據(jù)2月24日報道,佛羅里達(dá)大學(xué)研究團(tuán)隊推測出一款名為“VoltSchemer”的新型攻擊技術(shù),可通過侵入無線充電器,在充電過程中引發(fā)手機(jī)過溫直至火災(zāi)風(fēng)險。
盡管此類攻擊技術(shù)實現(xiàn)較困難且需物理接觸無線充電器,但對廣大普通用戶無需過度擔(dān)憂。此次實驗主要旨在揭示此潛在威脅。
VoltSchemer打著新型攻擊技術(shù)的旗號,主要針對目前熱門的無線充電器,通過改變設(shè)備電源的輸出電壓,進(jìn)而引起電磁干擾,使智能手機(jī)無法正常發(fā)聲或執(zhí)行其他相關(guān)功能。
QI標(biāo)準(zhǔn)已對充電安全性有所保障,已設(shè)定當(dāng)電量充裕時即停止充電。然而,VoltSchemer趁虛而入,利用這一漏洞,使防護(hù)措施形同虛設(shè)。
在實驗室內(nèi)進(jìn)行的測試顯示,VoltSchemer攻擊能使三星Galaxy S8手機(jī)溫度上升至81攝氏度;同時,還會影響到充電器外表其它金屬物質(zhì),如放置于其上的夾子亦可升溫至280攝氏度,輕松熔化閃存盤,甚至引發(fā)過熱及數(shù)據(jù)丟失等問題。
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