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低溫晶圓測試正在持續(xù)升溫

芯??萍?/a> ? 來源:芯睿科技 ? 作者:芯??萍?/span> ? 2022-07-05 10:54 ? 次閱讀
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近年來,在低溫(低于123K或-150°C)下,晶圓上超導(dǎo)材料,其他新型材料和傳統(tǒng)半導(dǎo)體的使用迅速增長。具有創(chuàng)造力的新型傳感器利用了非常低的溫度下獨特的材料特性,可以檢測各種物理現(xiàn)象,例如紅外輻射,磁場,X射線等。它們在醫(yī)療,國防,工業(yè)自動化和天文學(xué)等許多行業(yè)中都有應(yīng)用。最近,量子計算和超導(dǎo)邏輯領(lǐng)域的發(fā)展為計算的未來帶來了巨大的能量和性能提升。毫無疑問,將會有更多的低溫應(yīng)用和設(shè)備。

高性能熱成像是其中之一,如今已廣泛用于監(jiān)視/安全,夜視,遙感,氣象學(xué),軍事威脅和目標檢測,體熱分析,天文學(xué)等。這些系統(tǒng)使用基于冷卻的紅外傳感器的FPA(焦平面陣列)。低溫環(huán)境有助于降低熱噪聲,因此這些檢測器陣列可以提供更高的分辨率和靈敏度。

冷卻的IR傳感器由不同的材料制成,目標是從近紅外(NIR)到長波紅外(LWIR)的各種波長范圍,包括硅,多種III-V化合物(InGaAs,InSb,InAsSb,InAs / GaSb等),通常設(shè)計為量子阱光電探測器,MCT(碲化汞鎘)以及包括YBCuO,GdBO3,MgB2等在內(nèi)的超導(dǎo)光子探測器技術(shù)。在晶圓上測試這些低溫技術(shù)需要低溫探針系統(tǒng)。

該低溫測試儀將其封閉在真空室中以提供適當(dāng)?shù)拿芊夂团趴窄h(huán)境。恒定的液氮或液氦流量或其他冷卻技術(shù)可達到77 K或更低的溫度。此外,低溫恒溫器本身包含電阻加熱器,低溫級溫度傳感器和溫度控制器,可在較寬的溫度范圍內(nèi)為該熱系統(tǒng)提供出色的穩(wěn)定性。信號饋通,攝像機光學(xué)器件和探頭定位器控件都需要特別考慮才能進入極端真空/寒冷的環(huán)境。安全性,振動和樣品安裝也對真空/低溫條件提出了新的挑戰(zhàn)。甚至探針也必須設(shè)計用于低溫條件。最后,盡管對于僅帶有少量信號的單個小切丁樣品而言,有許多解決方案可用,但過程和產(chǎn)品鑒定需要更高級別的工具。高容量測試需要一個用于容納完整晶片樣品的大腔室,多通道低溫探針卡,一個用于在整個晶片表面上進行分步重復(fù)測試的軟件控制晶片臺以及其他功能,以最大化測試吞吐量。

通過強大功能的無與倫比的組合,我們在高通量低溫晶圓測試中處于領(lǐng)先地位:

  • 具有可編程電動XYZΘ級的分步重復(fù)自動化。
  • 在每一步執(zhí)行基于攝像機的自動對準調(diào)節(jié)。
  • 多個 8 個容易定位且非常穩(wěn)定的超低溫探針(用于 DC、RF 和光信號)—— 和用于更高信號數(shù)的探針卡。
  • 樣品尺寸從碎片到 200mm 全晶圓(可提供 300mm 選項)。
  • 晶圓調(diào)換不會損壞探針或探針卡。
  • 可編程,電動定位多個黑體輻射源,顯微鏡和其他設(shè)備

高測試吞吐量使我們的客戶能夠從實驗室概念過渡到設(shè)備表征,從設(shè)計調(diào)試到大規(guī)模工程/生產(chǎn)測試。我們的陣容PAC200探針臺,PMC200探針臺,和PLC50探針臺,包括多個大小和自動化級別,以及靈活/可自定義的配置。

審核編輯:符乾江

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