inTEST 熱流儀搭配 Keysight 進(jìn)行功率器件自動(dòng)化高低溫測(cè)試
上海伯東美國(guó) inTEST 熱測(cè)產(chǎn)品搭配 Keysight 機(jī)臺(tái), 提供 IGBT, RF Device, MOSFET, Hi Power LED 等功率器件 -50℃ - 250℃ 自動(dòng)化熱測(cè)試解決方案. Keysight 機(jī)臺(tái)完美兼容 inTEST 軟件, 操作簡(jiǎn)單.

功率器件高低溫測(cè)試案例一:
上海伯東美國(guó) inTEST Thermal Plate HP289-PM 搭配 Keysight B1505A 或 B1506A, 完成室溫至 250℃ 溫度測(cè)試. 通用軟件, 操作簡(jiǎn)單, 只需將待測(cè)器件放置在 Thermal Plate 上即可. 通過(guò)使用 inTEST 最大可能的減少長(zhǎng)線(xiàn)纜導(dǎo)致的測(cè)試問(wèn)題, 兼容接頭將 Keysight 分析儀與 inTEST 熱板連接在一起.

上海伯東美國(guó) inTEST HP289-PM 是一個(gè)溫控平臺(tái), 可以與 Keysight B1505A 和 B1506A 功率器件分析儀聯(lián)用. 該平臺(tái)允許自動(dòng)控制板溫度, 從外殼環(huán)境溫度到 250°C, 用于表征功率器件, 例如 IGBT 和 MOSFET. 主要特點(diǎn) 1. 自動(dòng)溫度循環(huán) 2. 實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)記錄 3. 動(dòng)態(tài) DUT 溫度控制 4. 本地和遠(yuǎn)程操作

功率器件高低溫測(cè)試案例二:
inTEST ThermalStream 高低溫沖擊測(cè)試機(jī)搭配 B150XA 系統(tǒng), 提供 -50℃~250℃ 的溫度測(cè)試環(huán)境.
測(cè)試時(shí), 只需將待測(cè)功率器件放置在高低溫測(cè)試機(jī)測(cè)試罩內(nèi)即可. 如果未連接測(cè)試腔, 則測(cè)試器件可能會(huì)因熱空氣或冷凝水而損壞. 連接到測(cè)試設(shè)備和 Thermostream 的熱防護(hù)罩解決了這個(gè)問(wèn)題, 可進(jìn)行準(zhǔn)確. 可靠和可重復(fù)的溫度特性測(cè)試.

上海伯東美國(guó) inTEST ThermalStream 熱流儀搭配 Keysight B150XA 系統(tǒng)評(píng)估 -50°C 至+ 250°C 溫度范圍內(nèi)的功率器件特性, 是半導(dǎo)體器件制造商中比較通用的測(cè)試手段, ThermoStream 具有快速的熱循環(huán)和精確的溫度控制,是高功率器件可靠性測(cè)試和表征的理想選擇. 主要特點(diǎn) 1. 自動(dòng)溫度循環(huán) 2. 實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)記錄 3. 動(dòng)態(tài) (DUT) 溫度控制 4. 本地和遠(yuǎn)程操作 5. 無(wú)霜測(cè)試環(huán)境 6. 節(jié)能模式

功率器件高低溫測(cè)試案例三:
某企業(yè)通過(guò)上海伯東推薦, 購(gòu)入美國(guó) ThermoStream ATS-710 高低溫沖擊測(cè)試機(jī), 為 MOSFET \ MOS 管, 場(chǎng)效應(yīng)管, TO 封裝等器件提供 -50 至 +150 °C 快速精準(zhǔn)的外部溫度環(huán)境, 滿(mǎn)足測(cè)試器件性能的要求.

inTEST Thermal Plate 熱臺(tái) (環(huán)境溫度至 +250°C) 和 ThermoStream (-50 至 +250°C) 可滿(mǎn)足高溫和極低溫測(cè)試的需求. 兩種溫度測(cè)試都具有溫度自動(dòng)循環(huán), 數(shù)據(jù)記錄和遠(yuǎn)程通信功能.

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