使用高級驗證與內(nèi)存技術(shù)保持同步
在存儲器密度低、性能緩慢且需要昂貴的硅空間的時代。然后我快進到未來，當(dāng)內(nèi)存技術(shù)已經(jīng)發(fā)展到支持巨大的密度，超快的速度，同時保持低功耗，所有這些都在非常小的幾何結(jié)構(gòu)中。
我概述了各種內(nèi)存技術(shù)及其支持的細(xì)分市場。為了跟上這種內(nèi)存技術(shù)發(fā)展的步伐，設(shè)計和驗證工具以及創(chuàng)建和產(chǎn)品化這些技術(shù)的方法也得到了發(fā)展。
這種存儲器的演變給驗證工程師帶來了一系列全新的挑戰(zhàn)。為了取得成功，驗證必須在設(shè)計周期的早期發(fā)展為徹底、高效和有效。此外，它必須依賴于對SystemVerilog的本機支持，利用最先進的驗證技術(shù)進行測試平臺創(chuàng)建和定制，以及調(diào)試和覆蓋率收斂。
需要更快、經(jīng)過驗證且最先進的前端內(nèi)存驗證基礎(chǔ)設(shè)施來解決最新內(nèi)存創(chuàng)新帶來的復(fù)雜性。利用行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的通用驗證方法 （UVM），支持高級協(xié)議級調(diào)試，以及具有內(nèi)置覆蓋范圍和計劃的加速驗證收斂，驗證工程師可以在短時間內(nèi)自信地驗證內(nèi)存技術(shù)。
審核編輯：郭婷
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