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“卓越品質(zhì)”既是艾為對(duì)客戶的承諾,也是艾為的品牌自尊心。艾為芯的以“質(zhì)”取勝既離不開靠譜的艾為人,也少不了給芯片質(zhì)量設(shè)置多重考驗(yàn)的一系列專業(yè)設(shè)備。艾為可靠性實(shí)驗(yàn)室就是讓芯片“有質(zhì)量保障”的重要一環(huán)。在這里,各類艾為芯都將通過最嚴(yán)苛的測(cè)試才能最終真正走向市場(chǎng)。
艾為可靠性實(shí)驗(yàn)室位于艾為集成電路技術(shù)實(shí)驗(yàn)中心一期,目前已通過中國(guó)合格評(píng)定國(guó)家認(rèn)可委員會(huì)(CNAS)認(rèn)可評(píng)定(戳此回顧詳情:【新聞】國(guó)家級(jí)認(rèn)證加持!艾為實(shí)驗(yàn)中心獲CNAS認(rèn)可證書)和 ESD20.20認(rèn)證,具備規(guī)范的質(zhì)量管理體系、完善的ESD防護(hù)以及智能的ESD監(jiān)測(cè)系統(tǒng),測(cè)試技術(shù)能力等方面達(dá)到ISO/IEC 17025國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)水平,具備AEC-Q系列項(xiàng)目驗(yàn)證能力,可滿足對(duì)汽車、工業(yè)和消費(fèi)類電子產(chǎn)品進(jìn)行加速環(huán)境應(yīng)力實(shí)驗(yàn)、機(jī)械應(yīng)力模擬實(shí)驗(yàn)、加速壽命模擬實(shí)驗(yàn)、功能驗(yàn)證等可靠性實(shí)驗(yàn)的需求。
ESD20.20認(rèn)證證書
為嚴(yán)格保障艾為產(chǎn)品的質(zhì)量,艾為可靠性實(shí)驗(yàn)室依據(jù)JEDEC、AEC-Q、MIL標(biāo)準(zhǔn),以及客戶的特殊要求,制定艾為產(chǎn)品驗(yàn)證規(guī)范,以ISO17025與ESD20.20標(biāo)準(zhǔn)管理實(shí)驗(yàn)室,實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)規(guī)范化管理,提高實(shí)驗(yàn)室工作效率,保障實(shí)驗(yàn)結(jié)果的準(zhǔn)確性。在產(chǎn)品開發(fā)及量產(chǎn)階段,進(jìn)行全面的可靠性驗(yàn)證以及季度監(jiān)控驗(yàn)證。
可靠性項(xiàng)目流程
廠務(wù)系統(tǒng),高低壓能源、UPS能源供應(yīng)以及溫濕度、純水和PCW冷卻水等八個(gè)控制系統(tǒng)進(jìn)行管理控制,具備自動(dòng)化控制、實(shí)時(shí)監(jiān)控、報(bào)警、數(shù)據(jù)記錄等功能。
ESD監(jiān)測(cè)系統(tǒng),實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)工作臺(tái)面電阻、接地電阻、人員防靜電手環(huán)佩戴情況等,如有監(jiān)測(cè)值超標(biāo)或人員操作不規(guī)范,會(huì)及時(shí)紅燈警示、蜂鳴提醒,并將數(shù)據(jù)傳輸至中控監(jiān)測(cè)系統(tǒng)。
靜電防護(hù)工作臺(tái)及離子風(fēng)機(jī)
為了更加系統(tǒng)、智能、高效地管理可靠性實(shí)驗(yàn)區(qū)域的實(shí)驗(yàn)設(shè)備,艾為人主導(dǎo)開發(fā)了實(shí)驗(yàn)室設(shè)備管理系統(tǒng)。該系統(tǒng)可以全方位監(jiān)視各個(gè)設(shè)備的運(yùn)行狀態(tài),還可以進(jìn)行遠(yuǎn)程啟動(dòng)或停止設(shè)備,設(shè)定溫濕度等操作。同時(shí)包括了實(shí)驗(yàn)記錄匯總、設(shè)備校準(zhǔn)信息匯總、設(shè)備維護(hù)信息匯總等功能,并將全方位的信息匯集在大屏幕上展示,方便實(shí)驗(yàn)室人員或參觀客戶能夠直觀感受實(shí)驗(yàn)室的工作狀態(tài)。
為保證帶電可靠性實(shí)驗(yàn)的真實(shí)性和有效性,艾為人主導(dǎo)開發(fā)了電源監(jiān)測(cè)系統(tǒng),用來監(jiān)測(cè)實(shí)驗(yàn)過程中產(chǎn)品的工作狀態(tài),能夠第一時(shí)間發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品異常的工作狀態(tài),大幅度提高異常問題排查和失效分析效率。
電源監(jiān)測(cè)系統(tǒng)
目前,艾為可靠性實(shí)驗(yàn)室共配置70余臺(tái)實(shí)驗(yàn)設(shè)備和10余臺(tái)業(yè)內(nèi)頂尖自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備,包括但不限于高低溫濕熱試驗(yàn)箱、高加速壽命試驗(yàn)箱、冷熱沖擊試驗(yàn)箱、分立器件功率老化系統(tǒng)、回流焊爐等,還具備領(lǐng)先行業(yè)內(nèi)的ADVANTEST V93000、Chroma 3380P和NI STS T4M2等測(cè)試設(shè)備,均為國(guó)內(nèi)外業(yè)內(nèi)知名品牌。
更高的產(chǎn)品驗(yàn)證覆蓋率
許多廠商會(huì)按照族(family)的概念將產(chǎn)品進(jìn)行劃分,同族產(chǎn)品只需選擇1~2個(gè)進(jìn)行驗(yàn)證即可,雖然符合JEDEC標(biāo)準(zhǔn),但這遠(yuǎn)遠(yuǎn)達(dá)不到艾為人對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量的極致追求,為保證產(chǎn)品可靠性,艾為產(chǎn)品帶電可靠性和封裝可靠性是每款產(chǎn)品均進(jìn)行,每款產(chǎn)品均出具獨(dú)立的可靠性驗(yàn)證報(bào)告,并未按照產(chǎn)品族概念進(jìn)行省略簡(jiǎn)化。與此同時(shí),為提升產(chǎn)品可靠性驗(yàn)證覆蓋率,實(shí)驗(yàn)室配置了多臺(tái)多功能老化設(shè)備,使產(chǎn)品可在老化狀態(tài)下進(jìn)行多種工作模式的遍歷。
更多的產(chǎn)品驗(yàn)證項(xiàng)目和抽樣數(shù)量
大多數(shù)廠商對(duì)于產(chǎn)品可靠性僅關(guān)注常規(guī)的可靠性驗(yàn)證項(xiàng)目,而艾為產(chǎn)品會(huì)對(duì)齊客戶需求和標(biāo)準(zhǔn),加入溫度沖擊(TS)和功率溫度循環(huán)(PTC)等實(shí)驗(yàn),更好的保障產(chǎn)品可靠性。對(duì)于抽樣數(shù)量,部分實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目如高溫存儲(chǔ)(HTSL)、偏壓高加速應(yīng)力(BHAST)、溫濕度偏壓(THB)等實(shí)驗(yàn),主流客戶按照J(rèn)EDEC標(biāo)準(zhǔn)提出的抽樣數(shù)量為3lots/25pcs,而艾為人對(duì)自己的產(chǎn)品抽樣數(shù)量要求提高至3lots/77pcs,整體的產(chǎn)品實(shí)驗(yàn)數(shù)量相當(dāng)于行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)3倍還要多,足以說明艾為人對(duì)自己產(chǎn)品的自信心。
更高要求的板級(jí)應(yīng)力驗(yàn)證規(guī)范
主流廠商對(duì)于WLCSP及Fan-out產(chǎn)品的封裝可靠性驗(yàn)證大部分采用芯片級(jí)(Die Level)驗(yàn)證,而艾為WLCSP產(chǎn)品及Fan-out產(chǎn)品封裝可靠性驗(yàn)證采用板級(jí)(Board Level)驗(yàn)證,實(shí)驗(yàn)條件更嚴(yán)苛,對(duì)芯片封裝可靠性要求更高,以保證客戶應(yīng)用可靠性。
明年,艾為可靠性實(shí)驗(yàn)室預(yù)計(jì)對(duì)偏壓高加速應(yīng)力實(shí)驗(yàn)(BHAST)、溫度沖擊實(shí)驗(yàn)(TS)、低溫工作壽命實(shí)驗(yàn)(LTOL)、早夭壽命失效實(shí)驗(yàn)(ELFR)、功率溫度循環(huán)實(shí)驗(yàn)(PTC)、跌落實(shí)驗(yàn)(DT)和易焊性實(shí)驗(yàn)(SD)7個(gè)項(xiàng)目進(jìn)行CNAS擴(kuò)項(xiàng)申請(qǐng)。與此同時(shí),實(shí)驗(yàn)中心失效分析(FA)實(shí)驗(yàn)室也正式啟動(dòng)建設(shè),位于臨港的專業(yè)車規(guī)級(jí)可靠性實(shí)驗(yàn)室也完成設(shè)計(jì)、規(guī)劃,在繼續(xù)擴(kuò)大硬件規(guī)模、持續(xù)提升管理水平、夯實(shí)可靠性技術(shù),通過高集成度、全自動(dòng)化的管理運(yùn)營(yíng)模式和高專業(yè)度的可靠性技術(shù)能力,為艾為電子產(chǎn)品的品質(zhì)保駕護(hù)航,為客戶提供更優(yōu)質(zhì)的服務(wù)和品質(zhì)。
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集成電路
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電源監(jiān)測(cè)
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原文標(biāo)題:走進(jìn)艾為可靠性實(shí)驗(yàn)室,探秘靠譜艾為芯的保障
文章出處:【微信號(hào):awinicfamily,微信公眾號(hào):艾為之家】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明出處。
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開關(guān)旋鈕復(fù)合操作可靠性測(cè)試:從場(chǎng)景模擬到性能驗(yàn)證

元器件可靠性領(lǐng)域中的 FIB 技術(shù)

可靠性測(cè)試包括哪些測(cè)試和設(shè)備?

提供半導(dǎo)體工藝可靠性測(cè)試-WLR晶圓可靠性測(cè)試
電機(jī)微機(jī)控制系統(tǒng)可靠性分析
IGBT的應(yīng)用可靠性與失效分析

從IGBT模塊大規(guī)模失效爆雷看國(guó)產(chǎn)SiC模塊可靠性實(shí)驗(yàn)的重要性
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半導(dǎo)體集成電路的可靠性評(píng)價(jià)

一文讀懂芯片可靠性試驗(yàn)項(xiàng)目

亞太區(qū)首座功率半導(dǎo)體動(dòng)態(tài)可靠度驗(yàn)證實(shí)驗(yàn)室即將建立
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