機(jī)故障診斷常見誤區(qū)的剖析.pdf (免責(zé)聲明:本文系網(wǎng)絡(luò)轉(zhuǎn)載,版權(quán)歸原作者所有。本文所用視頻、圖片、文字如涉及作品版權(quán)問題,請第一時(shí)間告知,刪除內(nèi)容?。?
    發(fā)表于 04-07 17:35

    半導(dǎo)體貼裝工藝大揭秘:精度與效率的雙重飛躍

    隨著半導(dǎo)體技術(shù)的飛速發(fā)展,芯片集成度不斷提高,功能日益復(fù)雜,這對半導(dǎo)體貼裝工藝和設(shè)備提出了更高的要求。半導(dǎo)體貼裝工藝作為半導(dǎo)體封裝過程中的關(guān)鍵環(huán)節(jié),直接關(guān)系到芯片的性能、可靠性和成本。本文將深入分析半導(dǎo)體貼裝工藝及其相關(guān)設(shè)備,探
    的頭像 發(fā)表于 03-13 13:45 ?809次閱讀
    半導(dǎo)體貼<b class='flag-5'>裝工藝</b>大揭秘:精度與效率的雙重飛躍

    DFT的常見誤區(qū)與解決方案

    DFT(離散傅里葉變換)在信號處理領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用,但在使用過程中也常會遇到一些誤區(qū)。以下是對DFT常見誤區(qū)的總結(jié)以及相應(yīng)的解決方案: 常見誤區(qū)
    的頭像 發(fā)表于 12-20 09:32 ?1383次閱讀

    功率模塊封裝工藝

    功率模塊封裝工藝 典型的功率模塊封裝工藝在市場上主要分為三種形式,每種形式都有其獨(dú)特的特點(diǎn)和適用場景。以下是這三種封裝工藝的詳細(xì)概述及分點(diǎn)說明: 常見功率模塊分類 DBC類IPM封裝線
    的頭像 發(fā)表于 12-06 10:12 ?1945次閱讀
    功率模塊封<b class='flag-5'>裝工藝</b>

    功率模塊封裝工藝有哪些

    本文介紹了有哪些功率模塊封裝工藝。 功率模塊封裝工藝 典型的功率模塊封裝工藝在市場上主要分為三種形式,每種形式都有其獨(dú)特的特點(diǎn)和適用場景。以下是這三種封裝工藝的詳細(xì)概述及分點(diǎn)說明: 一
    的頭像 發(fā)表于 12-02 10:38 ?1202次閱讀
    功率模塊封<b class='flag-5'>裝工藝</b>有哪些

    芯片封裝工藝詳細(xì)講解

    芯片封裝工藝詳細(xì)講解
    發(fā)表于 11-29 14:02 ?2次下載

    常見BGA芯片故障及解決方案

    BGA(Ball Grid Array,球柵陣列)芯片在電子設(shè)備中扮演著重要角色,但其也可能出現(xiàn)一些常見故障。以下是一些常見BGA芯片故障及其相應(yīng)的解決方案:
    的頭像 發(fā)表于 11-23 13:54 ?1431次閱讀

    BGA封裝常見故障及解決方法

    BGA(Ball Grid Array,球柵陣列)封裝在電子設(shè)備中廣泛應(yīng)用,但其也可能出現(xiàn)一些常見故障。以下是對這些故障及其解決方法的分析: 一、常見故障 開裂 : 溫度過高 :當(dāng)電子設(shè)備運(yùn)行過熱
    的頭像 發(fā)表于 11-20 09:27 ?2094次閱讀

    邏輯異或的常見誤區(qū)及解決方法

    邏輯異或(Exclusive OR,簡稱XOR)在理解和應(yīng)用過程中,確實(shí)存在一些常見誤區(qū)。以下是對這些誤區(qū)的分析以及相應(yīng)的解決方法: 一、常見誤區(qū)
    的頭像 發(fā)表于 11-19 09:56 ?1030次閱讀

    編程語言的誤區(qū)常見問題

    誤區(qū)一:編程語言的選擇 常見問題: 初學(xué)者在選擇編程語言時(shí),往往會被市場上的熱門語言所吸引,而忽視了自己的實(shí)際需求和興趣。 一些開發(fā)者認(rèn)為某種編程語言是萬能的,適用于所有類型的項(xiàng)目。 解決方案
    的頭像 發(fā)表于 11-15 09:35 ?748次閱讀

    eda的常見誤區(qū)和解決方案

    探索性數(shù)據(jù)分析(EDA)是數(shù)據(jù)分析過程中的重要步驟,它涉及對數(shù)據(jù)的初步檢查和分析,以便更好地理解數(shù)據(jù)集的特征和結(jié)構(gòu)。 誤區(qū)1:忽視數(shù)據(jù)清洗 常見誤區(qū): 在沒有徹底清洗數(shù)據(jù)的情況下就開始進(jìn)行EDA
    的頭像 發(fā)表于 11-13 10:59 ?884次閱讀

    歐姆定律的常見誤區(qū)

    存在一些常見誤區(qū)。 誤區(qū)一:歐姆定律只適用于直流電路 誤區(qū)解釋: 許多人認(rèn)為歐姆定律只適用于直流(DC)電路,而不適用于交流(AC)電路。這種觀點(diǎn)是錯(cuò)誤的,因?yàn)闅W姆定律同樣適用于交流
    的頭像 發(fā)表于 10-28 15:25 ?2767次閱讀

    BGA連接器植球工藝研究

    球柵陣列(Ball Grid Array,BGA)封裝具有體積小、引腳密度高、信號完整性和散熱性能佳等優(yōu)點(diǎn),因而廣泛應(yīng)用于大規(guī)模集成電路的封裝領(lǐng)域。植球工藝作為BGA封裝(連接器)生產(chǎn)中的關(guān)鍵
    的頭像 發(fā)表于 07-15 15:42 ?761次閱讀
    <b class='flag-5'>BGA</b>連接器植球<b class='flag-5'>工藝</b>研究