SMU 源測量單元的概念始創(chuàng)于上個世紀50年代，隨著半導體工業(yè)的元器件以及各式新穎材料的開發(fā)。直到今天SMU （源測量單元）依舊是半導體分立元器件以及各類新穎材料I-V測量的常見工具。例如大家熟知的二極管、三極管、精密電阻等分立器件，以及超導材料、納米材料、各類半導體材料、鐵電材料、壓電材料不一一贅述。

時至今日，以寬禁帶半導體、量子計算、VCSEL、硅光技術(shù)、腦機接口、憶阻器為代表的新技術(shù)，持續(xù)推動元器件性能的提升，但同時也給測試和測量帶來了新的挑戰(zhàn)。用戶不再僅僅考慮I-V 測試， C-V 測試，脈沖測試類的傳統(tǒng)測試項目，而是向著高壓、高流、高頻、高通道密度的方向繼續(xù)快速發(fā)展，傳統(tǒng)儀表從滿足技術(shù)要求或是預算的上限上看都開始顯得越發(fā)的吃力。

基于上述考慮，是德科技為用戶設計推出了新一代高性能的PXI模塊化測試平臺，這個平臺具有極高的靈活性，PXI的卡槽也為后續(xù)的擴展和性能升級留出了物理空間。在提升SMU密度，降低單個輸出通道的成本方面具備無與倫比的優(yōu)勢。

不僅如此，PXI模塊化平臺不僅僅只有SMU模塊，還提供用戶常用的DMM數(shù)字化模塊、示波器模塊、射頻儀器模塊等等常見的PXI板卡式的測試儀器，為用戶構(gòu)建不同類型的測試系統(tǒng)提供了極大的便利。

以VCSEL為例：VCSEL從誕生起，是作為新一代光存儲和光通信應用的核心器件，應用在光并行處理、光識別、光互聯(lián)系統(tǒng)、光存儲等領(lǐng)域。

隨著工藝、材料技術(shù)改進和VCSEL技術(shù)的成熟，VCSEL元器件在功耗、制造成本、集成、散熱等領(lǐng)域的優(yōu)勢開始顯現(xiàn)，以其作為核心元件的光學感測技術(shù)進入了行業(yè)應用，同時已在激光打印機、光學鼠標、汽車激光雷達（LiDAR）、輔助駕駛、氣體傳感器、活體檢測、虹膜識別、AR/VR、機器人視覺、醫(yī)療美容等領(lǐng)域得以初探，并逐漸應用于工業(yè)加熱、環(huán)境監(jiān)測、醫(yī)療設備等商業(yè)級應用以及3D感知、ToF鏡頭等消費級應用。