相對于并行來說，串行測試有優(yōu)勢也有劣勢。同樣長度，串行線所需要的銅只是并行線的幾分之一。但是，在串行線上必須以更快的速率發(fā)送數(shù)據(jù)以達(dá)到在每個并行線上以較低速率發(fā)送數(shù)據(jù)同樣的數(shù)據(jù)吞吐量。依次類推，測試也是相似的。通過縮短個體構(gòu)件的測試時間、系統(tǒng)初始化時間、固件裝載和物理層測試時間的方式，串行測試的時間可以縮短。另外也可以嘗試在同一時間做多個并行測試，或者兩者兼有。

　　理想情況下，測試順序如圖3。四項中的三項是并行測試，唯一被延遲的一項是由于測試時會對另外一個產(chǎn)生頻譜侵占（如：WiFi和藍(lán)牙）。

　　實際上，有兩種方法可以達(dá)到圖3的效果。一是有幾條測試線，每條測試線測試數(shù)種模塊中的一種，形成流水線測試（圖4）。

　　測試時間通過增加更多的測試線和設(shè)備進(jìn)一步優(yōu)化，但購置成本會增加，而測試依然按照串行方式進(jìn)行。此外，多次的操作步驟不僅需要額外的時間，且增加了產(chǎn)品損壞的概率。

　　另一個選擇是并行測試方案，同時測試設(shè)備的多種模式（圖5）。

　　采用雙頭測試可進(jìn)一步減少測試儀器空閑時間同時增加每個測試儀器的吞吐量。

　　并行測試的挑戰(zhàn)之一就是消除同時進(jìn)行2項或者2項以上測試時的相互干擾。最佳的測試方案，需要芯片制造商和測試系統(tǒng)提供商合作以降低延時以及其它因素。另一個影響因素是IC解決方案本身，單個芯片系統(tǒng)通常有一個多媒體處理器控制與無線功能的交互，而使用分離的無線模塊允許更直接地訪問無線功能，有助于開發(fā)多通信測試方案。

　　Multicom 測試和測試儀器

　　正如單一無線模塊產(chǎn)品已經(jīng)演變成Multicom產(chǎn)品，單一無線模塊準(zhǔn)測試演變成Multicom測試。在Multicom設(shè)備中，各種無線模塊交互實現(xiàn)核心及外圍設(shè)備，如鍵盤、顯示器、電源及其他功能控制等。用戶面對的是一個成本較低的多功能設(shè)備。以類似的方式看Multicom測試儀器，它在一個裝置內(nèi)提供了多種無線標(biāo)準(zhǔn)的測試，內(nèi)部處理器、內(nèi)存、通信接口、數(shù)字化和信號發(fā)生的硬件都是共享的，其成本低于用多個單通信標(biāo)準(zhǔn)測試儀組合而成的測試系統(tǒng)。

　　正如Multicom設(shè)計者們必需處理在多模式之間的相互干擾一樣，一臺Multicom測試儀器也應(yīng)該提供并行測試選項，且不會因測試的相互干擾而產(chǎn)生錯誤。

　　Multicom設(shè)備的發(fā)展

　　如果在測試Multicom設(shè)備上沒有重大突破的話，多種無線模塊能在多大程度上被集成到一個設(shè)備里，就有多大程度的測試成本限制。如果測試時間線性增長，測試成本也會線性增加，產(chǎn)品成本就會增加。Multicom產(chǎn)品制造商也許只能選擇減少無線功能以避免上述問題。

　　進(jìn)行流水線和并行測試，再結(jié)合可以縮短單個部件測試時間的新技術(shù)，減少測試時間線性增長是可以做到的。這樣手持設(shè)備制造商就可以根據(jù)市場需求在設(shè)備中添加任意多的任意功能。