創(chuàng)意無極限，儀表大發(fā)明。今天為大家介紹一項(xiàng)國家發(fā)明授權(quán)專利——電流傳感器的檢測(cè)裝置和方法。該專利由比亞迪股份有限公司申請(qǐng)，并于2018年9月7日獲得授權(quán)公告。

內(nèi)容說明

本發(fā)明涉及電流傳感器技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種電流傳感器的檢測(cè)裝置和方法。

發(fā)明背景

目前，檢測(cè)電流傳感器是否為良品的方法主要通過檢測(cè)內(nèi)嵌在電流傳感器磁芯縫隙中的霍爾芯片是否被壓彎來實(shí)現(xiàn)。首先，給被測(cè)的電流傳感器提供+/-15V的工作電壓，其次用磁性螺絲刀調(diào)節(jié)電流傳感器中的電位器(例如電阻值為200k歐姆的電位器)，觀看萬用表的讀數(shù)是否有正負(fù)輸出。如果輸出值不在±20mv范圍內(nèi)，將其調(diào)節(jié)至±20mv以內(nèi)。然后將磁性螺絲刀插入磁芯氣隙內(nèi)，即霍爾芯片的兩側(cè)，使霍爾芯片對(duì)磁性螺絲刀的磁場(chǎng)產(chǎn)生感應(yīng)。此時(shí)，觀看萬用表上的數(shù)值是否在±10mv以內(nèi)。當(dāng)電流傳感器處于靜態(tài)工作時(shí)，用磁性螺絲刀當(dāng)作一塊磁鐵，在電流傳感器中的霍爾芯片處加一磁場(chǎng)。如果萬用表讀數(shù)超過±10mv，說明電流傳感器中的霍爾芯片被壓彎，則可判定該電流傳感器為不良品；如果萬用表讀數(shù)在±10mv以內(nèi)，則可判定該電流傳感器為良品。

現(xiàn)有技術(shù)中存在的缺點(diǎn)是，上述的測(cè)試方法通過人工操作進(jìn)行測(cè)試，可能會(huì)產(chǎn)生誤差，導(dǎo)致準(zhǔn)確性非常差。具體而言，當(dāng)霍爾芯片所在位置處于磁芯氣隙中磁場(chǎng)強(qiáng)度最強(qiáng)的位置時(shí)，可以粗略地反應(yīng)出電流傳感器的靜態(tài)輸出，并不能準(zhǔn)確的檢測(cè)出霍爾芯片是否被壓彎。當(dāng)霍爾芯片所在的位置并不是處于磁芯氣隙中磁場(chǎng)強(qiáng)度最強(qiáng)的位置時(shí)，霍爾芯片兩側(cè)的磁場(chǎng)不平衡，所以電流傳感器的靜態(tài)輸出超出范圍。因此，當(dāng)霍爾芯片所在的位置并不是處于磁芯氣隙中磁場(chǎng)強(qiáng)度最強(qiáng)的位置時(shí)，現(xiàn)有的測(cè)試方法并不適用，無法準(zhǔn)確地檢測(cè)霍爾芯片是否被壓彎。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明旨在至少在一定程度上解決上述技術(shù)問題。

本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的待測(cè)電流傳感器的模型圖

為此，本發(fā)明的第一個(gè)目的在于提出一種電流傳感器的檢測(cè)裝置，通過測(cè)試電流生成器生成測(cè)試電流，并將該測(cè)試電流施加在導(dǎo)體上，控制器接收待測(cè)電流傳感器生成的輸出電壓，并根據(jù)輸出電壓對(duì)待測(cè)電流傳感器進(jìn)行檢測(cè)，提高了檢測(cè)的準(zhǔn)確性和可靠性，使得檢測(cè)電流傳感器時(shí)更加簡便、智能化，有效地減少了電流傳感器不良品的漏檢。

本發(fā)明的第二個(gè)目的在于提出一種電流傳感器的檢測(cè)方法。為達(dá)上述目的，根據(jù)本發(fā)明第一方面實(shí)施例提出了一種電流傳感器的檢測(cè)裝置，包括：導(dǎo)體，所述導(dǎo)體穿插在待測(cè)電流傳感器的磁環(huán)內(nèi)；測(cè)試電流生成器，用于生成測(cè)試電流，并將所述測(cè)試電流施加在所述導(dǎo)體之上，以使所述待測(cè)電流傳感器通過霍爾芯片對(duì)所述測(cè)試電流生成的磁場(chǎng)感應(yīng)，從而生成輸出電壓；以及控制器，所述控制器與所述待測(cè)電流傳感器的輸出端相連接，用于接收所述待測(cè)電流傳感器生成的輸出電壓，并根據(jù)所述輸出電壓對(duì)所述待測(cè)電流傳感器進(jìn)行檢測(cè)。

本發(fā)明實(shí)施例的電流傳感器的檢測(cè)裝置，通過測(cè)試電流生成器生成測(cè)試電流，并將該測(cè)試電流施加在導(dǎo)體上，控制器接收待測(cè)電流傳感器生成的輸出電壓，并根據(jù)輸出電壓對(duì)待測(cè)電流傳感器進(jìn)行檢測(cè)，提高了檢測(cè)的準(zhǔn)確性和可靠性，使得檢測(cè)電流傳感器時(shí)更加簡便、智能化，有效地減少了電流傳感器不良品的漏檢。

本發(fā)明第二方面實(shí)施例提供了一種電流傳感器的檢測(cè)方法，包括以下步驟：將導(dǎo)體穿插在待測(cè)電流傳感器的磁環(huán)內(nèi)，并將測(cè)試電流生成器生成的測(cè)試電流施加在所述導(dǎo)體之上，以使所述待測(cè)電流傳感器通過霍爾芯片對(duì)所述測(cè)試電流生成的磁場(chǎng)感應(yīng)，從而生成輸出電壓，使所述待測(cè)電流傳感器生成輸出電壓；控制與所述導(dǎo)體相連的所述測(cè)試電流生成器生成的測(cè)試電流；采集所述待測(cè)電流傳感器生成的輸出電壓；根據(jù)所述輸出電壓對(duì)所述待測(cè)電流傳感器進(jìn)行檢測(cè)。

本發(fā)明實(shí)施例的檢測(cè)方法，通過對(duì)測(cè)試電流生成器電源的控制，使對(duì)待測(cè)電流傳感器進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，實(shí)現(xiàn)了控制測(cè)試電流生成器的自動(dòng)開啟或關(guān)閉，有效地防止了電路短接，提高了檢測(cè)時(shí)的安全性；并通過對(duì)測(cè)試電流生成器生成的測(cè)試電流的自動(dòng)調(diào)整，代替了手動(dòng)旋鈕調(diào)整測(cè)試電流，為檢測(cè)提供了便利，而且提高了檢測(cè)的準(zhǔn)確性。