與常規(guī)操作相比，Hi-Pot測試是在更高的電壓下進行的。測試時可使用交流電壓或直流電壓，通常在幾百伏到幾千伏之間。執(zhí)行測試時將施加高電壓，并用專用測試設(shè)備測量是否存在擊穿（通過/失?。?。不會收集其他測量數(shù)據(jù)。在選擇測試裝備時，一方面需要確保探針能夠承受高電壓。另一方面，它們應(yīng)采用彈簧觸探方式，以便實現(xiàn)自動化測試，從而在測試流水線上進行大批量測試。

可行解決方案和實用技巧

INGUN 提供用于高壓測試的專用探針。我們已在內(nèi)部實驗室中對其進行過嚴(yán)格測試。對于單根探針，應(yīng)選擇具有完全貫通式活塞的設(shè)計，或自身電阻較低的大電流探針。同軸設(shè)計也很有優(yōu)勢，例如同軸偶極探針，其本質(zhì)上是兩根探針合二為一（即雙探針），因而節(jié)省空間。該設(shè)計適用于眾多連接器和被測器件。

Hi-Pot 測試應(yīng)始終與通路測試和高頻測試分開進行。應(yīng)盡量避免將同一探針用于不同類型的測量，以確保測試元件擁有理想的使用壽命。根據(jù)所選探針，與測試設(shè)備的連接應(yīng)通過同軸連接器和同軸電纜、焊接、螺絲連接（電纜接頭套管）或插頭連接（較罕見）實現(xiàn)。