光學(xué)檢測(cè)作為智能制造的關(guān)鍵一環(huán)，一直以來肩負(fù)著工業(yè)制造過程中產(chǎn)品質(zhì)量、精度和性能等方面的重要保證。近年來，更是被廣泛用于消費(fèi)電子、半導(dǎo)體芯片，汽車零部件等質(zhì)量檢測(cè)中，為制造業(yè)從材料分析到生產(chǎn)，再到裝配及失效分析全面賦能，向高質(zhì)量發(fā)展努力轉(zhuǎn)型。

蔡司代理三本精密儀器獲悉，在即將于上海新國(guó)際博覽中心（3月20-22日）舉辦的2024慕尼黑“上海光博會(huì)”（LASER WORLD of PHOTONICS CHINA2024）上，「質(zhì)量」專家蔡司將再度攜一眾質(zhì)量解決方案重磅登場(chǎng)——屆時(shí)，您將領(lǐng)略蔡司最新光學(xué)系統(tǒng)復(fù)合式檢測(cè)解決方案，，顯微分析質(zhì)量解決方案，連接器無損檢測(cè)解決方案，藍(lán)光三維光學(xué)掃描質(zhì)量解決方案等。

而更值得期待的是，展會(huì)首日，蔡司還將正式發(fā)布旗下顯微鏡家族的新品ZEISS Axio Zoom.V16，這款兼具高分辨率與高效率的蔡司數(shù)碼顯微鏡究竟將帶來哪些創(chuàng)新？3月20日上午11：00，蔡司展臺(tái)W4102，我們將現(xiàn)場(chǎng)為您揭曉，敬請(qǐng)期待！

先劇透現(xiàn)場(chǎng)部分精彩

看點(diǎn)1
復(fù)合式質(zhì)量解決方案 | 電子器材
挑戰(zhàn)：電子領(lǐng)域背板連接器測(cè)量挑戰(zhàn)
蔡司解決方案 | O-DETECT 322復(fù)合式檢測(cè)
高效光學(xué)測(cè)量 更高檢測(cè)效率
全景相機(jī)導(dǎo)航 方便編程
軟件系統(tǒng) 功能強(qiáng)大卻簡(jiǎn)單易學(xué)

看點(diǎn)2
CT檢測(cè)質(zhì)量解決方案 | 電子產(chǎn)品
連接器產(chǎn)業(yè)鏈的測(cè)量挑戰(zhàn)（從生產(chǎn)到裝配及失效分析）
蔡司解決方案 | ZEISS METROTOM | 生產(chǎn)過程
一臺(tái)設(shè)備具備多種功能包括但不限于GD&T檢測(cè)，失效分析，非破壞性測(cè)試
借助孔隙率分析功能優(yōu)化注塑工藝參數(shù)
低使用成本、低維護(hù)成本、較小占地面積（1.6㎡）
多工件批量掃描、自動(dòng)化檢測(cè)腳本，有效節(jié)約人力和時(shí)間

蔡司解決方案 | ZEISS METROTOM + ZEISS INSPECT X-Ray | 裝配及失效分析
在整個(gè)測(cè)量范圍內(nèi)具備可追溯的計(jì)量精度
ZEISS INSPECT X-Ray 簡(jiǎn)便易用，功能強(qiáng)大
無損檢測(cè)，無需剖切
ZEISS Metrotom多樣產(chǎn)品序列滿足客戶各種需求
AMMAR 及BHC各類偽影校正功能，顯著提升圖像質(zhì)量