解決電路表征問題，以加快上市時間

半導體測試工程師可以花費大量時間來集成和排除系統故障。整合的復雜性可能成為以及時，有利可圖的方式將產品推向市場的巨大障礙。在某些情況下，必須配置和集成來自多個供應商的硬件和軟件，以確保不同位置之間的數據關聯和測量準確性。幸運的是，我們的MeasureOne程序簡化了定義，集成和驗證系統以進行電路表征的任務。

MeasureOne?是FormFactor的解決方案，基于與同類最佳合作伙伴的合作，提供具有經過驗證的性能的測試和測量解決方案。

半導體測試工程師可以花費大量時間來集成和排除系統故障。整合的復雜性可能成為以及時，有利可圖的方式將產品推向市場的巨大障礙。在某些情況下，必須配置和集成來自多個供應商的硬件和軟件，以確保不同位置之間的數據關聯和測量準確性。幸運的是，我們的MeasureOne程序簡化了定義，集成和驗證系統以進行電路表征的任務。

在諸如放大器，混頻器和濾波器之類的電路上執(zhí)行晶片級測量的測試系統的規(guī)范可能是具有挑戰(zhàn)性的，尤其是當單個晶片可以包括多種電路類型時。驗證這些結構所需的測試范圍廣泛且復雜，包括S參數，DC參數，噪聲系數，增益壓縮和互調失真。測量和校準精度至關重要，尤其是在多個位置之間必須關聯測試的情況下。

要配置系統以應對這些挑戰(zhàn)，您必須指定和提供來自多個供應商的儀器，晶圓探針臺，RF和DC探針和軟件，然后在第一臺設備進行測試之前在現場集成并證明這些?？赡苄枰獢抵苌踔翑翟虏拍軋?zhí)行第一次測量，并確信不同位置之間存在數據關聯和測量精度。

與我們的MeasureOne合作伙伴一起是德科技，FormFactor可以通過提供完全集成的晶圓級測量解決方案直接應對這些挑戰(zhàn)，并提供有保證的配置，安裝和支持。我們的晶圓級探針臺，微波和直流偏置探頭以及校準工具與Keysight的測試儀器和測量與分析軟件相結合，可以對所有結構進行全面測量。

例如，晶圓級測量解決方案可能采用我們全新的SUMMIT200半自動晶圓探針系統，適用于Infinity探針?，最大可達200mm的晶圓，WinCal XE?校準軟件和阻抗標準襯底用于校準，以及Keysight PNA或PNA-X微波網絡分析儀，Keysight N6705B直流電源分析儀和Keysight WaferPro Express測量軟件平臺。或者，或許不同的FormFactor探針系統或探針樣式更適合您的需求，或者不同的是德科技儀器 – 兩家公司都提供各種高性能，兼容的產品，以滿足各種各樣的要求。

為了確保所有這些元素協同工作以滿足您的應用需求，我們與Keysight一起將在交付之前預先驗證系統配置。我們的解決方案專家將安裝和驗證系統S參數和DC參數性能，Keysight解決方案專家將驗證可選的應用功能。校準對于確保準確和可重復的測試至關重要，而這在晶圓探測環(huán)境中尤其具有挑戰(zhàn)性。

憑借FormFactor和是德科技提供的有保證的晶圓級測量解決方案，您可以獲得準確且可重復的測試，并縮短首次測量時間。

審核編輯：符乾江