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從RE到RSE:聊聊無(wú)線產(chǎn)品EMC認(rèn)證測(cè)試中的輻射項(xiàng)(上)

英利檢測(cè) ? 2023-06-02 09:52 ? 次閱讀
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無(wú)線產(chǎn)品的EMC認(rèn)證測(cè)試?yán)铮袃蓚€(gè)與輻射發(fā)射有關(guān)的項(xiàng)目:Radiated Emission(RE)和Radiated Spurious Emission(RSE)。

RE和RSE,名字上僅一字之差,測(cè)試結(jié)果看起來(lái)也仿佛孿生哥倆。下面有兩張測(cè)試結(jié)果的截圖,您能分辨出哪張屬于RE測(cè)試,哪張是RSE嗎?

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對(duì)于熟悉傳統(tǒng)ITE設(shè)備的EMC工程師來(lái)說(shuō),很少有機(jī)會(huì)接觸RSE;對(duì)于搞射頻收發(fā)鏈路的同志們來(lái)說(shuō),輻射雜散好理解,而RE相對(duì)陌生一些——同飲一江水,相望兩不知。那么,無(wú)線產(chǎn)品為什么會(huì)有兩個(gè)輻射發(fā)射測(cè)試項(xiàng)?它們的區(qū)別和聯(lián)系又在哪里?

關(guān)于這個(gè)話題,我們不妨先從RE測(cè)試的歷史聊起。

一、

RE測(cè)試的演進(jìn)過(guò)程中,頻率是很關(guān)鍵的一個(gè)因素。

20世紀(jì)70年代,當(dāng)工程師們開(kāi)始為消費(fèi)類(lèi)電子產(chǎn)品制定輻射發(fā)射測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)的時(shí)候,首先考慮到了如下特點(diǎn):

這些產(chǎn)品的工作頻率大概在幾十兆到百兆赫茲級(jí)別,產(chǎn)生的電磁騷擾絕大部分能量都分布在幾百兆赫茲以下

大多數(shù)產(chǎn)品都放置在接近地面的高度上使用,受干擾的設(shè)備接收到的噪聲信號(hào)來(lái)自直射波和空間反射波的疊加

這些產(chǎn)品對(duì)外的電磁騷擾屬于無(wú)意發(fā)射,充當(dāng)天線的都是“臨時(shí)工”——例如線纜、“浮地”的金屬部件、形成環(huán)路的走線等等

工作頻率低于108MHz的設(shè)備,人們把它的輻射發(fā)射簡(jiǎn)化為這樣一種情況:從被測(cè)設(shè)備(EUT)輻射發(fā)出的騷擾信號(hào),在周?chē)臻g中的反射是受控的,有且僅有地面這一個(gè)反射面(半自由空間),除此之外,不存在任何其他反射;測(cè)量天線處接收到的是直達(dá)波和地面反射波的矢量和。這就是輻射發(fā)射測(cè)量的雙線模型。測(cè)量的頻率上限定為1GHz。

wKgZomR2-FuACjAiAAFatpveyIo171.png

(輻射發(fā)射測(cè)量的雙線模型)

從事EMC基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)制定的組織有很多,其中最著名的是歐洲的CISPR(國(guó)際無(wú)線電干擾特別委員會(huì))和美國(guó)的ANSI(美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì))。圍繞雙線模型的共識(shí),兩個(gè)組織陸續(xù)定義了測(cè)試場(chǎng)地、測(cè)試天線、測(cè)量?jī)x器、測(cè)試方法和限值,細(xì)節(jié)上有所差異。

開(kāi)闊試驗(yàn)場(chǎng)

作為半自由空間模型的一種逼近,開(kāi)闊試驗(yàn)場(chǎng)(Open AreaTest Site,OATS)應(yīng)運(yùn)而生。先來(lái)看兩張照片。

這是位于北京市昌平十三陵鎮(zhèn)的中國(guó)計(jì)量科學(xué)研究院計(jì)量級(jí)OATS(特別感謝孟東林博士提供的高清照片)。

由于開(kāi)闊場(chǎng)的選址要求環(huán)境噪聲絕對(duì)干凈(現(xiàn)代計(jì)量級(jí)OATS可以通過(guò)矢網(wǎng)鎖相環(huán)技術(shù)消除背景噪聲的影響),所以只能修建在人跡罕至、遠(yuǎn)離市中心的郊區(qū)。開(kāi)闊場(chǎng)的四周是開(kāi)放空間,不能存在任何反射。長(zhǎng)方形的白色區(qū)域是鋪設(shè)的金屬地面,四周還鋪設(shè)有三角形金屬柵格作為由金屬板到大地的阻抗?jié)u變,從而逼近理想的鏡面反射。

隨著民用無(wú)線通信業(yè)務(wù)的興起、工業(yè)無(wú)線電噪聲的日益嚴(yán)重,開(kāi)闊場(chǎng)的選址越來(lái)越困難。所以,到了20世紀(jì)80年代,替代OATS的測(cè)試場(chǎng)地開(kāi)始出現(xiàn)。這就是半電波暗室(Semi-Anechoic Chamber,SAC)。

半電波暗室

半電波暗室的主框架是個(gè)金屬屏蔽室。既然是OATS的替代,地面依然是電連續(xù)的金屬反射地面,而為了搞掉四壁和天花板對(duì)電波的反射,這五個(gè)面上貼裝了吸波材料對(duì)到達(dá)的電磁波進(jìn)行吸收。地面不鋪吸波材料——這也是所謂“半”的來(lái)源。

測(cè)試場(chǎng)地建好以后,怎么驗(yàn)收性能?這涉及到場(chǎng)地性能檢驗(yàn)方法。ANSI和CISPR于90年代初相繼制定了輻射發(fā)射測(cè)試場(chǎng)地的NSA(歸一化場(chǎng)地衰減)檢驗(yàn)方法。國(guó)內(nèi),北方交通大學(xué)張林昌教授最早引入這一理論,并研究拓展了國(guó)外標(biāo)準(zhǔn)中未定義的NSA理論數(shù)據(jù),是國(guó)內(nèi)電波暗室理論研究領(lǐng)域名副其實(shí)的開(kāi)拓者。

上面這張照片拍攝于2000年左右,是當(dāng)時(shí)的北方交通大學(xué)EMC實(shí)驗(yàn)室半電波暗室。照片中看起來(lái)有些陳舊的SAC,卻是當(dāng)時(shí)國(guó)內(nèi)乃至國(guó)際EMC研究領(lǐng)域最領(lǐng)先的前沿陣地。

測(cè)量?jī)x器

早期噪聲測(cè)量,采用的儀器是超外差式選頻電壓表,原理類(lèi)似于收音機(jī)。后來(lái)在選頻電壓表的基礎(chǔ)上出現(xiàn)了測(cè)量接收機(jī)(EMI Receiver)。

接收機(jī)里有一個(gè)關(guān)鍵部件叫做檢波器。檢波器的電路構(gòu)成不同,接收機(jī)測(cè)到的噪聲也不相同。早期RE測(cè)試的一個(gè)重要目的是保護(hù)廣播通訊不受干擾,在1GHz以下的測(cè)量頻段,準(zhǔn)峰值(QP)檢波能較好地模擬人耳對(duì)脈沖噪聲的響應(yīng),所以在定義輻射發(fā)射的檢波方式時(shí),最早采用的是QP檢波。

度量單位

測(cè)量天線接收到噪聲信號(hào)以后,將電磁場(chǎng)轉(zhuǎn)化為感應(yīng)電流。工程師們把輻射發(fā)射的測(cè)量參考點(diǎn)放置在測(cè)量天線的相位中心點(diǎn)上,測(cè)量單位定為電場(chǎng)強(qiáng)度(dB(μV/m))。天線將空間場(chǎng)轉(zhuǎn)化到電路導(dǎo)行波的能力,在RE測(cè)試中體現(xiàn)為天線系數(shù)。

測(cè)量距離和限值

由于測(cè)量參考點(diǎn)在測(cè)量天線處,所以RE的測(cè)量結(jié)果與測(cè)試距離有關(guān),前輩們定義了不同的測(cè)試距離,也就是通常所說(shuō)的3m法,5m法,10m法和30m法測(cè)試。采用什么樣的測(cè)試距離,與測(cè)試設(shè)備的尺寸和測(cè)量頻率有關(guān),最終目的是為了減少EUT與測(cè)量天線間的耦合,保證測(cè)量滿(mǎn)足遠(yuǎn)場(chǎng)條件。不同的測(cè)試距離,因?yàn)闇y(cè)試結(jié)果不同,所以限值也不一樣。

傳統(tǒng)ITE設(shè)備和手機(jī)屬于應(yīng)用于民用環(huán)境的B類(lèi)產(chǎn)品。按照FCC規(guī)定,B類(lèi)產(chǎn)品輻射發(fā)射測(cè)試距離為3m;按照CISPR22標(biāo)準(zhǔn),則應(yīng)該采取10m法測(cè)試。由于手機(jī)尺寸較小,3m的距離也基本滿(mǎn)足遠(yuǎn)場(chǎng)條件,考慮到測(cè)試場(chǎng)地的建造成本,通常都按照3m法測(cè)試,只是將CISPR 10m法的限值轉(zhuǎn)換成3m法的限值。由于遠(yuǎn)場(chǎng)的場(chǎng)強(qiáng)與距離成反比,很容易推導(dǎo)得到兩個(gè)限值之間的轉(zhuǎn)換關(guān)系:

E(10m, dBuv/m)=E(3m, dBuv/m)-10.5(dB)

天線掃描

雙線模型里,由于兩條波走的路徑長(zhǎng)度不同,最后到達(dá)接收天線處的相位也不同,疊加后幅度有可能增強(qiáng),也可能減弱。為了抓到EUT輻射發(fā)出的噪聲最大值,就需要測(cè)量天線在一定高度上來(lái)回掃描,對(duì)于3m的測(cè)試距離,天線掃描高度為1~4m。

以上所有規(guī)定,共同實(shí)現(xiàn)了RadiatedEmission測(cè)試,即RE測(cè)試。

二、

說(shuō)到這里,讓我們稍微停下來(lái)喘口氣兒。

RE的測(cè)量方法從醞釀到定型,是一個(gè)緩慢演進(jìn)的過(guò)程??偨Y(jié)上面談?wù)摰脑缙诘腞E測(cè)試,我們來(lái)劃下重點(diǎn):

測(cè)量場(chǎng)地為OATS或SAC

測(cè)量?jī)x器為接收機(jī)

測(cè)量參考點(diǎn)在接收天線處,測(cè)量結(jié)果是電場(chǎng)強(qiáng)度(dB(μV/m))

要規(guī)定測(cè)試距離

天線要上下掃描抓最大值

測(cè)量頻段低于1GHz

QP檢波

場(chǎng)地性能檢驗(yàn)采用NSA法

在實(shí)際測(cè)量的過(guò)程中,許多弊端也漸漸暴露出來(lái)。例如:

天線需要上下掃描,測(cè)試時(shí)間長(zhǎng),天線步進(jìn)精度對(duì)測(cè)試結(jié)果影響較大,對(duì)暗室空間要求高,建造成本高

QP檢波,測(cè)試時(shí)間長(zhǎng)

NSA法檢驗(yàn)較為繁瑣,結(jié)果精度不高

。。。

這個(gè)時(shí)候,ITE產(chǎn)品的時(shí)鐘頻率已經(jīng)越來(lái)越高(遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過(guò)108MHz),原先設(shè)定的1GHz頻率測(cè)量上限不夠用了。當(dāng)EMC工程師們把目光投入到1GHz以上頻段RE測(cè)量時(shí),他們突然發(fā)現(xiàn):這是個(gè)重啟的好機(jī)會(huì)。

CISPR經(jīng)過(guò)長(zhǎng)期研究,對(duì)于1GHz以上的RE測(cè)量,提出了完全不同的玩法:

測(cè)量場(chǎng)地上,用全電波暗室替代半電波暗室(1GHz頻段以上的輻射發(fā)射以直射波到達(dá)為主)

檢波方式上,AV和PK取代QP

場(chǎng)地檢驗(yàn)上,電壓駐波比法取代NSA

。。。

所以,當(dāng)把全頻段的RE測(cè)試限值放在一起的時(shí)候,就會(huì)得到下面這張圖:

wKgaomR2-JSAW4v5AACPNF01CG0159.png

(CISPR限值,30MHz~6GHz RE測(cè)試,1GHz以下限值按10m法規(guī)定換算到3m法)

這張圖很有意思,以1GHz為分界線,左右兩邊涇渭分明。紙面上看得到的,是限值和檢波方式的變化;紙面背后的,是半電波暗室與全電波暗室,是天線上下掃描與固定高度,是測(cè)試時(shí)間和投入成本的PK……當(dāng)我第一次看到它時(shí),腦子里想到的是,“廢井田,開(kāi)阡陌”~

三、

在RE測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)逐漸演進(jìn)的同時(shí),上世紀(jì)90年代,以手機(jī)為代表的無(wú)線產(chǎn)品也開(kāi)啟了個(gè)人通信的新時(shí)代。工程師們面臨著新的問(wèn)題:對(duì)于無(wú)線產(chǎn)品來(lái)說(shuō),已有的輻射發(fā)射測(cè)試是否合適?

無(wú)線產(chǎn)品工作頻率高。以早期出現(xiàn)的GSM為例,工作頻段850/900/1800/1900MHz,這些工作頻率,或接近或遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于1GHz——我們上面講過(guò),RE測(cè)試以1GHz為分界,玩法完全不同。無(wú)線產(chǎn)品就好像站在街角的十字路口,向左走,還是向右走?

另外,無(wú)線產(chǎn)品有收發(fā)信機(jī),以發(fā)射和接收攜帶有用信息的電磁波為目的。當(dāng)電子產(chǎn)品中沒(méi)有收發(fā)信機(jī)的時(shí)候,噪聲輻射是一種無(wú)意發(fā)射,當(dāng)有收發(fā)信機(jī)的時(shí)候,發(fā)信機(jī)會(huì)造成額外的噪聲,例如諧波、各種互調(diào)、交調(diào)產(chǎn)物等等,這是有意發(fā)射,噪聲輻射的一個(gè)主要途徑是產(chǎn)品自身的天線。

有意發(fā)射產(chǎn)生的噪聲幅度要遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于無(wú)意發(fā)射,那么,原有的RE測(cè)試限值要不要變?怎么變?

以上文章來(lái)源網(wǎng)絡(luò),如有涉及侵權(quán),請(qǐng)聯(lián)系刪除!我們一直在關(guān)注這方面的發(fā)展,對(duì)話題有不同見(jiàn)解的歡迎一起討論。

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    大功率電源EMC測(cè)試整改:設(shè)計(jì)測(cè)試的全面優(yōu)化

    深圳南柯電子|大功率電源EMC測(cè)試整改:設(shè)計(jì)測(cè)試的全面優(yōu)化
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    大功率電源<b class='flag-5'>EMC</b><b class='flag-5'>測(cè)試</b>整改:<b class='flag-5'>從</b>設(shè)計(jì)<b class='flag-5'>到</b><b class='flag-5'>測(cè)試</b>的全面優(yōu)化

    emc輻射發(fā)射和傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試區(qū)別 emc傳導(dǎo)測(cè)試過(guò)不了的原因

    在電磁兼容性(EMC測(cè)試,輻射發(fā)射和傳導(dǎo)發(fā)射是兩種重要的測(cè)試方法,它們分別用于評(píng)估電子設(shè)備在工作時(shí)對(duì)外界電磁環(huán)境的影響和其本身對(duì)外界電磁
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