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太陽光下不同光照條件HUD抬頭顯示器機(jī)載光電系統(tǒng)性能模擬器

kyf763372625 ? 來源:kyf763372625 ? 作者:kyf763372625 ? 2023-12-29 15:09 ? 次閱讀
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前言

抬頭顯示(HUD)技術(shù)在汽車、飛機(jī)等交通工具中的應(yīng)用越來越普遍,為駕駛員或用戶提供了重要的信息,使其無需移開目光即可獲取關(guān)鍵數(shù)據(jù)。然而,為了確保HUD系統(tǒng)在各種環(huán)境條件下都能提供清晰可見的信息,全光譜日照模擬器成為不可或缺的關(guān)鍵技術(shù)。本文將深入探討為什么HUD應(yīng)用需要使用全光譜日照模擬器。


機(jī)載光電系統(tǒng)測(cè)試中常見的問題


HUD干擾太陽光模擬器是機(jī)載光電系統(tǒng)測(cè)試中常見的問題之一。在機(jī)載光電系統(tǒng)測(cè)試中,太陽光模擬器是一種重要的測(cè)試設(shè)備,它可以模擬不同光照條件下的機(jī)載光電系統(tǒng)性能,為系統(tǒng)優(yōu)化和調(diào)試提供數(shù)據(jù)支持。然而,當(dāng)太陽光模擬器與HUD交叉作用時(shí),會(huì)出現(xiàn)干擾現(xiàn)象,影響測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確度。
HUD干擾太陽光模擬器的原因是由于HUD產(chǎn)生的光束與太陽光模擬器的光束交叉作用,導(dǎo)致測(cè)試信號(hào)受到干擾。具體來說,在太陽光模擬器測(cè)試時(shí),由于HUD的反光效果,HUD顯示的光束往往會(huì)反射在測(cè)試物表面,并與太陽光模擬器的光束發(fā)生交叉作用。這種交叉作用會(huì)導(dǎo)致太陽光模擬器的光束信號(hào)被干擾,從而影響測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確度。
模擬器會(huì)產(chǎn)生一系列的影響。首先,HUD的光束干擾會(huì)使太陽光模擬器測(cè)試信號(hào)的噪聲增加,從而影響測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確度。其次,HUD干擾還會(huì)導(dǎo)致太陽光模擬器的測(cè)試信號(hào)偏離真實(shí)值,無法準(zhǔn)確反映機(jī)載光電系統(tǒng)的實(shí)際性能。HUD干擾還會(huì)影響測(cè)試效率和質(zhì)量,增加測(cè)試成本和時(shí)間。

審核編輯 黃宇


解決方法

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一種方法是選擇高質(zhì)量的HUD。由于HUD的反光效果是導(dǎo)致干擾的主要原因之一,因此選擇高質(zhì)量的HUD可以減少反光效果,從而降低干擾的程度。
2、二種方法是調(diào)整光路。將HUD與太陽光模擬器分離,通過調(diào)整光路、改變光線方向來使兩者光束不發(fā)生交叉作用,從而消除干擾。
3、三種方法是增加濾光器。在太陽光模擬器系統(tǒng)中添加濾光器,可以通過吸收或反射掉HUD反射光的部分波長(zhǎng),以減輕干擾效果。
HUD干擾太陽光模擬器是機(jī)載光電系統(tǒng)測(cè)試中常見的問題。通過選擇高質(zhì)量的HUD、調(diào)整光路和增加濾光器等方法,可以有效減輕或消除干擾效果,保證測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。
在機(jī)載光電系統(tǒng)測(cè)試過程中,HUD(平視顯示器)干擾太陽光模擬器問題頗為常見。太陽光模擬器作為關(guān)鍵測(cè)試設(shè)備,能夠模擬各種光照條件下的機(jī)載光電系統(tǒng)性能,為系統(tǒng)優(yōu)化和調(diào)試提供數(shù)據(jù)支撐。然而,當(dāng)太陽光模擬器與HUD相互作用時(shí),會(huì)產(chǎn)生干擾現(xiàn)象,從而影響測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。
HUD對(duì)太陽光模擬器產(chǎn)生干擾的原因在于,HUD發(fā)出的光束與太陽光模擬器光束相互交叉,導(dǎo)致測(cè)試信號(hào)受到干擾。具體而言,在太陽光模擬器測(cè)試過程中,HUD的反光效果使得其顯示的光束往往會(huì)在測(cè)試物表面反射,并與太陽光模擬器光束產(chǎn)生交叉。這種交叉作用會(huì)干擾太陽光模擬器光束信號(hào),進(jìn)而影響測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。
該干擾現(xiàn)象會(huì)引發(fā)一系列影響。首先,HUD光束干擾導(dǎo)致太陽光模擬器測(cè)試信號(hào)噪聲增加,準(zhǔn)確性受到負(fù)面影響。其次,干擾導(dǎo)致測(cè)試信號(hào)偏離真實(shí)值,無法準(zhǔn)確反映機(jī)載光電系統(tǒng)實(shí)際性能。此外,干擾還影響測(cè)試效率和質(zhì)量,增加測(cè)試成本和時(shí)間。
為解決這一問題,有以下幾種方法可行:
1.選擇高質(zhì)量HUD:由于HUD反光效果是干擾的主要原因之一,選用高質(zhì)量HUD可以降低反光效果,從而減輕干擾程度。
2.調(diào)整光路:將HUD與太陽光模擬器分離,通過調(diào)整光路或改變光線方向,使兩者光束避免交叉作用,從而消除干擾。
3.增加濾光器:在太陽光模擬器系統(tǒng)中添加濾光器,通過吸收或反射HUD反射光的部分波長(zhǎng),以減輕干擾效果。
通過采用上述方法,可以有效減輕或消除HUD對(duì)太陽光模擬器的干擾,確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。


太陽光模擬器設(shè)備技術(shù)參數(shù)

主要特點(diǎn):
1)輸出太陽光 0.3 至 1.2Sun 連續(xù)可調(diào);
2)出光方向:垂直向下,垂直向上,水平向左,水平向右;
3)輻射面積:40mm×40mm、50mm×50mm、100mm×100mm 、150mm×150mm、200mm×200mm、300mm×300mm ;
4)準(zhǔn)直角度:<= 2.5 度半角;
5)光譜匹配度: AM1.5G,(0.75-1.25),A ;
6)輻射空間均勻性:< ?2%,A ;
7)時(shí)間不穩(wěn)定性:< ?2%,A ;?
8)波長(zhǎng)250nm-3000nm
9)光照匹配度、輻照空間均勻性、時(shí)間不穩(wěn)定性符合國(guó)際三大標(biāo)準(zhǔn)(3A):JIS C 8912, ASTM E927-05, IEC 60904-9


結(jié)語

HUD系統(tǒng)是一種在駕駛中提供信息的重要裝置,而駕駛場(chǎng)景中光照條件千差萬別。在全光譜日照模擬器中,準(zhǔn)直光源起著重要作用。準(zhǔn)直光源能夠產(chǎn)生平行光,模擬太陽光線的直射效果,從而更加真實(shí)地模擬不同時(shí)間、不同天氣條件下的太陽光譜。這包括光的顏色、強(qiáng)度和角度等變化。通過準(zhǔn)直光源的模擬,實(shí)驗(yàn)室環(huán)境中能夠更準(zhǔn)確地模擬真實(shí)駕駛場(chǎng)景,確保HUD在各種光照條件下的可見性和性能。

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