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測試開關(guān)電源的輸入電壓跌落和輸出動態(tài)負(fù)載的方法分享

納米軟件(系統(tǒng)集成) ? 來源: 納米軟件(系統(tǒng)集成) ? 作者: 納米軟件(系統(tǒng)集 ? 2024-01-08 15:27 ? 次閱讀
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開關(guān)電源輸入電壓跌落和輸出動態(tài)負(fù)載測試

電壓跌落是指電源電壓突然從額定值降到某一電勢點(diǎn),從而引起用電設(shè)備線路電流突然變化,形成電勢沖擊造成損壞。

在開關(guān)電源使用過程中,當(dāng)輸入電壓跌落時,開關(guān)電源突加負(fù)載的情況是可能發(fā)生的,此時功率器件、磁性元件工作在大瞬態(tài)電流狀態(tài)。輸入電壓跌落和輸出動態(tài)負(fù)載測試可以檢驗(yàn)控制時序、限流保護(hù)等電路及軟件設(shè)計(jì)的合理性。

開關(guān)電源輸入電壓跌落及輸出動態(tài)負(fù)載測試流程

1. 將輸入電壓調(diào)整為在欠壓點(diǎn)+5v(持續(xù)時間為5s)、過壓點(diǎn)-5v(持續(xù)時間為5s)之間跳變,輸出調(diào)整在大負(fù)載(大額定容量,持續(xù)時間為500ms)、空載(持續(xù)時間為500ms)之間跳變,運(yùn)行1小時。

2. 將輸入電壓調(diào)整為在欠壓點(diǎn)+5v(持續(xù)時間為5s)、過壓點(diǎn)-5v(持續(xù)時間為5s)之間跳變,輸出調(diào)整在大負(fù)載(大額定容量,持續(xù)時間為1s)、空載(持續(xù)時間為500ms)之間跳變,運(yùn)行1小時。

測試結(jié)束后,開關(guān)電源如果能正常運(yùn)行,沒有損壞或沒出現(xiàn)其它情況,說明開關(guān)電源合格。

開關(guān)電源的質(zhì)量、性能和穩(wěn)定性還可以通過其它指標(biāo)檢測,如紋波噪聲、電流波形、過流保護(hù)、過壓保護(hù)等,為了可以更快速、更便捷、更高效的進(jìn)行電源模塊測試,可以用開關(guān)電源自動化測試系統(tǒng)測試,系統(tǒng)有很強(qiáng)的靈活性,儀器靈活、操作靈活、分析靈活、數(shù)據(jù)報告靈活,不僅實(shí)現(xiàn)設(shè)備自由更換完成測試,而且系統(tǒng)的數(shù)據(jù)分析可以幫助指導(dǎo)電源的設(shè)計(jì)和生產(chǎn),以數(shù)據(jù)驅(qū)動生產(chǎn)力。

審核編輯 黃宇

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