在校準射頻探針時,對校準的嚴格設計需要面臨各種不同的挑戰(zhàn)。目的是確保高頻測試的準確無誤,同時優(yōu)
化測試的簡便性,速度和成本。這一點變得越來越重要,例如,引入5G后,需要以更高的頻率進行工作和測
試。基于這些要求,INGUN客戶必須在設計測試系統(tǒng)時決定哪種校準/補償方法最適合其應用。我們能夠提
供多種可供選擇的方法,從簡單的校準到非常復雜的校準,范圍十分寬泛。校準越復雜,在結果越精確,在
批量測試中的測量結果也越精確。但是,并非總是需要最復雜且耗時的校準過程;簡單的過程通常足以優(yōu)化
測量結果并減少誤差。除了由于不理想的校準特性而導致的錯誤外,在校準射頻探針時還會發(fā)生另外兩個錯
誤:
1.定位錯誤:當射頻探針未與物體精確對準時,會發(fā)生這種情況。
2.校準路徑錯誤:在已經執(zhí)行校準后添加或刪除擴展時,會發(fā)生這種情況。
使用適合各自應用的正確校準方法可以完全避免錯誤。
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