99精品伊人亚洲|最近国产中文炮友|九草在线视频支援|AV网站大全最新|美女黄片免费观看|国产精品资源视频|精彩无码视频一区|91大神在线后入|伊人终合在线播放|久草综合久久中文

0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評(píng)論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會(huì)員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識(shí)你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

PCB的平面度&翹曲度 | 如何優(yōu)化測量方式?

中圖儀器 ? 2022-09-21 09:23 ? 次閱讀
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

大部分的PCB印制電路板廠,都選擇使用自動(dòng)化插裝線進(jìn)行電子元器件的安裝,在這過程中,倘若電路板不平整,很有可能會(huì)引起定位不準(zhǔn)、電子元器件無法插裝、貼裝到板子的孔和表面貼裝焊盤上的情況,甚至可能會(huì)撞壞設(shè)備。由此可見,PCB板的平面度和翹曲度是品質(zhì)把控中至為重要的一關(guān)。
PCB板上遍布銅線,使用常見的塞規(guī)、卡尺等接觸式工具進(jìn)行測量,不僅會(huì)刮花、刮損漆面和表面銅線,測量數(shù)據(jù)也會(huì)存在人為誤差。為避免這些情況頻繁發(fā)生,影響出廠交付,中圖儀器推出的VX9700光學(xué)掃描成像測量機(jī),一次性解決這些測量難題。

非接觸式傳感器,結(jié)合高精度分析算法,可以精準(zhǔn)計(jì)算測量位的平面度和翹曲度數(shù)據(jù),且即使在多塊PCB板同時(shí)測量的情況下,也穩(wěn)定進(jìn)行。自動(dòng)定位測量對(duì)象、進(jìn)行測量評(píng)價(jià)、生成數(shù)據(jù)報(bào)表,無論是抽檢或批量檢測均適用,極大程度上滿足了PCB制造企業(yè)對(duì)于產(chǎn)品測量以及質(zhì)量提升的要求。兼具非接觸式、高精度、快速、以及操作簡單的特點(diǎn),人人可操控,次次皆精準(zhǔn),十分適用于PCB生產(chǎn)過程以及出廠檢驗(yàn)的管控。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
  • pcb
    pcb
    +關(guān)注

    關(guān)注

    4368

    文章

    23492

    瀏覽量

    409837
收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

    評(píng)論

    相關(guān)推薦
    熱點(diǎn)推薦

    新知|Verizon與AT&T也可以手機(jī)直接連接衛(wèi)星了

    近日,Verizon與AT&T宣布,手機(jī)直連衛(wèi)星方面取得重要進(jìn)展,使用普通手機(jī)實(shí)現(xiàn)了通過衛(wèi)星的視頻通話。很顯然,Verizon與AT&T的這一舉措是針對(duì)此前T-Mobile
    的頭像 發(fā)表于 06-19 07:07 ?466次閱讀
    新知|Verizon與AT&<b class='flag-5'>amp</b>;<b class='flag-5'>amp</b>;<b class='flag-5'>amp</b>;T也可以手機(jī)直接連接衛(wèi)星了

    wafer晶圓厚度(THK)曲度(Warp)彎曲度(Bow)等數(shù)據(jù)測量的設(shè)備

    測量。 (2)系統(tǒng)覆蓋襯底切磨拋,光刻/蝕刻后曲度檢測,背面減薄厚度監(jiān)測等關(guān)鍵工藝環(huán)節(jié)。 晶圓作為半導(dǎo)體工業(yè)的“地基”,其高純度、單晶結(jié)構(gòu)和大尺寸等特點(diǎn),支撐了芯片的高性能與低成本制造。其戰(zhàn)略價(jià)值不僅
    發(fā)表于 05-28 16:12

    wafer晶圓幾何形貌測量系統(tǒng):厚度(THK)曲度(Warp)彎曲度(Bow)等數(shù)據(jù)測量

    在先進(jìn)制程中,厚度(THK)曲度(Warp)彎曲度(Bow)三者共同決定了晶圓的幾何完整性,是良率提升和成本控制的核心參數(shù)。通過WD4000晶圓幾何形貌測量系統(tǒng)在線檢測,可減少其對(duì)芯
    發(fā)表于 05-28 11:28 ?2次下載

    wafer晶圓幾何形貌測量系統(tǒng):厚度(THK)曲度(Warp)彎曲度(Bow)等數(shù)據(jù)測量

    在先進(jìn)制程中,厚度(THK)曲度(Warp)彎曲度(Bow)三者共同決定了晶圓的幾何完整性,是良率提升和成本控制的核心參數(shù)。通過WD4000晶圓幾何形貌測量系統(tǒng)在線檢測,可減少其對(duì)芯
    的頭像 發(fā)表于 05-23 14:27 ?570次閱讀
    wafer晶圓幾何形貌<b class='flag-5'>測量</b>系統(tǒng):厚度(THK)<b class='flag-5'>翹</b><b class='flag-5'>曲度</b>(Warp)彎<b class='flag-5'>曲度</b>(Bow)等數(shù)據(jù)<b class='flag-5'>測量</b>

    雙模載波芯片CN8513&amp;amp;amp;CN8514在智能家居中的創(chuàng)新應(yīng)用

    雙模載波芯片CN8513&amp;CN8514在智能家居中的創(chuàng)新應(yīng)用
    的頭像 發(fā)表于 02-10 09:43 ?483次閱讀
    雙模載波芯片CN8513&<b class='flag-5'>amp</b>;<b class='flag-5'>amp</b>;<b class='flag-5'>amp</b>;CN8514在智能家居中的創(chuàng)新應(yīng)用

    什么是平整、平面、平行、共面、曲度

    、共面曲度這幾個(gè)指標(biāo),經(jīng)常出現(xiàn)概念不清、相互混淆的現(xiàn)象。實(shí)際上,除了平整平面,其他幾
    的頭像 發(fā)表于 02-08 09:34 ?2.6w次閱讀
    什么是平整<b class='flag-5'>度</b>、<b class='flag-5'>平面</b><b class='flag-5'>度</b>、平行<b class='flag-5'>度</b>、共面<b class='flag-5'>度</b>、<b class='flag-5'>翹</b><b class='flag-5'>曲度</b>

    如何判斷產(chǎn)品需不需要做AT&amp;amp;amp;T認(rèn)證?AT&amp;amp;amp;T測試內(nèi)容和要求分享

    隨著經(jīng)濟(jì)全球化的發(fā)展,國內(nèi)越來越多產(chǎn)品廠商選擇將自家產(chǎn)品出口到北美市場,而這時(shí)候各位廠商都會(huì)面臨產(chǎn)品需不需要做AT&amp;T的問題。今天英利檢測針對(duì)這一問題整理了一些關(guān)于AT&amp;T認(rèn)證中
    的頭像 發(fā)表于 12-23 17:46 ?631次閱讀
    如何判斷產(chǎn)品需不需要做AT&<b class='flag-5'>amp</b>;<b class='flag-5'>amp</b>;<b class='flag-5'>amp</b>;T認(rèn)證?AT&<b class='flag-5'>amp</b>;<b class='flag-5'>amp</b>;<b class='flag-5'>amp</b>;T測試內(nèi)容和要求分享

    北美運(yùn)營商AT&amp;amp;amp;T認(rèn)證中的VoLTE測試項(xiàng)

    北美運(yùn)營商AT&amp;T的認(rèn)證測試內(nèi)容涵蓋了多個(gè)方面,以確保設(shè)備和服務(wù)的質(zhì)量、兼容性以及用戶體驗(yàn)。在AT&amp;T的認(rèn)證測試中,VoLTE(VoiceoverLTE)測試項(xiàng)是一個(gè)重要的組成部分
    的頭像 發(fā)表于 12-06 16:52 ?614次閱讀
    北美運(yùn)營商AT&<b class='flag-5'>amp</b>;<b class='flag-5'>amp</b>;<b class='flag-5'>amp</b>;T認(rèn)證中的VoLTE測試項(xiàng)

    湖北模協(xié)&amp;amp;amp;省塑性學(xué)會(huì)聯(lián)合年會(huì)及武漢易測儀器模具測量技術(shù)展示

    湖北模協(xié)&amp;省塑性學(xué)會(huì)聯(lián)合年會(huì)及武漢易測儀器模具測量技術(shù)展示,包括橋式三坐標(biāo)測量儀,手持式三維掃描儀,高度儀,關(guān)節(jié)臂測量儀。與業(yè)界同仁深入交流,共同探討模具
    的頭像 發(fā)表于 12-04 15:53 ?610次閱讀
    湖北模協(xié)&<b class='flag-5'>amp</b>;<b class='flag-5'>amp</b>;<b class='flag-5'>amp</b>;省塑性學(xué)會(huì)聯(lián)合年會(huì)及武漢易測儀器模具<b class='flag-5'>測量</b>技術(shù)展示

    北美運(yùn)營商AT&amp;amp;amp;T認(rèn)證的測試內(nèi)容有哪些?

    北美運(yùn)營商AT&amp;T的認(rèn)證測試內(nèi)容涵蓋了多個(gè)方面,以確保設(shè)備和服務(wù)的質(zhì)量、兼容性以及用戶體驗(yàn)。以下是英利檢測整合的AT&amp;T認(rèn)證的主要測試內(nèi)容:基礎(chǔ)認(rèn)證測試聯(lián)邦通信委員會(huì)(FCC
    的頭像 發(fā)表于 11-12 17:39 ?838次閱讀
    北美運(yùn)營商AT&<b class='flag-5'>amp</b>;<b class='flag-5'>amp</b>;<b class='flag-5'>amp</b>;T認(rèn)證的測試內(nèi)容有哪些?

    迅為itop-3568開發(fā)板AMP雙系統(tǒng)使用手冊之燒寫AMP鏡像

    迅為itop-3568開發(fā)板AMP雙系統(tǒng)使用手冊之燒寫AMP鏡像
    的頭像 發(fā)表于 11-04 15:00 ?1270次閱讀
    迅為itop-3568開發(fā)板<b class='flag-5'>AMP</b>雙系統(tǒng)使用手冊之燒寫<b class='flag-5'>AMP</b>鏡像

    北美運(yùn)營商AT&amp;amp;amp;T認(rèn)證的費(fèi)用受哪些因素影響

    申請(qǐng)北美運(yùn)營商AT&amp;T認(rèn)證的價(jià)格因多種因素而異,包括產(chǎn)品類型、認(rèn)證范圍、測試難度等。一般來說,申請(qǐng)AT&amp;T認(rèn)證的費(fèi)用可能相對(duì)較高,因?yàn)锳T&amp;T作為北美地區(qū)的主要電信運(yùn)營商,其
    的頭像 發(fā)表于 10-16 17:10 ?652次閱讀
    北美運(yùn)營商AT&<b class='flag-5'>amp</b>;<b class='flag-5'>amp</b>;<b class='flag-5'>amp</b>;T認(rèn)證的費(fèi)用受哪些因素影響

    onsemi LV/MV MOSFET 產(chǎn)品介紹 &amp;amp;amp; 行業(yè)應(yīng)用

    01直播介紹直播時(shí)間2024/10/281430直播內(nèi)容1.onsemiLV/MVMOSFET產(chǎn)品優(yōu)勢&amp;市場地位。2.onsemiLV/MVMOSFETRoadmap。3.onsemiT10
    的頭像 發(fā)表于 10-13 08:06 ?915次閱讀
    onsemi LV/MV MOSFET 產(chǎn)品介紹 &<b class='flag-5'>amp</b>;<b class='flag-5'>amp</b>;<b class='flag-5'>amp</b>; 行業(yè)應(yīng)用

    陶瓷薄片片材如何使用光譜共聚焦傳感器來非接觸測量曲度?

    引言 在現(xiàn)代制造業(yè)中,精確測量材料表面的平面曲度是確保產(chǎn)品質(zhì)量的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。特別是在陶瓷片材的生產(chǎn)過程中,
    的頭像 發(fā)表于 10-07 19:29 ?475次閱讀
    陶瓷薄片片材如何使用光譜共聚焦傳感器來非接觸<b class='flag-5'>測量</b><b class='flag-5'>翹</b><b class='flag-5'>曲度</b>?

    Allegro X 23.11 版本更新 I PCB 設(shè)計(jì):一鍵移除評(píng)審內(nèi)容 &amp;amp;amp; 導(dǎo)入ODB++

    ,助力您提升設(shè)計(jì)質(zhì)量和設(shè)計(jì)效率。legroXPCBDesigner系統(tǒng)級(jí)PCB設(shè)計(jì)一鍵移除評(píng)審內(nèi)容&amp;導(dǎo)入ODB++在23.
    的頭像 發(fā)表于 08-30 12:21 ?980次閱讀
    Allegro X 23.11 版本更新 I <b class='flag-5'>PCB</b> 設(shè)計(jì):一鍵移除評(píng)審內(nèi)容 &<b class='flag-5'>amp</b>;<b class='flag-5'>amp</b>;<b class='flag-5'>amp</b>; 導(dǎo)入ODB++