用LCR測試儀和阻抗分析儀都可以測量電子元件的阻抗，選擇哪款儀器更為合適具體可以參考儀器的功能及結(jié)合測量目的。

選擇LCR測試儀和阻抗分析儀時(shí)，首先要考慮的是測試對象的類型和測試要求。LCR測試儀主要用于測量電容、電感和阻抗三者的綜合數(shù)值，適用于測試電子元器件和電路的性能，也可以搭配LCR測試儀軟件使用；阻抗分析儀主要用于測量阻抗的大小和頻率特性，適用于測試電路中的阻抗。

另外，還要考慮儀器的精度和分辨率等參數(shù)。

一、測試儀器如何選？

1、LCR測試儀

通常采用單一頻率進(jìn)行測量并提供數(shù)值

2、阻抗分析儀

可以不斷地切換頻率進(jìn)行測量

提供頻率特性圖

可執(zhí)行等效電路分析

為了滿足高速、高穩(wěn)定性測量的需求，日置開發(fā)了一系列尺寸緊湊、寬頻率范圍、高性價(jià)比的阻抗測試產(chǎn)品，通過阻抗測試產(chǎn)品助力智能手機(jī)、平板電腦和汽車等眾多領(lǐng)域客戶輕松擴(kuò)大現(xiàn)有的生產(chǎn)線。

二、測試方法有何不同？

自動(dòng)平衡電橋法（ABB）、射頻電流-電壓法（RF I-V）是日置LCR測試儀和阻抗分析儀測試阻抗的方法。

使用自動(dòng)平衡電橋法的LCR測試儀或阻抗分析儀適用于較寬的頻率范圍內(nèi)測試較大阻抗，如低頻、通用測試；使用射頻電流-電壓法的儀器測試精度較高、能在高頻下測試較大的阻抗。

三、LCR測試儀程控軟件怎么選？

NS-LCR測試儀程控軟件用于測量BNT基陶瓷材料、金屬樣塊、變壓器、電阻等的阻抗、電容值和損耗值，可以根據(jù)設(shè)置的時(shí)間間隔和頻率點(diǎn)進(jìn)行相應(yīng)測試，實(shí)現(xiàn)整體測試過程的自動(dòng)化。

舉例說明：點(diǎn)頻連續(xù)測試功能介紹

在此界面中進(jìn)行試驗(yàn)的具體參數(shù)設(shè)置，選擇測試模式、測試頻率、輸出測試通道的所有參數(shù)，測試模式點(diǎn)擊選擇“點(diǎn)頻連續(xù)測試”，并設(shè)置測試時(shí)長和時(shí)間間隔，完善所有參數(shù)設(shè)置。

◆開始測試界面

待所有配置參數(shù)完成設(shè)置后，點(diǎn)擊開始測試，系統(tǒng)會呈現(xiàn)出電阻和電抗關(guān)系的波形圖。

審核編輯黃宇