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長鑫存儲正在加速從DRAM的技術追趕者向技術引領者轉變

丫丫119 ? 來源:未知 ? 作者:肖冰 ? 2019-09-26 05:13 ? 次閱讀
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在今日舉辦的中國閃存技術峰會(CFMS)上,長鑫存儲副總裁、未來技術評估實驗室負責人平爾萱博士做了題為《DRAM技術趨勢與行業(yè)應用》的演講,披露了DRAM技術發(fā)展現(xiàn)狀和未來趨勢。

作為中國DRAM產業(yè)的領導者,長鑫存儲正在加速從DRAM的技術追趕者向技術引領者轉變,用自主研發(fā)的DRAM技術和專利,引領中國實現(xiàn)DRAM零的突破。



DRAM技術的發(fā)展現(xiàn)狀

平爾萱博士在會上表示,我們現(xiàn)在所處的數(shù)據(jù)社會是在IC的支撐下建立起來的,其中馮諾依曼架構則是這些數(shù)據(jù)計算的基礎。這個架構的一個特點是數(shù)據(jù)存儲在存儲器DRAM中,CPU以一定的規(guī)則獲取存儲器中的數(shù)據(jù),并進行運算,然后將結果通過外圍設備,比如顯示器呈現(xiàn)出來。

“隨著數(shù)據(jù)量的增加,處理數(shù)據(jù)的能力要加強,因此需要強大的CPU,同時存儲器的數(shù)據(jù)容量也要增強,并且讀寫速度也要增加。因此近來對DRAM的要求也必須持續(xù)提高。DRAM的前景是十分看好”,平爾萱博士強調。IBS首席執(zhí)行官 Handel Jones日前在上海出席一場技術論壇時也表示,DRAM將于2020年迎來復蘇,增長9.87%,這也從側面印證了平博士的觀點。

平博士在會上介紹道,所謂DRAM,是基于電容存儲電荷為原理的緊密鋪排的陣列。這個陣列通過一系列外圍電路管理從而讀寫里面存儲的數(shù)據(jù)。自上世紀60年代發(fā)明以來,DRAM容量和尺寸獲得了飛速的發(fā)展。與過往相比,今天,一個面積小于指甲蓋的DRAM里可容納80億存儲單元,按照8個存儲單元存儲一個字母,那就意味著一個芯片可能存8億個字母。并且這些數(shù)據(jù)可以以6Gb/sec 的速度,在幾秒內完成讀寫。而在這些改變背后,是DRAM技術多次“進化”的結果。

從平博士的介紹我們得知,DRAM技術在發(fā)明之后的幾十年里,經(jīng)歷了從早期簡單的平面結構,變化成為了向空間爭取表面積的溝槽式電容及堆疊式電容的架構。這主要與容量的提升需求和制造方法的局限性有關。

平博士解釋道,早期的DRAM芯片,由于線寬比較大,因此有足夠的平面面積可制造出足夠的電容值。然而隨著線寬的減少,表面積逐漸減少,過往的技術不能滿足所需電容值,因此DRAM開始走向空間結構,爭取更多的表面積,演變出向上和向下兩種技術發(fā)展路線,并且共存了接近三十年。而最終以堆疊式架構勝出。

“造成這個結局的一個重要原因是溝槽式架構面臨幾個技術難點:其一是溝槽式只限于單面表面積,堆疊式可用雙面表面積,溝槽式架構很快就達到了刻蝕深寬比極限;其二是高介質材料的應用受到溝槽式中高溫制程的限制。傳統(tǒng)材料SiO ,Al2O3可以在高溫下有低漏電的特性,因此比較適合溝槽式架構,但像HfO,ZrO這些高介解常數(shù)材料漏電在高于600℃的溫度下增加許多,不能用于溝槽式架構中需高溫處理的三極管制造中?!?br />
平博士還提到,在DRAM技術的演進過程中,曾經(jīng)的DRAM巨頭奇夢達提出的埋入式電柵三極管概念也給整個產業(yè)帶來巨大的貢獻。他表示,這個技術同樣是利用空間,將三極管的性能提升,這種提升隨著線寬的減少越來越被需要。而近代DRAM產品都沿用這個概念。

“回看堆疊式架構的發(fā)展歷史以及展望將來的發(fā)展趨勢就可以發(fā)現(xiàn),現(xiàn)在DRAM沿用密集排布電容及埋入式字線三極管,乃至今后3-5代DRAM”,平博士說。

DRAM未來的發(fā)展探索

在談到DRAM技術未來的發(fā)展時,平博士首先強調,DRAM是有它的極限的。我們通過改進,可以將極限推遲。如導入EUV及HKMG三極管以縮小線寬及加強外圍電路性能,就是DRAM產業(yè)的一個選擇,這在未來幾年將可以維持DRAM技術發(fā)展,滿足大數(shù)據(jù)時代的需求。

首先在EUV方面,平博士指出,EUV是繼193納米 Immersion Scanner后又一個光刻機革命。它可滿足工藝精準度在持續(xù)微縮中不斷增加的要求。而DRAM又是一個十分密集堆疊的設計,且對信號要求十分嚴格,任何小的偏離都會對信號造成損失。那就意味著EUV技術的出現(xiàn)對DRAM技術的延展有很大的作用:如將線寬進一步減少以增加存儲密度。

“EUV主要是針對陣列。但外圍線路的增強及微縮也是近來DRAM技術發(fā)展的另一個機會”,平博士補充說。

他表示,在DRAM幾乎一半的外圍線路中,有一半是邏輯線路用的。在過往,這部分的CMOS一直都是用傳統(tǒng)的SiON/Poly Si Gate堆棧的。但這個堆棧在32/28納米階段碰到了瓶頸:一方面是SiON厚度已到極限,不能再薄了;另一方面,Poly Si作為半導體材料,導電率也不足了,出現(xiàn)了嚴重的元器件性能不足。如在高端的圖顯DDR中,芯片性能速度明顯不足,這就需要引進更先進的HKMG CMOS提供更好性能。隨著DDR5的到來,HKMG CMOS的使用會越來越現(xiàn)實。

“由于DRAM制程中有電容這一段,因此HGMG制程的選擇需與電容制程匹配。所謂的Gate First制程就可被選擇為DRAM邏輯線路CMOS制程”,平博士說。他進一步表示,通過引入HKMG,不但可以推動存儲密度進一步提高,接口速度也同步獲得了提升。

“為了繼續(xù)發(fā)展DRAM技術,我們還需要在新材料、新架構上進行更多探索,并與相關企業(yè)進行合作”,平博士說。他最后指出,回顧過去幾十年的DRAM發(fā)展,證明IDM是發(fā)展DRAM的必然選擇,而這正是長鑫存儲從一開始建立就堅持的。

從平博士的介紹中我們可以看到,基于授權所得的奇夢達相關技術和從全球招攬的極具豐富經(jīng)驗的人才,長鑫存儲借助先進的機臺已經(jīng)把原本奇夢達的46納米 DRAM平穩(wěn)推進到了10納米級別。公司目前也已然開始了在EUV、HKMG和GAA等目前還沒有在DRAM上實現(xiàn)的新技術探索。

正如前面所述,這些技術將會給DRAM帶來一個巨大的提升。這也會讓長鑫存儲有機會從一個技術追隨者轉變?yōu)橐粋€技術并駕齊驅、甚至全球領先的中國DRAM玩家。

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