MCP-PMT光電探測(cè)器
產(chǎn)品特點(diǎn)
傳輸時(shí)間擴(kuò)展 40ps；
抗磁性3T；
光電陰極Hi-QE；
門控可選；
8mm、16mm或18mm使用直徑。
技術(shù)信息
Photonis的MCP-PMT具有高線性度特性，在光電burst模式下檢測(cè)單個(gè)光子到幾GHz，在連續(xù)照明模式下檢測(cè)幾百M(fèi)Hz。新的探測(cè)器具有8個(gè)數(shù)量級(jí)的動(dòng)態(tài)范圍，加上長(zhǎng)壽命和高收集效率，使這些MCP-PMTs成為許多苛刻應(yīng)用中比較好的選擇。
我們提供一系列包括光電陰極，時(shí)序和輸出等定制選項(xiàng)，以可通過雙層V形或三層Z-stack的配置，來獲取更大增益。MCP-PMT是用于熒光成像、切倫科夫成像和高能物理研究的理想選擇。
應(yīng)用范圍
束流儀器
帶電粒子放大
帶電粒子探測(cè)
切倫科夫探測(cè)器
超快光電分析&高速成像
高能現(xiàn)象成像
雷達(dá)
便攜式儀器
審核編輯黃宇
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光電探測(cè)器
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