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2D/3D 熱分析和三裸片堆疊設(shè)計實現(xiàn)

深圳(耀創(chuàng))電子科技有限公司 ? 2023-09-16 08:28 ? 次閱讀
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Cadence員工Mohamed Naeim 博士曾在CadenceLIVE 歐洲用戶大會上做過一場題為《2D/3D 熱分析和三裸片堆疊設(shè)計實現(xiàn)》的演講,本文將詳細講述該演講內(nèi)容。

實驗:兩個裸片是否優(yōu)于一個裸片?

由于線長縮短,3D-IC 會減少功耗,帶來性能提升。在此,3D-IC 指的是將一個裸片(或兩個)擺放在另一個裸片之上,而不是指基于中介層的設(shè)計。在這種情況下,由于兩個裸片之間的熱量不易散出,將兩個裸片堆疊在一起會導(dǎo)致溫度升高。3D 熱分析建立在對每個裸片進行熱分析的基礎(chǔ)之上,因此必須要先進行有效的 2D 熱分析。

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上圖是實驗設(shè)置。使用 Cadence Voltus IC Power Integrity Solution 生成用于熱仿真的功耗圖,然后再用 Celsius Thermal Solver 生成熱功耗圖。這樣就能對功耗、壓降和電子遷移進行兼顧熱影響的分析。

使用的實驗設(shè)計是一個多核心集群,有 256 個 32 位 RISC-V 內(nèi)核,無 L2 高速緩存,和一個 MemPool 組。該集群有 200 萬標(biāo)準(zhǔn)單元和 384 個內(nèi)存宏。由于線長較短,簡單地將設(shè)計隨意一分為二,的確可以實現(xiàn) 3D-IC 設(shè)計的性能提高,但正如預(yù)期的那樣,與 2D 基線(將整個芯片設(shè)計成一個裸片)相比,溫度有所升高。

可以采用三種方法來改善這種情況:


改進封裝和冷卻技術(shù)

不要按 1:1 的比例拆分設(shè)計,而是將存儲單元放置在邏輯單元上 (Memory-on-Logic ,MoL)

或者反過來,將邏輯單元放置在存儲單元上 (Logic-on-Memory,LoM)

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上圖左側(cè)顯示的是基線(全部位于一個裸片上),右側(cè)顯示的是相應(yīng)的 3D 設(shè)計,整個設(shè)計對半拆分成頂部和底部裸片。

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上圖是 3D 版本中各層的堆疊方式。底部裸片的基板厚度為 300 納米,總厚度為 6.2 微米。底層裸片有一個背面電源分配網(wǎng)絡(luò) (Backside Power Delivery Network ,BSPDN)。頂部裸片沒有背面金屬,硅基板厚度為 500 微米,BEOL 厚度為 1.4 微米,總厚度為 501.4 微米。這是一個普通的正面電源分配網(wǎng)絡(luò)。

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這不僅僅是兩個裸片那么簡單。底部有 PCB,還帶焊球,頂部有散熱器和散熱片,中間還有鍵合層。

實驗結(jié)果

以 1.5GHz 的工作頻率進行功耗密度評估,在活動性為 10% 時進行靜態(tài)功耗分析。邏輯裸片的功耗密度因更小的 footprint 和緩沖器的插入而有所增加。邏輯裸片的功耗密度比 2D 基線設(shè)計高 2.15 倍。

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將 2D-Mix、MoL 和 LoM 進行比較,不難看出:由于采用了 BSPDN,底層裸片基底為 300 納米。對于采用 MoL 和 LoM 的 3D-IC,其最高溫度分別提高了 29.9°C 和 27.2°C(見上圖)。

三裸片堆疊

之所以采用堆疊三個而非兩個裸片的設(shè)計,是因為系統(tǒng)級芯片(SoC))以存儲器為主導(dǎo)。例如,一個擁有 L1 高速緩存、64 個內(nèi)核、4 個 DMA 通道和 128 位寬 L2 高速緩存的多核 SoC,存儲器就占了 68% 的硅面積。


將三個裸片堆疊在一起,可以讓更多存儲器宏位于上層裸片上,從而改善 PPA。

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上圖展示了如何使用 Cadence Integrity 3D-IC 工具實現(xiàn)三裸片堆疊設(shè)計。

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如上圖所示,它屬于存儲器-存儲器-邏輯堆疊,上面兩個裸片上只有存儲器。這項工作仍在進行中,因此 Mohamed 尚未報告功耗和散熱結(jié)果。

結(jié)論

與 2D 基線相比,3D 設(shè)計的溫度更高

LoM 的最高溫度比 MoL 的最高溫度低 2.7℃

在 3D-IC 設(shè)計中考慮熱效應(yīng)非常重要:

兼顧熱影響的壓降(增加 4.7%)

兼顧熱影響的電源網(wǎng)絡(luò)阻抗(增加 2.8%)

多裸片(兩個以上)堆疊有望解決“內(nèi)存墻”(Memory Wall) 瓶頸

下一步是為大型 SoC 實現(xiàn)三裸片堆疊,并進行全面的熱分析。

這些多裸片堆疊的最終結(jié)果是將 PPAC 變?yōu)?PPACT(功耗、性能、面積、成本、溫度)。

多裸片堆疊為設(shè)計人員提高良率、PPA、拓展功能提供了一種未來方向。從 PPAC 到 PPACT,Cadence Celsius Thermal Solver 與用于 IC 封裝/PCB 的 Sigrity 技術(shù)相集成,能夠?qū)崿F(xiàn)精確的電熱協(xié)同仿真和熱分析,助力團隊?wèi)?yīng)對熱升溫挑戰(zhàn)。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
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