工業(yè)CT斷層掃描儀的精度主要由三個(gè)指標(biāo)來(lái)衡量：空間分辨率、對(duì)比度分辨率和測(cè)量誤差。

1、空間分辨率
空間分辨率指的是工業(yè)CT在一定物質(zhì)密度下能分辨物體最小特征大小的能力。通常用線對(duì)線距離、點(diǎn)對(duì)點(diǎn)距離、透過(guò)孔大小等表達(dá)。在實(shí)際應(yīng)用過(guò)程中，空間分辨率既與工業(yè)CT系統(tǒng)本身的分辨率有關(guān)，也與X射線源的能量有關(guān)。

2、對(duì)比度分辨率
對(duì)比度分辨率指的是工業(yè)CT在對(duì)物體進(jìn)行成像時(shí)，能夠清晰區(qū)分物體內(nèi)部的不同密度區(qū)域，并能夠獲取到物體的同質(zhì)性與異質(zhì)性分布情況。工業(yè)CT的對(duì)比度分辨率主要受到工業(yè)CT系統(tǒng)本身的能量分辨率、X射線源的能量和檢測(cè)器靈敏度等因素的影響。

3、測(cè)量誤差
測(cè)量誤差指的是工業(yè)CT測(cè)量結(jié)果與真實(shí)值之間可能存在的偏差。在工業(yè)CT的應(yīng)用中，測(cè)量誤差主要來(lái)自于X射線源與檢測(cè)器之間對(duì)工件的不同立體角度，以及X射線源、檢測(cè)器和工件之間的相對(duì)運(yùn)動(dòng)造成的誤差。在修正方面，校準(zhǔn)方法包括標(biāo)準(zhǔn)工件校準(zhǔn)法、省略式標(biāo)定法等眾多，常用的還有數(shù)據(jù)疊加法校準(zhǔn)、數(shù)據(jù)后處理法等方式。

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