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NAND閃存加速度,推動Multi-Die驗(yàn)證新范式

新思科技 ? 來源:未知 ? 2023-07-18 17:55 ? 次閱讀
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今天,高速發(fā)展的電子產(chǎn)品已經(jīng)成為了人們生產(chǎn)生活必不可少的工具。除了筆記本、智能手機(jī),云計(jì)算物聯(lián)網(wǎng)、車載安防等各個場景都高度依賴著強(qiáng)大的運(yùn)行速度和內(nèi)存。而當(dāng)今,最有發(fā)展?jié)摿Φ拇鎯夹g(shù)莫過于3D NAND閃存,所有主要閃存制造商都在積極采用各種方法來降低閃存的每位成本,同時創(chuàng)造出適用于各種應(yīng)用的產(chǎn)品。閃存制造商還在積極展開研究,期望能夠擴(kuò)展3D NAND閃存的垂直層數(shù)。雖然15nm似乎是NAND閃存目前能夠達(dá)到的最小節(jié)點(diǎn),但開發(fā)者依然在不懈地追求縮小閃存的光刻節(jié)點(diǎn)。此外, 閃存制造商也在積極探索將MLC和TLC技術(shù)與3D NAND閃存技術(shù)相結(jié)合, 許多制造商已經(jīng)看到了勝利的曙光。

然而,NAND設(shè)計(jì)IP仍然面臨更多挑戰(zhàn)。如何使驗(yàn)證變得更加高效?新思科技的NAND閃存驗(yàn)證IP提供了一套全面的協(xié)議、方法、驗(yàn)證和效率功能, 使開發(fā)者能夠加速實(shí)現(xiàn)驗(yàn)證收斂。

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NAND閃存簡介

  • 固態(tài)驅(qū)動器(SSD)、手機(jī)存儲、嵌入式內(nèi)存卡、USB設(shè)備等等均采用NAND非易失性存儲技術(shù)實(shí)現(xiàn)

  • RAM(比如DRAM、SRAM)不同,非易失性內(nèi)存(NVM)能夠在斷電時保留所含的數(shù)據(jù)

  • 工業(yè)用戶需要在斷電時也能保護(hù)數(shù)據(jù)的存儲解決方案,因此NVM對他們極具吸引力

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NAND閃存類型

隨著時間的推移,NAND閃存的位密度一直不斷增加。早期的NAND設(shè)備是單層單元(SLC)閃存,這表示每個閃存單元只能存儲一位數(shù)據(jù)?,F(xiàn)在,借助多層單元(MLC)技術(shù),閃存的每個單元可以存儲兩位或更多數(shù)據(jù),因此位密度得到提高。這聽起來不錯,但MLC也有缺點(diǎn):MLC NAND支持多種電氣狀態(tài),這也會增加錯誤率并降低耐久性。一些設(shè)備支持將部分(或全部)存儲修改為偽 SLC(PSLC)模式。

這樣可以減小存儲尺寸并提高設(shè)備的耐久性。由于閃存的價(jià)值取決于芯片面積,如果在同等面積內(nèi)可以存儲更多數(shù)據(jù),那么閃存將更具成本效益。NAND閃存主要分為四種類型:單層單元(SLC)、多層單元(MLC)、三層單元(TLC)和四層單元(QLC)。

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3D NAND 技術(shù)

近十年來,3D NAND(亦稱垂直NAND)是閃存市場最大的創(chuàng)新之一。閃存制造商開發(fā)了3D NAND來解決縮減2D NAND尺寸時遇到的問題,旨在以更低的成本實(shí)現(xiàn)更高的存儲密度。此外,這項(xiàng)技術(shù)還帶來了速度提升、耐久性增加和功耗降低。與2D NAND中不同,制造商選擇在另一個維度上堆疊單元,因而創(chuàng)造了單元垂直堆疊的3D NAND。堆疊消除了單元尺寸縮小時會產(chǎn)生的電氣干擾。由于存儲密度更高,因此能夠?qū)崿F(xiàn)更大的存儲容量,而價(jià)格卻不會大幅上升。此外,3D NAND還具有更好的耐久性和更低的功耗。

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3D NAND

目前,各大SSD供應(yīng)商都在銷售3D NAND SSD。例如,借助該項(xiàng)技術(shù),三星的新款NVMe NF1 SSD中裝載了8 TB的閃存。英特爾公司、三星海力士、SK以及東芝的合作伙伴Western Multimedia Corporation都是當(dāng)下領(lǐng)先的3D NAND閃存制造商。總體而言,NAND是一種非常重要的存儲技術(shù),因?yàn)樗軌蛞暂^低的每位成本提供快速的擦除和寫入速度。數(shù)據(jù)中心、電信、汽車、個人電腦等各行各業(yè)都在從HDD過渡到SSD,這種過渡推動了NAND技術(shù)的不斷發(fā)展,從而滿足消費(fèi)者日益增長的存儲需求。

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NAND閃存的主要特性

  • 有效防止損耗(磨損均衡):智能閃存驅(qū)動器使用損耗均衡技術(shù),該技術(shù)可以盡可能確保所有閃存單元的磨損程度相近,而不是過度損耗某一些閃存單元。限制每頁的程序數(shù)量可以實(shí)現(xiàn)適當(dāng)?shù)男酒瑩p耗均衡。

  • 檢測和糾正錯誤(糾錯碼):NAND非易失性存儲器在正常運(yùn)行過程中通常會在某一時刻出現(xiàn)輕微的數(shù)據(jù)損壞。這可能是由于磨損或其他干擾造成的。因此,信息由糾錯碼(ECC)保護(hù)有助于檢測損壞的數(shù)據(jù)及糾正信息。

  • 壞塊處理能力:ECC提供了將被糾正的比特?cái)?shù),并為檢測到的最大錯誤數(shù)定義了閾值。一旦達(dá)到閾值,信息就會被糾正,并被移動到設(shè)備上的正確塊。之前的位置被標(biāo)記為壞塊。壞塊不再被使用,因?yàn)樗鼈兛赡芤褤p壞。

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內(nèi)存驗(yàn)證挑戰(zhàn)與新思科技驗(yàn)證解決方案:

設(shè)計(jì)NAND閃存IP的過程中存在著各種挑戰(zhàn),而新思科技驗(yàn)證解決方案可以幫助開發(fā)者克服所有這些挑戰(zhàn):

  • 不斷增長的內(nèi)存大?。?/span>新思科技的可配置內(nèi)存解決方案提供各種密度范圍驗(yàn)證ONFI驗(yàn)證IP,能夠驗(yàn)證LUN、目標(biāo)、塊、頁以及每頁數(shù)據(jù)字節(jié)數(shù)等等。

  • 更高的速度支持:憑借雙向源同步DQS和可擴(kuò)展I/O接口,NAND閃存接口能夠提供更快的速度,最高可達(dá)3600MTs。

  • 多控制器設(shè)計(jì):新思科技驗(yàn)證IP的可配置參數(shù)頁面為控制、器提供了所有器件的相關(guān)功能,從而能夠加快設(shè)計(jì)、認(rèn)證和測試速度。參數(shù)頁面通過描述修訂信息、功能、組織時間以及其他供應(yīng)商特定數(shù)據(jù),解決了器件之間的不一致問題。

  • 接口切換:內(nèi)存解決方案支持在異步和源同步模式之間進(jìn)行切換。

  • 外形尺寸小:先進(jìn)的裸片選擇功能可以減少芯片使能(CE)引腳的數(shù)量,進(jìn)而能夠減少控制器引腳的數(shù)量,從而提高PCB布線效率(固態(tài)驅(qū)動器(SSD)、手機(jī)存儲、嵌入式內(nèi)存卡、USB設(shè)備等等均采用NAND非易失性存儲技術(shù)實(shí)現(xiàn))。

  • 供應(yīng)商支持:美光、三星、賽普拉斯半導(dǎo)體、華邦以及鎧俠等各大公司均提供了廣泛的市場支持,并且各家供應(yīng)商均提供了特定零部件支持功能。

  • 調(diào)試時間:原生集成Verdi協(xié)議分析器、跟蹤文件、調(diào)試端口、詳細(xì)錯誤信息功能。

  • 各種覆蓋模型:內(nèi)置覆蓋模型和驗(yàn)證計(jì)劃、配置使隨機(jī)測試平臺能夠完全覆蓋所有配置和所有供應(yīng)商組件。

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總結(jié)與展望

所有主要閃存制造商都在積極采用各種方法來降低閃存的每位成本,同時創(chuàng)造出適用于各種應(yīng)用的產(chǎn)品。閃存制造商還在積極展開研究,期望能夠擴(kuò)展3D NAND閃存的垂直層數(shù)。雖然15nm似乎是NAND閃存目前能夠達(dá)到的最小節(jié)點(diǎn),但開發(fā)者依然在不懈地追求縮小閃存的光刻節(jié)點(diǎn)。此外,閃存制造商也在積極探索將MLC和TLC技術(shù)與3D NAND閃存技術(shù)相結(jié)合,許多制造商已經(jīng)看到了勝利的曙光。隨著新技術(shù)的出現(xiàn),有望很快能夠?qū)崿F(xiàn)每個內(nèi)存單元可以存儲一個字節(jié)的數(shù)據(jù),而垂直層數(shù)則可以達(dá)到256層甚至更多。

目前,市面上的NAND閃存產(chǎn)品使用以下兩種接口:開放式NAND閃存接口(ONFI)和Toggle NAND接口(TNAND、3DNAND)。新思科技的NAND閃存驗(yàn)證IP提供了一套全面的協(xié)議、方法、驗(yàn)證和效率功能,使開發(fā)者能夠加速實(shí)現(xiàn)驗(yàn)證收斂。此外,新思科技的驗(yàn)證解決方案允許開發(fā)者根據(jù)需要隨機(jī)配置閃存的多種選項(xiàng),這樣不僅可以滿足IP和SoC層面的要求,而且還可以支持三星、美光、華邦、東芝和鎧俠等供應(yīng)商的特定零部件。

新思科技驗(yàn)證IP原生集成了新思科技的Verdi協(xié)議分析器調(diào)試解決方案以及Verdi性能分析器。新思科技驗(yàn)證IP可以在運(yùn)行時動態(tài)切換速度配置,并提供了一組廣泛且可定制的幀生成和錯誤注入功能。

在SoC上運(yùn)行系統(tǒng)級有效載荷需要更快的、基于硬件的流片前解決方案?;谛滤伎萍糏P的新思科技事務(wù)處理器、內(nèi)存模型、混合和虛擬解決方案可在業(yè)界速度最快的驗(yàn)證硬件系統(tǒng)新思科技ZeBu和新思科技HAPS上實(shí)現(xiàn)各種驗(yàn)證和驗(yàn)證用例。

關(guān)于基于應(yīng)用的內(nèi)存驗(yàn)證挑戰(zhàn)以及如何在各行各業(yè)的垂直領(lǐng)域中使用不同類型的NAND閃存,點(diǎn)擊“閱讀原文”,了解更多。


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原文標(biāo)題:NAND閃存加速度,推動Multi-Die驗(yàn)證新范式

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