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【虹科方案】各向同性的重要性——第一部分

虹科測試測量 ? 2022-07-14 11:37 ? 次閱讀
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【前文回顧】:虹科方案|如何使用虹科RadiSense電場探頭提高場強(qiáng)測量的準(zhǔn)確性

???

各向同性表現(xiàn),被遺忘的規(guī)范

EMC 測試實(shí)驗(yàn)室使用電場探頭來確定輻射抗擾度測試期間產(chǎn)生的電場強(qiáng)度。

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電場探頭可用來驗(yàn)證產(chǎn)生電場強(qiáng)度的值,同時(shí)也是唯一且絕對的參考。因此,電場探頭的精度至關(guān)重要。多年來,許多探頭制造商以不同的方式探索探頭精度。

一般來說,用戶想要計(jì)算電場探頭的整體精度,甚至是測量電場強(qiáng)度的精度,必須考慮到幾個(gè)指定參數(shù)的不確定性,如線性度、頻率響應(yīng)、溫度漂移和非各向同性表現(xiàn)。因?yàn)樘筋^規(guī)范通常較為混亂、不完整有時(shí)甚至具有誤導(dǎo)性,所以這項(xiàng)任務(wù)可能會非常繁瑣。本文的目的是對正確閱讀和理解探頭規(guī)范提供一個(gè)較為清晰的解釋

???

什么是各向同性響應(yīng)

具有完美各向同性響應(yīng)的電場探頭會給出完全相同的電場強(qiáng)度讀數(shù),而且與探頭在場中的旋轉(zhuǎn)方式無關(guān)。換句話說,如果探頭以隨機(jī)方式在其所有軸上旋轉(zhuǎn),探頭的讀數(shù)也根本不會改變。在這種情況下,測得的電場圖將是完美的球形即360 度。在實(shí)踐中,由于許多原因,每個(gè) 電場探頭都會存在非各向同性表現(xiàn),例如 x、y 和 z 軸探測器之間的差異、探頭外殼的鋒利邊緣(導(dǎo)致渦流)、探頭支架(安裝)、光纖連接等。

???

如何測量各向同性響應(yīng)?

由于探頭的球形表面會針對探頭使用的每個(gè)頻率進(jìn)行完全的掃描,測量“真實(shí)”各向同性響應(yīng)將是一項(xiàng)極其耗時(shí)的任務(wù)。您會在實(shí)踐中發(fā)現(xiàn)兩種不同的方法:

軸間平衡

在電場探頭的校準(zhǔn)過程中,一個(gè)場方向(如垂直)會產(chǎn)生一個(gè)電場, x、y 和 z 軸場探頭元件依次與場平行放置。軸之間的測量差異代表著各個(gè)軸之間的不平衡。盡管測量是在“理想”條件下進(jìn)行的而且只能代表各向同性響應(yīng)的一小部分,這有時(shí)也會被報(bào)告為各向同性響應(yīng)。在這種方法中,我們不用考慮軸之間的探頭響應(yīng)。

旋轉(zhuǎn)對稱

在旋轉(zhuǎn)對稱的測量過程中,探頭經(jīng)過特殊處理后被放置在消聲校準(zhǔn)室中,它與生成的磁場方向呈 54.7 度角, 該角度也被稱為“魔角”。只要在 360 度區(qū)域內(nèi)旋轉(zhuǎn)探頭并使其保持在這個(gè)“魔角”,那么每旋轉(zhuǎn) 120 度,每個(gè)軸都會與磁場方向平行。該方法可以用來測量探頭在“最壞情況”的位置的各向同性表現(xiàn),結(jié)果將顯示在圓形圖中。從圖中可以看到軸之間的平衡和軸之間的響應(yīng),從而更好地了解電場探頭的各向同性表現(xiàn)。

???

為什么各向同性表現(xiàn)如此重要

消聲室中的場通常只有一個(gè)場方向即水平或垂直。

這可能會錯誤地得出這樣的結(jié)論:即使探頭的各向同性響應(yīng)很差,一個(gè)軸平行于生成場的探針也能正確測量生成的場強(qiáng)。在實(shí)際情況中,消聲室中的場分布其實(shí)并不完美。從 EN61000-4-3 可以很容易地看出這一點(diǎn),它要求電波暗室中場均勻性的最大誤差不超過 6 dB。

電波暗室的這種非各向同性場表現(xiàn)是由暗室中發(fā)生的反射引起的,即使經(jīng)過大量努力,如使用吸收材料來減少這些反射也是如此。

當(dāng)這些反射測量不正確時(shí),意味著消聲室性能測量也不正確,這通常會導(dǎo)致在 16 點(diǎn)校準(zhǔn)過程中不合理地拒絕或批準(zhǔn)進(jìn)入,同時(shí)也會導(dǎo)致在正常 EMC 測試期間不能準(zhǔn)確地測量場強(qiáng)。

因?yàn)槭褂脠鎏筋^進(jìn)行16點(diǎn)校準(zhǔn)的目的是確定消聲室中的場是否均勻(僅存在于一個(gè)場方向),所以消聲室中的場只有一個(gè)場方向和探頭不必是各向同性這兩者可以互相論證

???

如何測定各向同性性能

多年來,探頭制造商在單個(gè)頻率點(diǎn)和相對較低的頻率下測定各向同性性能。然而場探頭的各向同性響應(yīng)會隨著頻率發(fā)生強(qiáng)烈變化,低頻下各向同性相對較好的探頭在高頻下的性能會變得更差。

在低頻下,與射頻場的波長相比,探頭的尺寸相對較小。例如在 50 MHz 時(shí),波長為 1.5m,則每個(gè)電場探頭都偏小。在這種情況下,我們默認(rèn)電場探頭將具有較好的各向同性響應(yīng)。

然而,在達(dá)到幾 GHz 的頻率下,與被測場的波長相比,電場探頭的尺寸變得不可忽略,并且會出現(xiàn)較大的各向同性偏差。?

目前,電場探頭制造商在低于 2 GHz 的頻率下測定其各向同性性能,此時(shí)電場探頭的各向同性響應(yīng)相對較好。然而更值得關(guān)注以及更加影響測試結(jié)果的應(yīng)該是探頭能達(dá)到的最高頻率下的各向同性響應(yīng)。

知名探頭制造商的眾多不同電場探頭的測量表明,在3~6 GHz的頻率下,各向同性誤差甚至能達(dá)到6~10 dB !

虹科開關(guān)與仿真團(tuán)隊(duì)

虹科是在各細(xì)分專業(yè)技術(shù)領(lǐng)域內(nèi)的資源整合及技術(shù)服務(wù)落地供應(yīng)商。在測試測量行業(yè)經(jīng)驗(yàn)超過17年的高科技公司,虹科與世界知名的測量行業(yè)巨頭公司Marvin Test、Pickering Interface, Spectrum, Raditeq等公司合作多年,提供領(lǐng)域內(nèi)頂尖水平的基于PXI/PXIe/PCI/LXI平臺的多種功能模塊,以及自動化測試軟件平臺和測試系統(tǒng),通用臺式信號源設(shè)備,高速數(shù)字化儀,EMC和射頻測試方案等。事業(yè)部目前已經(jīng)提供覆蓋半導(dǎo)體、3C、汽車行業(yè)的超過25個(gè)大型和超大型自研系統(tǒng)項(xiàng)目。我們的解決方案已在汽車電子、半導(dǎo)體、通信、航空航天、軍工等多個(gè)行業(yè)得到驗(yàn)證。此外,我們積極參與半導(dǎo)體、汽車測試等行業(yè)協(xié)會的工作,為推廣先進(jìn)技術(shù)的普及做出了重要貢獻(xiàn)。至今,虹科已經(jīng)先后為全國用戶提供了100+不同的解決方案和項(xiàng)目,并且獲得了行業(yè)內(nèi)用戶極好口碑。

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