IR（Insulation Resistance，絕緣電阻）是電容器中的電介質(zhì)材料電阻漏電流的程度。它是電介質(zhì)材料本身的電阻*1。IR可通過漏電流來測(cè)量。知道漏電流和外加電壓，即可根據(jù)歐姆定律計(jì)算絕緣電阻。測(cè)量漏電流有兩種基本方式。首先，用一個(gè)與電容器和電壓源串聯(lián)的電流表（圖1）。

圖1： 與電容器串聯(lián)的電表

其次，用一個(gè)與電阻器并聯(lián)的伏特計(jì)，然后串聯(lián)連接到電容器和電壓源（圖2）。

圖2： 帶電阻的并聯(lián)伏特計(jì)，并且串聯(lián)到電容器

第一個(gè)方法通常適用于小于1uF的電容器。低電容量電容器具有低漏電流，因此，低電流電表可以準(zhǔn)確測(cè)量電流。如果漏電流高，由于充電電容器的噪音和不穩(wěn)定性，電表將不能準(zhǔn)確測(cè)量。因此，對(duì)于高容値電容器應(yīng)使用第二種方法。

原文標(biāo)題：如何測(cè)量電容器的絕緣電阻？

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