在芯片驗(yàn)證中，要想發(fā)現(xiàn)bug

需要激勵(lì)能夠覆蓋到特定場(chǎng)景

需要一系列的checker能夠發(fā)現(xiàn)DUT的錯(cuò)誤

checker分為兩種類型：

典型的和驗(yàn)證組件相對(duì)比較獨(dú)立的checker，這些checker通常與時(shí)序相關(guān)，例如檢查DUT中的狀態(tài)機(jī)是否永遠(yuǎn)不會(huì)進(jìn)入某個(gè)狀態(tài)，檢查接口上的vld-rdy時(shí)序符合協(xié)議。

另一種類型的檢查就是數(shù)據(jù)scoreboard。scoreboard用于檢查系統(tǒng)中數(shù)據(jù)的完整性。

本文我們先介紹時(shí)序的checker，即非scoreboard的checker

時(shí)序checker通常用于檢查隨時(shí)序變化的行為。時(shí)序checker通過(guò)時(shí)間表達(dá)式觸發(fā)以對(duì)某些條件進(jìn)行檢查，這個(gè)時(shí)序表達(dá)式可能像時(shí)鐘周期一樣簡(jiǎn)單，也可能嵌套了很多非常復(fù)雜的時(shí)間表達(dá)式。

時(shí)序checker一般是比較白盒的，深入探索DUT中RTL中的一切預(yù)期行為：

A事件在條件a下一定發(fā)生

B事件一定不會(huì)發(fā)生

A事件發(fā)生后一定會(huì)發(fā)生B事件

舉個(gè)具體例子

在用例結(jié)束可以做一個(gè)驗(yàn)證環(huán)境和DUT的final值check

檢查fifo不會(huì)讀空和寫滿

輸出接口不會(huì)違反AMBA協(xié)議

理論上，我們可以加入無(wú)限多的checker，我們甚至沒(méi)法判斷哪些checker是沒(méi)有價(jià)值的，最終導(dǎo)致checker指數(shù)級(jí)增長(zhǎng)，從而降低仿真器的運(yùn)行效率。

也許，我們的隊(duì)員在會(huì)議中提出了很多很多的checker，聽(tīng)起來(lái)都似乎有些道理。但事實(shí)上是否真的有價(jià)值，還是只是個(gè)雞肋般的checker？

審核編輯：劉清