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淺談BGA、CSP封裝中的球窩缺陷

jf_17722107 ? 來源:jf_17722107 ? 作者:jf_17722107 ? 2024-04-10 09:08 ? 次閱讀
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隨著BGA、CSP封裝器件向密間距、微型化的方向發(fā)展,無鉛制程的廣泛應(yīng)用給電子裝聯(lián)工藝帶來了新的挑戰(zhàn)。球窩(Pillow-head Effect)缺陷是BGA、CSP類器件回流焊接中特有的一種缺陷形態(tài)。如圖所示,焊料球和焊錫之間沒有完全熔合,而是像枕頭一樣放在一個窩里或一個堆上。這種缺陷經(jīng)常發(fā)生在BGA、CSP器件的回流焊接中,在無鉛制程中更加明顯。

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這種缺陷不易被檢測出來,因為焊料球和焊錫之間往往有部分連接。所以電路可能能夠通過功能測試、光學(xué)檢查和ICT測試。但是,由于焊料之間沒有真正熔混,焊點不牢固,可能會在后續(xù)的工藝或使用過程中導(dǎo)致失效。例如,在焊接工藝之后,存在球窩缺陷的PCBA可能會在后續(xù)的組裝工藝、運輸過程中因為熱脹冷縮或者在現(xiàn)場經(jīng)受長時間的電流負(fù)荷而失效。因此,球窩缺陷的危害性是極大的。

球窩產(chǎn)生的機(jī)理
1.錫膏或焊料球的可焊性不良。
2.錫膏印刷和貼片精度影響。如果錫膏印刷不均勻或不準(zhǔn)確,或者貼片位置偏移,會導(dǎo)致焊料球和焊錫之間的接觸不良,從而形成球窩。
4.BGA焊球的共面性不好。如果BGA封裝器件的焊球高度不一致,會導(dǎo)致部分焊點受力不均勻,從而造成翹曲或斷裂。
5.芯片翹曲或芯片溫度不均勻,存在溫差。如果芯片在回流焊接過程中受熱不均勻,或者在回流焊接前后發(fā)生翹曲,都會導(dǎo)致芯片與PCB基材之間的熱膨脹系數(shù)不匹配,從而產(chǎn)生應(yīng)力和變形。這會使得部分焊點失去接觸或分離,形成球窩。

抑制球窩現(xiàn)象的措施
1.優(yōu)化回流工藝:選擇溫度較高、時間較長的均熱區(qū),確保焊料迅速達(dá)到液相線狀態(tài)。
2.選用合適的錫膏:采用抗熱坍塌能力強(qiáng),去CuO(Cu2O)、SnO(SnO2)效果良好的錫膏;
3.改善熱風(fēng)回流的均熱能力,最好采用“熱風(fēng)+紅外”復(fù)合加熱方式,能有效改善封裝體上溫度的均勻性。
4.加強(qiáng)對回流爐排氣系統(tǒng)的監(jiān)控,確保排氣管道順暢有效。

福英達(dá)錫膏
深圳市福英達(dá)公司自主研發(fā)和生產(chǎn)的SiP系統(tǒng)級封裝錫膏Fitech siperiorTM 1550/1565,粒徑T8、T9,最小印刷/點膠點φ=70/50μm,可穩(wěn)定用于μBGA預(yù)置。在實際應(yīng)用中體現(xiàn)出優(yōu)異的印刷性、脫模轉(zhuǎn)印性、形狀和穩(wěn)定保持性及足量且均勻的印刷量。長時間印刷后無錫珠、橋連缺陷。歡迎來電咨詢。

審核編輯 黃宇

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