加州桑尼維爾2012年2月22日電 – 領(lǐng)先的無線測試解決方案供應(yīng)商萊特波特 （LitePoint） 發(fā)布了一款專為 Altair Semiconductor 的 FourGee?-3100/6200 TDD/FDD LTE 手機芯片設(shè)計的新測試解決方案。萊特波特與 Altair 合作創(chuàng)建的 IQxstream? 手機測試平臺是首個在時分雙工 （TDD） 和頻分雙工 （FDD） 兩種模式下提供 FourGee?-3100/6200 LTE 芯片所有四個設(shè)備平行驗證與校準的平臺。該新解決方案提供了單個測試儀能夠提供的最高吞吐量，使 Altair 的客戶能夠以較低的支持成本快速地實現(xiàn)其 LTE 手機產(chǎn)品的大批量生產(chǎn)。

　　Altair 聯(lián)合創(chuàng)始人兼營銷與業(yè)務(wù)開發(fā)部副總裁 Eran Eshed 表示：“作為首批為 TDD 和 FDD提供 LTE 支持的芯片公司之一，我們的生產(chǎn)合作伙伴必須保持輕松高效地提升生產(chǎn)水平的能力。從萊特波特獲得一個全面的測試解決方案有助于 Altair 更快地與更多客戶進行接洽，從而同時獲得更多商機。此外，萊特波特的本地團隊為我們的客戶與合作伙伴提供了支持，幫助他們迅速投入生產(chǎn)。”

　　開發(fā)專為特定芯片定制的測試解決方案是萊特波特為其客戶提供的一個優(yōu)勢。萊特波特營銷部高級總監(jiān) John Lukez 表示：“萊特波特擁有通過與 Altair 這樣領(lǐng)先的芯片公司合作提供高吞吐量、準備就緒的測試解決方案的公認良好記錄。我們的解決方案使各個公司能夠以較低的支持成本在較少的時間內(nèi)實現(xiàn)芯片的量產(chǎn)?！?/p>