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對(duì)DUT輸入定向或隨機(jī)的激勵(lì)

ruikundianzi ? 來(lái)源:ICer消食片 ? 2023-02-24 17:19 ? 次閱讀
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TestBench即測(cè)試平臺(tái),是為了檢驗(yàn)待測(cè)設(shè)計(jì)(design under test,DUT)而搭建的驗(yàn)證環(huán)境。有了這個(gè)環(huán)境,我們就可以對(duì)DUT輸入定向或隨機(jī)的激勵(lì),以保證DUT的正確性。故驗(yàn)證要做的事分為以下幾步:

1、生成各種各樣的輸入激勵(lì)

2、將輸入激勵(lì)傳遞到DUT上

3、DUT響應(yīng)輸入激勵(lì)并輸出

4、檢查輸出與預(yù)期結(jié)果差異

5、發(fā)現(xiàn)功能錯(cuò)誤后修改DUT

6、重復(fù)上述步驟收集覆蓋率

做個(gè)不太恰當(dāng)?shù)谋扔?,testbench就像一個(gè)書(shū)桌,你買(mǎi)來(lái)了一個(gè)鍵盤(pán)(DUT),你想要驗(yàn)證它是不是正常工作,你就開(kāi)始敲鍵盤(pán)檢查。你的十個(gè)手指就是激勵(lì),數(shù)據(jù)線和屏幕相連,數(shù)據(jù)線為接口,屏幕是記分板,鍵盤(pán)使用說(shuō)明書(shū)為參考模型。首先你把26個(gè)字母都敲了一遍(定向測(cè)試),發(fā)現(xiàn)屏幕上也出現(xiàn)了26個(gè)字母,每個(gè)鍵都能沒(méi)毛病,基本功能驗(yàn)證了;但是還不夠,你又組合著敲了guan zhu dian zan”隨機(jī)測(cè)試),屏幕上突然出現(xiàn)fen xiang zai kan,這時(shí)你就發(fā)現(xiàn)bug了,趕緊找設(shè)計(jì)人員來(lái)修改代碼。

細(xì)心的同學(xué)發(fā)現(xiàn),隨機(jī)測(cè)試豈不是邊界很大,甚至”永無(wú)止境“?因此就有了受約束的隨機(jī)激勵(lì)。使用定向測(cè)試和受約束的隨機(jī)測(cè)試,最終使得功能覆蓋率趨于要求值。最終,鍵盤(pán)驗(yàn)證完沒(méi)問(wèn)題了,再教給后面的人做物理設(shè)計(jì),比如鍵程長(zhǎng)短、工藝面積、功耗分析等等,一套流程下來(lái)沒(méi)問(wèn)題就拿去廠子代工了。

說(shuō)完了這個(gè)有點(diǎn)尬的比喻,我們理解了testbench就是模擬設(shè)計(jì)所在的環(huán)境,以檢查RTL代碼是否符合設(shè)計(jì)規(guī)范的玩意,其內(nèi)部是分好幾個(gè)組件的。那testbench具體有哪些組件呢?請(qǐng)看下圖(PPT畫(huà)的,不是很專(zhuān)業(yè)):

poYBAGP4gU-ABHOdAACrbVBCofc436.jpg

generator
:產(chǎn)生不同的輸入激勵(lì)來(lái)驅(qū)動(dòng)DUT 產(chǎn)生有效的數(shù)據(jù),并發(fā)送給driver。

interface:用于連接testbench和DUT 如果一個(gè)設(shè)計(jì)包含成百上千個(gè)端口信號(hào),那么連接、維護(hù)和重復(fù)利用這些信號(hào)就會(huì)很麻煩。如果將這些輸入輸出端口放到一塊組成一個(gè)接口,那么連接變得更加簡(jiǎn)潔而不易出錯(cuò),后續(xù)添加新的信號(hào)更簡(jiǎn)便,接口也便于重用。

driver:將激勵(lì)驅(qū)動(dòng)到DUT

monitor:檢測(cè)DUT的輸出

scoreboard:用于比較輸出與預(yù)期值 scoreboard上有與DUT相應(yīng)的參考模型,反映了DUT的預(yù)期行為。如果DUT的輸出和參考模型的輸出不匹配,則設(shè)計(jì)中存在功能缺陷。

environment:包含以上所有的組件,便于復(fù)用

test:可以包含不同配置的環(huán)境 因此,為了驗(yàn)證DUT這份RTL代碼,驗(yàn)證要做的事是:

1)了解spec,即代碼的規(guī)格說(shuō)明書(shū),有結(jié)構(gòu)模型、功能描述、信號(hào)端口、寄存器定義等,它是設(shè)計(jì)和驗(yàn)證對(duì)接工作的橋梁。

2)制定testplan,一個(gè)完整的驗(yàn)證計(jì)劃需要考慮的東西有很多,它為后續(xù)工作的進(jìn)行提供了方向。

3)構(gòu)建testbench,根據(jù)具體驗(yàn)證需求選擇相應(yīng)的組件,搭建出盡量可重用的驗(yàn)證環(huán)境。

4)編寫(xiě)testcase,根據(jù)之前定制的驗(yàn)證計(jì)劃,coding相應(yīng)的測(cè)試用例,debug failcase,把全部case調(diào)試至pass

5)收集coverage,跑regression回歸,根據(jù)覆蓋率來(lái)決定是否加case,直到滿足RTL freeze要求。





審核編輯:劉清

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原文標(biāo)題:芯片驗(yàn)證需要圍繞DUT做什么?

文章出處:【微信號(hào):IP與SoC設(shè)計(jì),微信公眾號(hào):IP與SoC設(shè)計(jì)】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明出處。

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