非接觸精密除塵設(shè)備在AI芯片領(lǐng)域的應(yīng)用主要包括以下幾個(gè)方面：

芯片封裝過(guò)程：在AI芯片的封裝過(guò)程中，非接觸除塵設(shè)備可以用于清除芯片封裝后產(chǎn)生的異物，保證芯片的清潔度和質(zhì)量。

FAB設(shè)備中的輔助清潔：非接觸除塵設(shè)備可以內(nèi)置于FAB設(shè)備中，輔助搬運(yùn)機(jī)器人傳遞晶圓過(guò)程中的清潔，確保生產(chǎn)過(guò)程中的衛(wèi)生和潔凈度。

晶圓研磨后期的異物清除：在晶圓研磨后期，非接觸除塵設(shè)備可以用于清除晶圓表面的異物，保證晶圓的清潔度和質(zhì)量。

內(nèi)存芯片激光標(biāo)記后的殘留物清除：在內(nèi)存芯片進(jìn)行激光標(biāo)記后，非接觸除塵設(shè)備可以清除標(biāo)記后的殘留異物，保證芯片的質(zhì)量和性能。

芯片流轉(zhuǎn)用托盤的異物清除：在芯片流轉(zhuǎn)過(guò)程中，非接觸除塵設(shè)備可以用于清除托盤上的異物，保證生產(chǎn)過(guò)程中的衛(wèi)生和潔凈度。

芯片貼片前后的異物去除：在芯片貼片前后，非接觸除塵設(shè)備可以用于去除芯片表面的異物，保證芯片的質(zhì)量和性能。

此外，非接觸式除塵設(shè)備還廣泛應(yīng)用于其他領(lǐng)域，如半導(dǎo)體、芯片、封裝、AOI視覺(jué)檢測(cè)設(shè)備、顯示器檢測(cè)領(lǐng)域等。這些領(lǐng)域的應(yīng)用可以涉及芯片制造、檢測(cè)、封裝等各個(gè)環(huán)節(jié)，旨在保證芯片的清潔度和質(zhì)量，提高生產(chǎn)效率和產(chǎn)品性能。

審核編輯 黃宇