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PCB生產(chǎn)中的ICD失效如何避免?

電子設(shè)計 ? 來源:電子設(shè)計 ? 作者:電子設(shè)計 ? 2020-10-30 16:22 ? 次閱讀
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ICD 失效,即 Inner connection defects,又叫內(nèi)層互連缺陷。對于 PCB 生產(chǎn)廠家而言,ICD 問題在電測工序較難有效攔截,往往是流到下游甚至是客戶端,在進(jìn)行 SMT 貼裝過程,PCB 板經(jīng)歷無鉛回流焊 IR、波峰焊接、以及一些手工焊或是返修等高溫制程的沖擊下,發(fā)生內(nèi)層互聯(lián)失效開路,而此時的 PCB 板已進(jìn)行了組裝,因而會產(chǎn)生極大的品質(zhì)風(fēng)險。


下面簡要從鉆孔質(zhì)量和除膠過程這兩個方面,闡述 ICD 失效的影響機(jī)理,對此類問題的檢測和分析經(jīng)驗進(jìn)行小結(jié)。


鉆孔質(zhì)量對 ICD 的影響
以高頻高速材料的加工為例,高頻高速板材的基板具有低 Dk 、低 Df 的特性,其極性小,材料活性低,去除膠渣困難,從而進(jìn)一步加大了孔內(nèi)殘膠對 PTH 電鍍的影響。部分高頻板材介質(zhì)層樹脂填料多,物理特性比較硬,對鉆刀的鉆嘴磨耗大,孔壁粗糙度大,以及鉆嘴摩擦高溫凝膠較多。因此,在孔壁粗糙度大、釘頭異常等情況可能導(dǎo)致除膠藥水循環(huán)不良,造成除膠效果不佳,未能完全將孔壁殘留膠渣去除干凈,導(dǎo)致內(nèi)層孔銅與孔壁連接處產(chǎn)生 ICD 失效。也有一部分板材的基材偏軟且軟化點(diǎn)低,鉆孔加工過程中產(chǎn)生的高溫易使鉆屑軟化、粘附成團(tuán),造成入鉆排屑不暢而形成間歇性的擠出排屑,鉆屑易被擠壓粘附在孔壁上,極大的增加了后工序除膠處理難度,存在孔內(nèi)殘膠風(fēng)險,最終可能會導(dǎo)致 ICD 問題。

對于剛-撓結(jié)合印制板(FPC),柔性材料的絕緣介質(zhì)為聚酰亞胺(PI)等,這些材料的機(jī)械加工性能相對較差,加工過程中產(chǎn)生形變大,容易導(dǎo)致釘頭產(chǎn)生,也就在內(nèi)層互連的位置留下了應(yīng)力,因此,這種情況下鉆污殘留對孔銅和內(nèi)層銅層的互連可靠性的影響會更加突出,最終導(dǎo)致產(chǎn)品在受到焊接過程的高溫沖擊時,內(nèi)層互連處裂開而出現(xiàn)開路。

1 案例背景
除膠不凈對 ICD 的影響

以普通環(huán)氧樹脂體系的 FR-4 板材為例,在化學(xué)除膠過程中,鉆孔后殘留在孔壁的高分子環(huán)氧樹脂膠所包含的 C-O、C-H 等化學(xué)鍵可被 KMnO4 氧化分解,生成對應(yīng)的二氧化碳和水等無機(jī)物,再經(jīng)水洗或除油后,可被完全清除干凈。當(dāng)出現(xiàn) KMnO4 濃度低于控制限范圍等異常情況時,孔內(nèi)壁的基銅層就可能會殘留樹脂膠,經(jīng)除膠、水洗、除油等流程后均無法有效除凈,電鍍時,在有膠的區(qū)域基銅層與電鍍銅結(jié)合力較差,經(jīng)熱應(yīng)力處理后,殘膠區(qū)域受到熱應(yīng)力的“拉扯”而出現(xiàn)微裂紋現(xiàn)象。

對于高頻材料而言,其介質(zhì)層與鉆刀的鉆嘴磨損更劇烈,鉆嘴摩擦高溫導(dǎo)致凝膠過多,因此,高頻板的除膠過程需更加注意,有些產(chǎn)品甚至采用“等離子除膠+化學(xué)除膠”兩次除膠相結(jié)合的流程,來確??妆跉埬z被完全清除,防止殘留的膠渣造成內(nèi)層銅環(huán)與電鍍孔銅之間結(jié)合不良,從而導(dǎo)致 ICD 失效。

審核編輯 黃昊宇

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
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