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對三方制程工藝節(jié)點等方面進行的探索

我快閉嘴 ? 來源:與非網(wǎng) ? 作者:與非網(wǎng) ? 2020-06-23 13:35 ? 次閱讀
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從上世紀 60 到 90 年代末,制程工藝命名是根據(jù)芯片中柵極長度命名。

長期以來,柵極長度(晶體管柵極的長度)和半間距(芯片上兩個相同特征之間的距離的一半)與過程節(jié)點名稱相匹配,但最后一次以柵極長度命名是 1997 年。間距數(shù)繼續(xù)與節(jié)點名匹配,但從實際意義上不再與之相關。

如果我們能夠達到幾何比例縮放要求使節(jié)點名稱和實際尺寸大小保持同步,那么六年前我們芯片制程就會是 1nm 以下。我們用來表示每個新節(jié)點的數(shù)字只是公司選擇的數(shù)字。早在 2010 年,ITRS(稍后將對此進行詳細介紹)將在每個節(jié)點上轉儲的技術稱為“等效擴展”。

市場如何改變了制程?

當芯片制程接近納米級的極限時,公司可能會開始使用埃米而不是納米,或可能會簡單地使用小數(shù)點進行標注。早期,制程以微米而不是 nm(例如,以 0.18 微米或 0.13 微米,而不是 180nm 或 130nm)為單位的標注制程尺寸更為普遍。

無論從資本還是技術投入的角度出發(fā),半導體制程都無疑是一個深投入、慢產(chǎn)出的領域。一項新技術,從論文階段發(fā)展到大規(guī)模商用,平均需耗費 10-15 年時間。

幾十年前,半導體行業(yè)認識到,如果針對節(jié)點引入通用的路線圖,并規(guī)范這些節(jié)點所使用的通用特征尺寸,這將有助于解決新節(jié)點推入市場時的規(guī)模和協(xié)同性問題。多年來,ITRS(國際半導體技術路線圖)都負責發(fā)布行業(yè)總路線圖,周期長達 15 年之久,為半導體市場設定了總體目標。

2013-2014 年間,ITRS 發(fā)布了 ITRS 2.0 版本,但很快意識到覆蓋范圍不足的問題。為了給大學、財團和行業(yè)研究人員提供更為完善的藍圖參考,以激發(fā)各個技術領域的創(chuàng)新,ITRS 又成立了一個新的組織,稱為 IRDS(設備和系統(tǒng)的國際路線圖),其職責范圍更大,技術覆蓋面也更廣。

覆蓋面和重點轉移反映整個芯片制造行業(yè)正在發(fā)生的變革。停止將柵極長度或半節(jié)距與節(jié)點大小綁定的原因是,它們不是在縮小規(guī)模就是在縮小規(guī)模的路上。作為替代方案,芯片公司集成了各種新技術和制造方法,從而跟進節(jié)點控制的腳步。

在 40 / 45nm 節(jié)點處,要與后者統(tǒng)一,GlobalFoundries 和臺積電等推出浸沒式光刻技術。在 32nm 節(jié)點處,引入雙重曝光技術。在 28nm 節(jié)點處,引入后柵極技術。此外,F(xiàn)inFET 是由 Intel 在 22nm 節(jié)點處引入的技術,而其他公司則是在 14 / 16nm 處開始使用該技術。

不同的芯片公司有時會在不同的時間節(jié)點導入新工藝技術。當 AMD 和臺積電在 40 / 45nm 節(jié)點處采用浸沒式光刻技術時,英特爾并沒有作出同樣的選擇,直到 32nm 工藝節(jié)點時,它才開始選用浸沒式光刻技術,并選擇首推雙重曝光技術。

接著,GlobalFoundries 和臺積電在 32 / 28nm 節(jié)點處開始更多地采用雙重曝光技術。在 28nm 節(jié)點處,臺積電采用的是后柵極技術,而三星和 GlobalFoundries 則采用的是前柵極技術。

但是,隨著進展變得越來越慢,公司對于營銷的依賴在加大,于是出現(xiàn)了許多公司自己命名的“節(jié)點”,擾亂了大家的視線。比如像三星,也開始在 90、65、45nm 節(jié)點后開始以自身技術的迭代來命名新的節(jié)點。

每個制程節(jié)點都會有升級的空間,但已經(jīng)不是按照摩爾定律來了。

現(xiàn)在盡管節(jié)點名稱不與任何特征尺寸相關聯(lián),并且某些特征尺寸已停止擴展,但半導體制造商仍在尋找改善關鍵指標的方法,這也是真正的工藝改進。

但是,由于現(xiàn)在技術很難獲得更多的優(yōu)勢,并且需要更長的開發(fā)時間,因此芯片公司正在嘗試更多的改進方法。例如,三星正在部署比以前更多的芯片制程名稱,這就是市場營銷。

為什么人們聲稱 Intel 10nm 和 TSMC / Samsung 7nm 是等效的?

英特爾 10nm 制造參數(shù)非常接近臺積電和三星用于 7nm 制程的值。下圖來自 WikiChip,展示了英特爾 10nm 節(jié)點的已知特征尺寸,和臺積電、三星 7nm 節(jié)點的已知特征尺寸對比情況。

對三方制程工藝節(jié)點等方面進行的探索

14nm ?/ 10nm?列顯示了每個公司從其上一個節(jié)點開始將特定功能擴展的程度。英特爾和三星的金屬最小間距比臺積電更嚴格,但臺積電的高密度 SRAM 單元比英特爾小,這可能反映了臺灣代工廠的不同客戶的需求。同時,三星的手機甚至比臺積電的手機還要小。

總體而言,英特爾的 10nm 工藝達到的許多關鍵指標,臺積電和三星都將其稱為 7nm。

針對特定的設計目標,單顆芯片的特征尺寸可能仍將偏離這些既有數(shù)據(jù)。制造商提供的這些數(shù)字是給定節(jié)點上的典型預期實現(xiàn)方式,不一定與某些特定芯片完全匹配。

有人質疑英特爾 10nm +工藝(用于 Ice Lake)參數(shù)(針對 Cannon Lake 發(fā)布)。其預期規(guī)格可能略有變化,但往上推,當年 14nm+也是從 14nm 演變過來的。英特爾已經(jīng)表示,仍將針對 10nm 的 2.7 倍減小(相對于 14nm)作為目標,因此將暫緩任何有關下一步 10nm +演進可能有不同的猜測。
責任編輯:tzh

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